ICT测试治具待测板定位机构制造技术

本实用新型专利技术提供一种ICT测试治具待测板定位机构，包括定位轴、套设在定位轴上的支撑套、及安装在支撑套中的弹性元件，所述定位轴的上端设有锥形头，所述弹性元件的上下两端分别与定位轴和支撑套相接触。由于本实用新型专利技术中定位轴利用其锥形头与待测板的定位孔相配合，实现对待测板的定位，且弹性元件的上下两端分别与定位轴和支撑套相接触，以利用弹性元件给定位轴施加向上的弹力，使得定位轴具有上下浮动的能力，在取放待测板时，即便在待测板出现相应的倾斜，或定位孔的孔径、孔距等发生相应变化时，锥形头仍能与定位孔实现良好的配合，避免两者间出现阻卡等现象，方便了待测板的取放工作，并提高了待测板的取放效率、及测试效率。

ICT test fixture plate positioning mechanism to be tested

【技术实现步骤摘要】
ICT测试治具待测板定位机构
本技术涉及一种定位机构，特别是涉及一种ICT测试治具待测板定位机构。
技术介绍
ICT测试治具通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。组件类可检查出组件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路，组件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。测试的故障直接定位在具体的组件、器件管脚、网络点上，故障定位准确。采用过程控制的自动化测试，操作简单，测试快捷迅速，单板的测试时间一般在几秒至几十秒。同时，现有技术中ICT自动化测试取放板时，待测板使用传统的金属固定式柱子固定，造成待测板取放困难，影响待测板取放速度。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本技术要解决的技术问题在于提供一种便于取放待测板的ICT测试治具待测板定位机构。为实现上述目的，本技术提供一种ICT测试治具待测板定位机构，包括定位轴、套设在定位轴上的支撑套、及安装在支撑套中的弹性元件，所述定位轴的上端设有锥形头，所述弹性元件的上下两端分别与定位轴和支撑套相接触。进一步地，所述弹性元件为弹簧，所述弹簧套设在定位轴上，且所述定位轴的上端设有上凸缘，所述支撑套的下端设有下凸缘，所述弹簧的上端与上凸缘相接触，所述弹簧的下端与下凸缘相接触。进一步地，所述定位轴的下端安装有限位卡簧，且所述限位卡簧用于与支撑套的下端面相接触。进一步地，所述限位卡簧为E型卡簧。进一步地，所述定位轴的下端设有限位槽，所述限位卡簧安装在限位槽中。进一步地，所述锥形头呈圆锥形。进一步地，所述支撑套的上端设有外凸缘。如上所述，本技术涉及的ICT测试治具待测板定位机构，具有以下有益效果：在测试过程中，将待测板向下放入ICT测试治具，且待测板上的定位孔对准定位轴的锥形头，定位孔沿锥形头向下滑动，且在锥形头与定位孔配合好后，即锥形头的侧壁与定位孔的侧壁接触良好后，实现对待测板沿水平方向上的定位，使得待测板在水平方向上处于设定位置，从而能对待测板进行相应的测试，测试结束后，再将待测板向上取出。由于本技术中定位轴利用其锥形头与待测板的定位孔相配合，实现对待测板的定位，且弹性元件的上下两端分别与定位轴和支撑套相接触，以利用弹性元件给定位轴施加向上的弹力，使得定位轴具有上下浮动的能力，在取放待测板时，即便在待测板出现相应的倾斜，或定位孔的孔径、孔距等发生相应变化时，锥形头仍能与定位孔实现良好的配合，避免两者间出现阻卡等现象，方便了待测板的取放工作，并提高了待测板的取放效率、及测试效率。附图说明图1为本技术中ICT测试治具待测板定位机构的结构示意图。图2为本技术中ICT测试治具待测板定位机构的俯视图。图3为本技术中定位轴的结构示意图。图4为本技术中定位轴的俯视图。图5为本技术中支撑套的结构示意图。图6为本技术中支撑套的俯视图。元件标号说明1定位轴11锥形头12上凸缘13限位槽2支撑套21下凸缘22外凸缘3弹性元件31弹簧4限位卡簧具体实施方式以下由特定的具体实施例说明本技术的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点及功效。须知，本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
