一种TIS快速测量的方法技术

本发明专利技术公开了一种TIS快速测量的方法，该测量方法先对被测物的发射指标测试得到球面数据，再选取球面数据中发射功率最强的一点进行测试得到偏差系数，将偏差系数与其他各个测试点测得的发射功率进行运算得出各个点的初始测试功率预估值，为各个点的最小发射功率测试提供参考，无需对每个测试点都从某一固定功率开始测试，减少了测试的数据量，缩短了测试的时间，提高了测试的效率；另外，在对各个测试点进行测试过程中，若出现掉线，该方法通过上调测试信号初始功率并检测发射源与被测物的连接情况，实现初始测试功率的自动调整和掉线自动重连的功能，克服传统测试过程中掉线后需要靠复杂的人工操作的弊端，简化了测试的整个过程。

A fast method for TIS measurement

The invention discloses a method for rapidly measuring TIS, the measurement method to get data on the spherical analyte emission index test, and then select the data in a spherical point transmit power the strongest testing deviation coefficient, the transmission power of the deviation coefficient and other test points measured to compute the initial test power each point of the estimated value, provide a reference for the minimum transmission power test of various points, without the need for each test point from a fixed power at the beginning of the test, reduce the test data volume, shorten the test time, improve the efficiency of the test; in addition, on each test point in the process of testing, if dropped by this method, raised the test signal and detect the initial power emission source to connect with the measured object, to achieve the initial test power automatic adjustment and automatic disconnection The function of reconnection overcomes the disadvantages of complicated manual operation in the traditional testing process, and simplifies the whole process of testing.

