一种硬盘背板的测试治具制造技术

本发明专利技术提供了一种硬盘背板的测试治具，包括接口单元、以及设置于测试治具内部的单片机、多个端口扩展单元和多个切换单元；接口单元包括多个接口组和第一通信接口；其中，接口组与待测硬盘背板上的一个硬盘的接口组对应连接；切换单元与接口组相对应：切换单元的一端与对应的接口组连接，另一端分别与单片机和对应的端口扩展单元连接；端口扩展单元与单片机连接，用于将从切换单元接收的多路数据转换为单路数据并输出至单片机；单片机通过第一通信接口与外设电子设备连接，用于依据测试程序控制多个切换单元之间的切换，从而实现对待测硬盘背板上的不同的硬盘的测试。本发明专利技术成本低，测试时间短，测试覆盖率高，测试风险低。

A test tool for hard disk backboard

The invention provides a test fixture for a hard disk backplane, including interface unit, and is arranged on the testing jig internal microcontroller, multiple port expansion unit and a plurality of switching unit; interface unit includes a plurality of interface group and a first communication interface; the interface group and interface group a hard disk on the backplane test the corresponding connection; the switching unit and the corresponding interface: Interface Group end of the switching unit is connected with the corresponding, the other end connected to the MCU and the corresponding port expansion unit connection port; the expansion unit connected with the single chip microcomputer for multi-channel data received from the switching unit into a single data and output to the microcontroller through the MCU; the first communication interface connected with the peripheral electronic equipment, according to the test program control switch between multiple switching unit, so as to realize the hard to measure The test of different hard disks on the plate backboard. The invention has the advantages of low cost, short test time, high test coverage and low test risk.