所能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等用语，亦仅为便于叙述明了，而非用以限定本技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当亦视为本技术可实施的范畴。如图1至图6所示，本技术提供一种ICT测试治具待测板定位机构，包括定位轴1、套设在定位轴1上的支撑套2、及安装在支撑套2中的弹性元件3，定位轴1的上端设有锥形头11，弹性元件3的上下两端分别与定位轴1和支撑套2相接触。在测试过程中，将待测板向下放入ICT测试治具，且待测板上的定位孔对准定位轴1的锥形头11，定位孔沿锥形头11向下滑动，且在锥形头11与定位孔配合好后，即锥形头11的侧壁与定位孔的侧壁接触良好后，实现对待测板沿水平方向上的定位，使得待测板在水平方向上处于设定位置，从而能对待测板进行相应的测试，测试结束后，再将待测板向上取出。由于本技术中定位轴1利用其锥形头11与待测板的定位孔相配合，实现对待测板的定位，且弹性元件3的上下两端分别与定位轴1和支撑套2相接触，以利用弹性元件3给定位轴1施加向上的弹力，使得定位轴1具有上下浮动的能力，在取放待测板时，即便在待测板出现相应的倾斜，或定位孔的孔径、孔距等发生相应变化时，锥形头11仍能与定位孔实现良好的配合，避免两者间出现阻卡等现象，方便了待测板的取放工作，并提高了待测板的取放效率、及测试效率。本实施例中锥形头11的最大直径大于定位孔的孔径。如图1、图3、及图5所示，本实施例中弹性元件3为弹簧31，弹簧31套设在定位轴1上，且定位轴1的上端设有上凸缘12，支撑套2的下端设有下凸缘21，弹簧31的上端与上凸缘12相接触，弹簧31的下端与下凸缘21相接触。上凸缘12具体由定位轴1的外侧壁向外延伸，下凸缘21具体由支撑套2的内侧壁向内延伸。弹簧31套设在支撑套2的内侧壁中，且弹簧31套设在定位轴1的外侧壁上。本实施例中支撑套2可固定安装在ICT测试治具的机架上等。这样，弹簧31将给定位轴1施加向上的弹力。如图1所示，本实施例中定位轴1的下端安装有限位卡簧4，且限位卡簧4用于与支撑套2的下端面相接触。在组装过程中，定位轴1的下端向下穿过支撑套2，且定位轴1的下端安装限位卡簧4，以利用限位卡簧4与支撑套2的下端面的接触作用，限制定位轴1相对于支撑套2向上移动的行程，防止定位轴1从支撑套2中脱离出来。本实施例中限位卡簧4具体为E型卡簧。且如图1和图3所示，本实施例中定位轴1的下端设有限位槽13，限位卡簧4安装在限位槽13中。如图2和图3所示，本实施例中锥形头11具体呈圆锥形。定位轴1的横截面呈圆形。另外，如图5所示，本实施例中支撑套2的上端设有外凸缘22。该外凸缘22由支撑套2的外侧壁向外延伸。本实施例中ICT测试治具待测板定位机构涉及SMT制造领域。本待测板定位机构将柱子设计成锥形的结构，且定位轴1上加上弹簧31，以利用弹簧31给定位轴1施加向上的弹力，使得定位轴1能上下浮动，定位轴1可称作弹性定位轴，锥形头11也可称作弹性锥形头。这样，当待测板放入ICT测试治具时，待测板的定位孔对准弹性锥形头，锥形头11的直径与定位孔匹配后，靠待测板自身重量将弹本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种ICT测试治具待测板定位机构，其特征在于，包括定位轴(1)、套设在定位轴(1)上的支撑套(2)、及安装在支撑套(2)中的弹性元件(3)，所述定位轴(1)的上端设有锥形头(11)，所述弹性元件(3)的上下两端分别与定位轴(1)和支撑套(2)相接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种ICT测试治具待测板定位机构，其特征在于，包括定位轴(1)、套设在定位轴(1)上的支撑套(2)、及安装在支撑套(2)中的弹性元件(3)，所述定位轴(1)的上端设有锥形头(11)，所述弹性元件(3)的上下两端分别与定位轴(1)和支撑套(2)相接触。


2.根据权利要求1所述ICT测试治具待测板定位机构，其特征在于，所述弹性元件(3)为弹簧(31)，所述弹簧(31)套设在定位轴(1)上，且所述定位轴(1)的上端设有上凸缘(12)，所述支撑套(2)的下端设有下凸缘(21)，所述弹簧(31)的上端与上凸缘(12)相接触，所述弹簧(31)的下端与下凸缘(21)相接触。


3.根据权利要求1所述ICT测试治具待测...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾军新，陈日基，
申请(专利权)人：达丰上海电脑有限公司，达功上海电脑有限公司，达人上海电脑有限公司，达利上海电脑有限公司，达群上海电脑有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31