The invention provides a back scattering model generation method, method of removing back scattering artifacts and imaging system, the backscattering model generation method includes preset shooting parameters, and generate X ray in different voltage, the first flat panel detector separately in shooting imaging and imaging objects, first corrected image group step S1 preset shooting parameters; the same, and in step S1 X ray generated the same voltage, using second flat panel detector respectively treat imaging object images and image correction processing, second groups according to the formula;
【技术实现步骤摘要】
背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统
本专利技术属于X射线平板探测器领域,特别是涉及一种背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统。
技术介绍
平板探测器是一种用于放射成像的影像设备,其结构组成由闪烁体、TFT感光面板、PCBA(信号读取及传输电路)和机械结构组成,在临床上主要应用于放射诊断成像。平板探测器的成像原理如下:X射线透过被检物体后入射到探测器表面,闪烁体将X射线转换为可见光,TFT感光面板吸收可见光并转换为光电荷,并通过TFT开关阵列及积分运放电路将光电荷转换为电平信号,由AD电路转换为数字信号并传输至上位机,实现数字图像显示。由于闪烁体对X射线不能完全吸收,以400um厚的CsI为例,在70kVX射线的能谱辐射下,闪烁体对X射线的吸收率约为85%,随着X射线能量的提高,其对X射线的吸收率将不断下降。因此,始终会存在部分X射线没有被闪烁体吸收,该部分X射线透过闪烁体后直接穿透平板探测器的TFT感光面板、PCBA及机械结构件,在该过程中,X射线会吸收,也会发生散射,当散射角度大于90度时成为背散射,背散射线被闪烁体吸收后又重新转换为信号并叠加在当前图像上,形成伪影,由此形成背散射伪影。现有技术如专利公开号为US20140042331A1的美国专利,是通过在TFT感光面板与PCBA之间增加一层均匀平整的铅橡胶,来防止背散射,从而实现去除图像的背散射伪影;但在平板探测器中增加一层铅橡胶,不仅增加了平板探测器的制造成本,而且还增加了平板探测器的重量,限制了平板探测器的便携性。鉴于此,有必要设计一种新的背散射模型生成方法、去除背散射 ...
【技术保护点】
一种背散射模型生成方法,其特征在于,所述生成方法包括:步骤S1:预设拍摄参数,并在不同X射线产生电压下,采用第一平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理,得到第一校正图像组,其中,所述第一校正图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个带有背散射伪影的第一校正图像;步骤S2:预设同步骤S1相同的拍摄参数,并在同步骤S1相同的X射线产生电压下,采用第二平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理,得到第二校正图像组,其中,所述第二校正图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个未带背散射伪影的第二校正图像;步骤S3:根据公式
【技术特征摘要】
1.一种背散射模型生成方法,其特征在于,所述生成方法包括:步骤S1:预设拍摄参数,并在不同X射线产生电压下,采用第一平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理,得到第一校正图像组,其中,所述第一校正图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个带有背散射伪影的第一校正图像;步骤S2:预设同步骤S1相同的拍摄参数,并在同步骤S1相同的X射线产生电压下,采用第二平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理,得到第二校正图像组,其中,所述第二校正图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个未带背散射伪影的第二校正图像;步骤S3:根据公式得到每一X射线产生电压所对应的背散射分布,从而得到由多个背散射分布组成的背散射模型;其中,Psn为一X射线产生电压所对应的背散射分布,P1n为第一校正图像组中,与该X射线产生电压对应的带有背散射伪影的第一校正图像,P2n为第二校正图像组中,与该X射线产生电压对应的未带背散射伪影的第二校正图像。2.根据权利要求1所述的背散射模型生成方法,其特征在于,得到所述第一校正图像组的方法包括:步骤S11:在没有X射线辐射时,第一平板探测器进行采集图像,得到第一暗场图像;步骤S12:在不同X射线产生电压下,采用第一平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像,得到第一原始图像组,其中,所述第一原始图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个带有背散射伪影的第一原始图像;步骤S13:根据公式P1n=P1yn-offset_map1,得到每一X射线产生电压所对应的带有背散射伪影的第一校正图像,从而得到由多个第一校正图像组成的第一校正图像组,其中,P1n为一X射线产生电压所对应的第一校正图像,P1yn为第一原始图像组中,与该X射线产生电压所对应的第一原始图像,offset_map1为第一暗场图像。3.根据权利要求1所述的背散射模型生成方法,其特征在于,得到所述第二校正图像组的方法包括:步骤S21:在没有X射线辐射时,第二平板探测器进行采集图像,得到第二暗场图像;步骤S22:在同步骤S1相同的X射线产生电压下,采用第二平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像,得到第二原始图像组,其中,所述第二原始图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个未带背散射伪影的第二原始图像;步骤S23:根据公式P2n=P2yn-offset_map2,得到每一X射线产生电压所对应的...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄细平,
申请(专利权)人:奕瑞影像科技太仓有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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