【技术实现步骤摘要】
一种硬盘背板的测试治具
本专利技术涉及一种服务器功能测试
，特别是涉及一种应用于服务器的硬盘背板的测试治具。
技术介绍
随着社会及经济的高速发展，个人及企业对计算机的使用越来越多。近年来，伴随着云存储、大数据等新型技术的发展，企业对计算机的数据存储功能提出来越来越高的要求。与之相对应，计算机生产厂家根据用户的实际需求，增加了计算机中存储数据的硬盘的数量。由于硬盘与主板相连接的中间桥梁是硬盘背板，故相应的多接口硬盘背板也应运而生。改正多接口的硬盘背板能同时访问多块硬盘，实现计算机中多块硬盘数据的同时访问，满足了企业的需求。在硬盘背板出厂前，要对硬盘背板进行检验，以确保生产出的硬盘背板符合出厂标准。目前，计算机生产厂家均利用服务器主板，插上相应数量的CPU、内存、硬盘，再配上专用电源、显示器、键盘等配套器件，运行相应的测试程式，从而实现对多接口硬盘背板的测试。但是，采用这种硬盘背板测试方法，存在以下缺点：1)测试用的治具成本过高：由于现有的测试方法中，需要配合一系列的器件，如：服务器主板、CPU、内存、硬盘和电源等等；通常情况下，如果测试一个可插24个SAS(SerialAttachedSCSI，串行链接SCSI)硬盘的硬盘背板，测试需用到的器件的费用大约要12万元左右；如果测试一个可插10个固态硬盘的硬盘背板，测试需用到的器件的费用大约要15万元左右；2)测试时间长：通常情况下，如果测试一个可插24个SAS硬盘的硬盘背板，测试需耗时13分钟；如果测试一个可插10个固态硬盘的硬盘背板，测试需耗时18分钟；3)测试覆盖率低：采用现有的测试方法的测试覆盖率在85％左右，不能覆盖到同一功能的PIN脚的空焊，如供电和接地，这些PIN脚的空焊会严重影响到服务器长期稳定的运行；4)误测和漏测的风险高：测试在启动后，仍然需要测试人员参与判断，这就存在误测的可能性，例如，LED灯工作状态的判定等。而且，测试过程中，需要手动刷入待测硬盘背板的信息，这就存在刷A测B的可能性，从而导致了漏测。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种应用于服务器的硬盘背板的测试治具，用于解决现有技术中服务器的多接口的硬盘背板的测试效率低、成本高、覆盖不全面的问题。为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种硬盘背板的测试治具，包括：接口单元、以及设置于所述测试治具内部的单片机、多个端口扩展单元和多个切换单元；所述接口单元包括多个接口组和第一通信接口；其中，所述接口组与所述待测硬盘背板上的一个硬盘的接口组对应连接；所述切换单元与所述接口组相对应：所述切换单元的一端与对应的所述接口组连接，另一端分别与所述单片机和对应的所述端口扩展单元连接；所述端口扩展单元与所述单片机连接，用于将从所述切换单元接收的多路数据转换为单路数据并输出至所述单片机；所述单片机通过所述第一通信接口与外设电子设备连接，用于依据测试程序控制多个所述切换单元之间的切换，从而实现对所述待测硬盘背板上的不同的硬盘的测试。于本专利技术的一实施例中，多个所述接口组设置于所述测试治具的上面板处，所述第一通信接口设置于所述测试治具的侧板处。于本专利技术的一实施例中，所述外设电子设备包括PC或树莓派，且通过所述第一通信接口与所述单片机之间实现数据交互，交互数据包括所述测试程序和测试数据。于本专利技术的一实施例中，所述单片机包括对所述待测硬盘背板进行测试的测试电路；根据实际的测试需求，所述测试电路和所述测试程序是可调节的。于本专利技术的一实施例中，所述接口单元还包括设置于所述测试治具的侧板处的电源接口和第二通信接口组；其中，所述电源接口与所述待测硬盘背板，用于为所述待测硬盘背板供电；所述第二通信接口组与所述待测硬盘背板的通信接口组连接，且所述第二通信接口组包括：I2C接口、SPI接口、SGPIO接口、USB接口和网络接口。于本专利技术的一实施例中，所述单片机还与所述第二通信接口组连接，用于实现对所述待测硬盘背板的通信接口组的测试。于本专利技术的一实施例中，所述接口组包括硬盘接口组、LED接口组和数据读写接口组；所述硬盘接口组，与所述待测硬盘背板上对应硬盘的硬盘接口组连接；所述LED接口组，与所述待测硬盘背板上对应硬盘的LED测试信号接口组连接；所述数据读写接口组，与所述待测硬盘背板上的对应硬盘的数字读写接口组连接。于本专利技术的一实施例中，所述切换单元中，来自于所述LED接口组的数据被直接传输至所述单片机；来自于所述数据读写接口的数据组被传输至对应的所述端口扩展单元；来自于所述硬盘接口组的数据分别被传输至所述单片机和对应的所述端口扩展单元。于本专利技术的一实施例中，所述端口扩展单元被集成在对应的所述切换单元上。于本专利技术的一实施例中，所述测试治具还包括设置于所述测试治具侧板处的电源插座和电源开关，所述电源插座用于为所述测试治具提供电源；所述电源开关用于控制所述测试治具的电源的开启和/或关闭。如上所述，本专利技术的一种应用于服务器的硬盘背板的测试治具，旨在采用单片机对硬盘背板进行测试，由于单片机的测试用程序是根据实际的测试需求而进行设计，因此，本专利技术的测试治具对硬盘背板的测试更加灵活，且不受硬盘背板的类型的限制，应用更加广泛；并且，本专利技术通过将切换单元和端口扩展单元的配合使用，解决了单片机的I/O接口数量有限的问题，实现了单片机对不同的硬盘背板的测试。本专利技术还具有以下有益技术效果：1)本专利技术大大降低了测试治具的成本：测试一个可插24个SAS硬盘的硬盘背板，测试治具的费用从12万元降至5万元左右；测试一个可插10个固态硬盘的硬盘背板，测试治具的费用从15万元降低至8万元左右；2)降低了测试时间：一片测试背板的测试时间不超过5分钟；3)提升了测试覆盖率：测试覆盖率达到了100％；4)降低了测试风险：测试启动后，不再需要测试人员参与判断，避免了误测；且测试背板的新型是自动刷入的，漏测的可能性也大大降低了。附图说明图1显示为本专利技术实施例公开的一种硬盘背板的测试治具的原理结构示意图。图2显示为本专利技术实施例公开的一种硬盘背板的测试治具的上面板的排布示意图。图3显示为本专利技术实施例公开的一种硬盘背板的测试治具的前侧板的排布示意图。图4显示为本专利技术实施例公开的一种硬盘背板的测试治具的后侧板的排布示意图。图5显示为本专利技术实施例公开的一种硬盘背板的测试治具的内部的原理结构示意图。元件标号说明100接口单元110接口组111硬盘接口组112LED接口组113数据读写接口组120第一通信接口130电源接口140第二通信接口组200单片机300切换单元400端口扩展单元510电源插座520电源开关具体实施方式以下由特定的具体实施例说明本专利技术的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点及功效。请参阅附图。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种硬盘背板的测试治具，其特征在于，包括：接口单元、以及设置于所述测试治具内部的单片机、多个端口扩展单元和多个切换单元；所述接口单元包括多个接口组和第一通信接口；其中，所述接口组与所述待测硬盘背板上的一个硬盘的接口组对应连接；所述切换单元与所述接口组相对应：所述切换单元的一端与对应的所述接口组连接，另一端分别与所述单片机和对应的所述端口扩展单元连接；所述端口扩展单元与所述单片机连接，用于将从所述切换单元接收的多路数据转换为单路数据并输出至所述单片机；所述单片机通过所述第一通信接口与外设电子设备连接，用于依据测试程序控制多个所述切换单元之间的切换，从而实现对所述待测硬盘背板上的不同的硬盘的测试。