【技术实现步骤摘要】
一种TIS快速测量的方法
本专利技术涉及天线测量系统
，更具体地说，它涉及一种TIS快速测量的方法。
技术介绍
在天线测量的过程中，主要对天线的发射性能和接受性能进行测试。对天线的发射性能的测试一般是对天线的全向辐射功率(即TRP)测试，而对天线的接受性能的测试一般是对天线的全向灵敏度(即TIS)测试。对天线的最小全向灵敏度的测试过程一般是以探头装置作为信号发射源而将天线作为被测物，通过探头装置从球面空间的某一点发射信号照射天线，对天线接收到的信号进行处理得出误码率。一般，探头装置发出的信号的发射功率越小，天线接收到的信号的误码率就会越高。根据CTIA(无线通信和互联网协会)制定的标准，天线的最小灵敏度是指天线接收到的信号的误码率为2.44％时该信号的发射功率。由于探头装置的初始发射功率一般是某一定值，为得到最小灵敏度的测试结果，就要多次降低探头装置的发射功率重复测试，对于球面空间的每个测试点的测试都要将探头装置的发射功率从该定值逐步降低重复调试，要将球面空间所有的测试点进行测试，整个测试的过程十分繁琐，工作量十分巨大，导致整个测试过程十分漫长，不利于快速得到测试结果。因此，亟需要一种TIS快速测量的方法来改变目前繁琐、漫长的测试步骤。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本专利技术的目的在于提供一种TIS快速测量的方法，利用该方法可以大幅缩短TIS测量的时间，提高测量的效率。为实现上述目的，本专利技术提供了如下技术方案：一种TIS快速测量的方法，包括如下步骤：S1.控制被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；S2.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向被测物发射测试信号并测试被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；S3.将预测试点的最小发射功率值该预测试点在S1步骤中测得的数据值进行运算得到偏差系数：S4.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的初始测试功率的预估值；S5.对球面空间的某一测试点利用信号发射源以该测试点的初始测试功率向被测物发射测试信号，根据信号发射源与被测物的连线情况调节信号发射源的发射功率保证信号发射源与被测物连线正常，再确定该测试点的最小发射功率；S6.对球面空间的其他测试点重复S4步骤，直至所有的测试点均被测试；S7.将测试得到的所有测试点的最小发射功率数据进行运算得到被测物的TIS测试结果。通过上述方案，可以以被测物向球面空间发射信号，测得发射信号在球面空间各个测试点处的发射功率，得到球面数据，再从球面空间中的一个测试点处向被测物发射测试信号，得出测试信号最小发射功率，将该测试点处测试到的信号发射功率与该测试点的最小发射功率进行运算得出偏差系数，将偏差系数与球面空间各个测试点处测试到信号发射功率进行运算得到各个从测试点处向被测物发射测试信号的初始测试功率的预估值，对各个点的测试可以从其预估的初始测试功率开始，而无需按照传统的测试方式对各个测试点都从某一固定的发射功率开始测试，减少了测试的数据量，避免花掉不必要的时间，从而大幅减少TIS的测试时间，提高测试效率。作为优选方案：S2步骤中选取的预测试点是球面空间中发射功率最强的一点。通过上述方案，以球面数据中功率最强的点作为预测试点，从该点向被测物发射测试信号，使发射源与被测物不容易掉线；根据功率最强点的偏差系数得到的预估灵敏度，相对准确。作为优选方案，在S4步骤之后且S5步骤之前还包括初始测试功率调整的步骤，初始测试功率调整的步骤为：(a)对被测物的接收信号进行检测，以判断发射源与被测物的连接是否掉线；(b)检测到掉线时，以一定的幅度上调发射源的信号发射功率并重复(a)步骤，直至发射源与被测物重新连线；(c)以发射源与被测物重新连线时的发射功率的实际值作为测试点的最小发射功率测试的新的初始测试功率。通过上述方案，在某一个测试点发射测试信号的初始预估功率小于被测物对于该测试点的最小灵敏度时，通过上调测试信号初始功率并检测发射源与被测物的连接情况，实现初始测试功率的自动调整和掉线自动重连的功能，克服传统测试过程中掉线后需要靠复杂的人工操作的弊端，简化了测试的整个过程。作为优选方案：信号发射源发射功率上调的幅度为5dBm。作为优选方案：所述被测物向外发射的信号的频率与所述发射源向外发射的信号的频率相等。通过上述方案，对于收发同频的信号，在RF电路里收发是相同的路径，功率与灵敏度有比较线性的对应关系，预估的准确性较高，得出的TIS结果也比较可靠；而对于收发不同频的信号，功率与灵敏度的对应关系的线性度不好，预估不准确，导致测试过程中掉线，频繁的掉线会导致测试时间变长。作为优选方案：测试信号的制式包括TD-SCDMA、TDD-LTE以及WIFI。与现有技术相比，本专利技术的具有如下优点：1.该测量方法先对被测物发出的信号在球面空间内进行发射功率测试得到球面数据，再选取球面数据中发射功率最强的一点进行最小发射功率测试并将该点的最小发射功率与该点测得的信号发射功率运算得到偏差系数，将偏差系数与其他各个测试点处测得的发射功率进行运算得出从各个点向被测物发射测试信号的初始测试功率预估值，为各个点的最小发射功率测试提供参考，而无需对每个测试点都从某一固定功率开始测试，大大减少了测试的数据量，缩短了测试的时间，提高了测试的效率；2.在某一个测试点发射测试信号的初始预估功率小于被测物对于该测试点的最小灵敏度时，通过上调测试信号初始功率并检测发射源与被测物的连接情况，实现初始测试功率的自动调整和掉线自动重连的功能，克服传统测试过程中掉线后需要靠复杂的人工操作的弊端，简化了测试的整个过程。附图说明图1为TIS测试系统的结构示意图；图2为TIS快速测量方法的流程图；图3为传统测试方法与TIS快速测试方法的对比数据表格。附图标记：1、处理装置；2、探头阵列装置；3、探头控制装置；4、信号发射与解调装置；5、辅助装置；6、微波暗室；7、转台。具体实施方式一种TIS快速测量的方法，该方法的实施基于TIS测试系统以及微波暗室6提供的测试环境。参照图1，TIS测试系统包括处理装置1，拱形的探头阵列装置2，探头控制装置3，信号发射与解调装置4，辅助装置5，转台7。其中，探头阵列装置2包括多个垂直交叉双极化探头，探头用于向外发射测信号以及接受被测物发射出的信号，探头控制装置3与探头阵列装置2上的探头连接并连接处理装置1，探头控制装置3可以控制不同方向上的探头和极化使能；信号发射与解调装置4与探头控制装置3和处理装置1连接，信号发射与解调装置4从探头阵列装置2获取采样到的信号并对采样到的信号进行解调分析或生成调制信号照射源；辅助装置5，连接被测物和处理装置1，控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；转台7用于放置被测物并带动被测物相对于探头阵列装置2做旋转；处理装置1，与探头控制装置3信号发射与解调装置4连接，处理装置1搭载有运算软件，信号发射与解调装置4将经过解调分析的采样信号发送给处理装置1，处理装置1利用其运算软件对采样数据的整体或部分进行微积分运算处理得出被测物的整体或部分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种TIS快速测量的方法，其特征是，包括如下步骤：S1.控制被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；S2.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向被测物发射测试信号并测试被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；S3.将预测试点的最小发射功率值该预测试点在S1步骤中测得的数据值进行运算得到偏差系数；S4.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的初始测试功率的预估值；S5.对球面空间的某一测试点利用信号发射源以该测试点的初始测试功率向被测物发射测试信号，根据信号发射源与被测物的连线情况调节信号发射源的发射功率保证信号发射源与被测物连线正常，再确定该测试点的最小发射功率；S6.对球面空间的其他测试点重复S4步骤，直至所有的测试点均被测试；S7.将测试得到的所有测试点的最小发射功率数据进行运算得到被测物的TIS测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种TIS快速测量的方法，其特征是，包括如下步骤：S1.控制被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；S2.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向被测物发射测试信号并测试被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；S3.将预测试点的最小发射功率值该预测试点在S1步骤中测得的数据值进行运算得到偏差系数；S4.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的初始测试功率的预估值；S5.对球面空间的某一测试点利用信号发射源以该测试点的初始测试功率向被测物发射测试信号，根据信号发射源与被测物的连线情况调节信号发射源的发射功率保证信号发射源与被测物连线正常，再确定该测试点的最小发射功率；S6.对球面空间的其他测试点重复S4步骤，直至所有的测试点均被测试；S7.将测试得到的所有测试点的最小...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈海波，韩栋，张璐，李美秀，陈源，郭蓉，
申请(专利权)人：深圳市新益技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44