通过在半导体微芯片上进行电斑点印迹检测法分辩单核苷酸多态性制造技术

本发明专利技术公开了一种利用硅微芯片上的电路快速检测单核苷酸多态性的方法。该方法能在将ＤＮＡ电协助转运、浓缩和结合到所选电极（测试位点）后，准确地辨别扩增好的ＤＮＡ样品。所述测试位点构成规则的样品阵列，后者可利用包含野生型序列和错配序列这两种标记报告分子的内部控制来加以分辨。利用该方法分辨了甘露糖结合蛋白的复杂四等位基因ＳＮＰ。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种利用有多个测试位点的电寻址微芯片来检测单核苷酸多态性的方法，包括：ｉ． 提供至少一个含有至少一种目标靶核酸的样品，所述靶核酸含有至少一个ＳＮＰ；ｉｉ． 任选将所述靶核酸作扩增反应从而形成扩增产物；ｉｉｉ． 使所述靶核酸或所述 扩增产物电寻址到微芯片的特定测试位点；ｉｖ． 将所述靶核酸或所述扩增产物捕获到所述测试位点；ｖ． 提供ＳＮＰ特异性探针并使该探针与所述靶核酸或所述扩增产物进行电杂交以形成杂交复合物；ｖｉ． 对所述杂交复合物实行电严紧条件从而使杂 交复合物去稳定，其中杂交复合物含有至少一个在所述靶核酸或扩增产物与探针之间形成的错配；以及ｖｉｉ． 在（ｖｉ）的电严紧之后检测保持稳定的杂交复合物。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：帕特里克N吉勒斯，帕特里克J狄龙，戴维J吴，查尔斯B福斯特，斯蒂芬J差诺克，
申请(专利权)人：内诺金有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]