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本发明公开了一种芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法及系统，方法包括：获取待测芯片预定层次的版图图片；对版图图片进行坐标化处理，确定版图图片中每个点在第一坐标系的第一坐标；对待测芯片的测试图像坐标化处理，确定测试图像中每个点在第二坐标系的第...
该专利属于国民技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国民技术股份有限公司授权不得商用。

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