用于颗粒密度检测的激光传感器制造技术

本发明专利技术描述了一种用于颗粒密度检测的激光传感器模块(100)。所述激光传感器模块(100)包括至少一个第一激光器(110)、至少一个第一检测器(120)以及至少一个电驱动器(130)。所述第一激光器(110)适于对由所述至少一个电驱动器(130)提供的信号做出反应而发射第一激光。所述至少一个第一检测器(120)适于检测所述第一激光器(110)的第一激光腔内的光波的第一自混合干涉信号。所述第一自混合干涉信号是由重新进入所述第一激光腔的第一反射激光引起的，所述第一反射激光是被接收所述第一激光的至少部分的颗粒所反射的。所述激光传感器模块(100)适于减少对所述颗粒的多重计数。本发明专利技术还描述了相关的方法和计算机程序产品。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于颗粒密度检测的激光传感器
本专利技术涉及使用自混合干涉进行颗粒密度检测的激光传感器或激光传感器模块以及相关的颗粒密度检测方法。
技术介绍
CN102564909A公开了激光自混合多物理参数测量方法，并且公开了一种针对大气颗粒物的激光自混合多物理参数测量设备。激光自混合多物理参数测量设备包括微芯片激光器、准直透镜、分束器、会聚透镜、光电检测器、放大器、数据采集卡以及谱分析仪。所描述的方法和设备是复杂且昂贵的。US2012/0242976A1公开了一种设备，包括：发射元件，其用于发射被称为发射光束的激光束；聚焦元件，其用于将所述发射光束聚焦在预定焦距(D)处；接收元件，其用于接收被空气中的颗粒反射之后的所述发射光束，这种光束称为反射光束；发送元件，用于将所述发射光束与所述反射光束之间发生的干涉信号发送到信号处理器，以便从中推导出所述颗粒的速度。所述发射元件包括激光二极管，并且所述接收元件通过自混合与所述激光二极管进行组合。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种改进的用于颗粒密度检测的激光传感器模块。根据第一方面，提出了一种用于颗粒密度检测的激光传感器模块。所述激光传感器模块包括至少一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于颗粒密度检测的激光传感器模块(100)，所述激光传感器模块(100)包括至少一个第一激光器(110)、至少一个第一检测器(120)以及至少一个电驱动器(130)，其中，所述第一激光器(110)适于对由所述至少一个电驱动器(130)提供的信号做出反应而发射第一激光，其中，所述至少一个第一检测器(120)适于检测所述第一激光器(110)的第一激光腔内的光波的第一自混合干涉信号，其中，所述第一自混合干涉信号是由重新进入所述第一激光腔的第一反射激光引起的，所述第一反射激光是被接收所述第一激光的至少部分的颗粒所反射的，其中，所述激光传感器模块(100)适于减少对所述颗粒的多重计数，其特征在于，所...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.07.30 EP 15179046.61.一种用于颗粒密度检测的激光传感器模块(100)，所述激光传感器模块(100)包括至少一个第一激光器(110)、至少一个第一检测器(120)以及至少一个电驱动器(130)，其中，所述第一激光器(110)适于对由所述至少一个电驱动器(130)提供的信号做出反应而发射第一激光，其中，所述至少一个第一检测器(120)适于检测所述第一激光器(110)的第一激光腔内的光波的第一自混合干涉信号，其中，所述第一自混合干涉信号是由重新进入所述第一激光腔的第一反射激光引起的，所述第一反射激光是被接收所述第一激光的至少部分的颗粒所反射的，其中，所述激光传感器模块(100)适于减少对所述颗粒的多重计数，其特征在于，所述激光传感器模块(100)适于将对颗粒的检测中断预定时间段，其中，所述预定时间段被选择为使得对所述颗粒的多重检测被减少，以便减少对所述颗粒的多重计数，所述激光传感器模块还包括控制器(140)，其中，所述控制器(140)适于评价由所述传感器(120)提供的所述第一自混合干涉信号，以便对所述颗粒进行计数，并且其中，所述控制器(140)适于中断对颗粒的所述检测，其中，所述控制器(140)适于将对由所述传感器(120)提供的所述第一自混合干涉信号的评价中断所述预定时间段，其中，所述控制器(140)适于在检测到所述颗粒时生成控制信号，并且其中，所述控制器(140)还适于在检测到所述颗粒之后将对颗粒的所述检测中断所述预定时间段。2.根据权利要求1所述的激光传感器模块(100)，其中，所述至少一个电驱动器(130)适于借助于所述信号来周期性地中断对颗粒的所述检测。3.根据权利要求1所述的激光传感器模块(100)，其中，所述控制器(140)适于将所述控制信号传送到所述电驱动器(130)，并且其中，所述电驱动器(130)适于将第一激光的发射中断所述预定时间段。4.根据权利要求1或2中的任一项所述的激光传感器模块(100)，其中，所述激光传感器模块(100)包括至少第一光学设备(150)，其中，所述第一光学设备(150)适于将所述第一激光聚焦到第一聚焦区域(155)以用于检测所述颗粒。5.根据权利要求1或2所述的激光传感器模块(100)，其中，所述激光传感器模块(100)包括激光器阵列(200)，所述激光器阵列包括至少所述第一激光器(100)和第二激光器(111)，其中，所述第二激光器(111)适于使得能够借助于由所述第二激光器(111)发射的第二激光所引起的第二自混合干涉信号对所述颗粒进行独立检测，并且其中，所述控制器(140)适于通过评价至少所述第一自混合干涉信号和所述第二自混合干涉信号来减少对所述颗粒的多重计数。6.根据权利要求5所述的激光传感器模块(100)，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·M·范德莱，J·W·海尔米格，J·H·M·斯普鲁伊特，H·门希，C·R·龙达，K·卡拉卡亚，
申请(专利权)人：皇家飞利浦有限公司，
类型：发明
国别省市：荷兰,NL