【技术特征摘要】
1.一种硬盘背板的测试治具，其特征在于，包括：接口单元、以及设置于所述测试治具内部的单片机、多个端口扩展单元和多个切换单元；所述接口单元包括多个接口组和第一通信接口；其中，所述接口组与所述待测硬盘背板上的一个硬盘的接口组对应连接；所述切换单元与所述接口组相对应：所述切换单元的一端与对应的所述接口组连接，另一端分别与所述单片机和对应的所述端口扩展单元连接；所述端口扩展单元与所述单片机连接，用于将从所述切换单元接收的多路数据转换为单路数据并输出至所述单片机；所述单片机通过所述第一通信接口与外设电子设备连接，用于依据测试程序控制多个所述切换单元之间的切换，从而实现对所述待测硬盘背板上的不同的硬盘的测试。2.根据权利要求1所述的硬盘背板的测试治具，其特征在于：多个所述接口组设置于所述测试治具的上面板处，所述第一通信接口设置于所述测试治具的侧板处。3.根据权利要求1所述的硬盘背板的测试治具，其特征在于：所述外设电子设备包括PC或树莓派，且通过所述第一通信接口与所述单片机之间实现数据交互，交互数据包括所述测试程序和测试数据。4.根据权利要求1所述的硬盘背板的测试治具，其特征在于：所述单片机包括对所述待测硬盘背板进行测试的测试电路；根据实际的测试需求，所述测试电路和所述测试程序是可调节的。5.根据权利要求1所述的硬盘背板的测试治具，其特征在于：所述接口单元还包括设置于所述测试治具的侧板处的电源接口和第二通信接口组；其中，所述电源...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙广文，赵铁帅，孟祥忙，
申请(专利权)人：达丰上海电脑有限公司，达功上海电脑有限公司，达人上海电脑有限公司，达利上海电脑有限公司，达群上海电脑有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31