芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法及系统，方法包括：获取待测芯片预定层次的版图图片；对版图图片进行坐标化处理，确定版图图片中每个点在第一坐标系的第一坐标；对待测芯片的测试图像坐标化处理，确定测试图像中每个点在第二坐标系的第二坐标；根据待测芯片的版图图片和测试图像的对应关系建立第一坐标系和第二坐标系之间的双向映射关系；根据双向映射关系对待测芯片的测试点进行识别和/或定位。通过以上方式，本发明专利技术能够在测试中实时观测芯片版图，并能够在不增加硬件成本的情况下适应不同的芯片类型和满足不同的观测需要。

The coordinate mapping method and system of the chip layout picture and the test image

The invention discloses a system and a method of coordinate mapping, image and test image chip layout method comprises: obtaining the layout picture chip to be tested on the predetermined level; layout picture coordinate processing, to determine each point layout in the first picture coordinates of the first coordinate; coordinate measuring to the test images processing chip. Second to determine the coordinates of each point in the test image in second coordinate system; establish bidirectional mapping between the first and second coordinate systems according to the corresponding relationship between image and test image layout of a chip to be tested; identify and / or test point location according to the bidirectional mapping between the tested chip. Through the above way, the invention can observe the chip layout in real time in the test, and can adapt to different chip types and meet different observation needs without increasing the cost of hardware.

【技术实现步骤摘要】
芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法及系统
本专利技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法及系统。
技术介绍
网络连接的普及、大数据的运用和物联网时代的到来极大的便利了人们的生活，同时也给人们出了一道信息安全的难题。芯片是IT和互联网的基础组件之一，芯片本身的安全性对整个系统的信息安全至关重要。也正是因为这个原因，在金融、政务和工控等领域使用的密码安全芯片都要经过严格的安全性测试和安全等级认证。这些芯片安全性测试常由权威的第三方检测机构完成，芯片的提供和使用双方也常会对芯片的安全性进行自测试。对芯片的安全性测试常需要观测芯片的版图并根据版图特征进行测试点的识别和定位。已有的技术方案是利用光学显微成像技术，用光学显微镜实现观测的，同时利用电荷耦合元件(Charge-coupledDevice，CCD)等电子技术将图像传送到测试软件，供测试者利用。这种技术方案能够观测到某些芯片的版图，也能够在某些情况下达到根据版图进行测试点定位的目的。但是在以下情况下就无法达到这种效果：(1)从芯片背面测试时；(2)从芯片正面测试，但芯片正面顶层不包含必要的版图信息时本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测芯片预定层次的版图图片；对所述版图图片进行坐标化处理，确定所述版图图片中每个点在第一坐标系的第一坐标；对所述待测芯片的测试图像坐标化处理，确定所述测试图像中每个点在第二坐标系的第二坐标；根据所述待测芯片的所述版图图片和所述测试图像的对应关系建立所述第一坐标系和所述第二坐标系之间的双向映射关系；根据双向映射关系对待测芯片的测试点进行识别和/或定位。

【技术特征摘要】
1.一种芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测芯片预定层次的版图图片；对所述版图图片进行坐标化处理，确定所述版图图片中每个点在第一坐标系的第一坐标；对所述待测芯片的测试图像坐标化处理，确定所述测试图像中每个点在第二坐标系的第二坐标；根据所述待测芯片的所述版图图片和所述测试图像的对应关系建立所述第一坐标系和所述第二坐标系之间的双向映射关系；根据双向映射关系对待测芯片的测试点进行识别和/或定位。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述版图图片进行坐标化处理，确定所述版图图片中每个点在第一坐标系的第一坐标的步骤包括：将所述版图图片视为多行×多列像素组成的第一矩阵，所述第一矩阵中每个像素为一个点；根据任一点在所述第一矩阵中的位置确定其第一坐标，建立所述第一坐标系；记录所述待测芯片的四个顶点在所述第一坐标系中的第一坐标。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述待测芯片的测试图像坐标化处理，确定所述测试图像中每个点在第二坐标系的第二坐标的步骤包括：所述待测芯片上测试点在所述测试图像平面内排列形成由多行×多列的第二矩阵；所述第二矩阵中任一点对应一第二坐标，建立第二坐标系；记录所述待测芯片的四个顶点在所述第二坐标系中的第二坐标。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据双向映射关系对待测芯片的测试点进行识别和/或定位的步骤包括：在所述版图图片上实时跟踪显示当前测试点；和/或在所述测试图像上定位所述版图图片上的待测试点。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述在所述版图图片上实时跟踪显示当前测试点的步骤包括：获取所述当前测试点在所述第二坐标系的第二坐标；根据所述双向映射关系计算所述当前测试点在所述第一坐标系的第一坐标；在所述版图图片显示并跟踪所述当前测试点。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宇建，
申请(专利权)人：国民技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44