镀层测厚仪制造技术

本实用新型专利技术提供了一种镀层测厚仪，包括控制器、至少一个与控制器相连接的测试点组，测试点组包括与控制器电连接的光源探头和接收探头，光源探头和接收探头相对设置，光源探头包括具有第一开口的光源探头座、盖合于第一开口处的光源探头盖，以及设于光源探头座内的光源组件，光源探头盖上设有第一透光板，第一透光板与光源探头座通过第一密封圈密封。本实用新型专利技术提供的镀层测厚仪，光源探头和接收探头之间相互独立，能够方便对测试安装的位置进行调整，且结构更加简单，现场安装更为方便，第一透光板和光源探头座之间通过第一密封圈相连接，能够有效地避免粉尘进入到光源探头的内部，增长光源探头的使用寿命，且清洁操作简单方便。

【技术实现步骤摘要】
镀层测厚仪
本技术属于厚度测量的
，更具体地说，是涉及一种镀层测厚仪。
技术介绍
镀膜是用物理或化学的方法在材料表面镀上一层透明的电解质膜，或者在材料表面镀一层金属膜，其目的是改变材料表面的反射性和透射特性。镀膜产品对镀膜层的厚度及均匀性一般要求较高，镀膜过程中厚度的均匀性直接关系到镀膜产品的品质，因此,镀膜过程中对膜厚的检测至关重要。现有技术中的镀层厚度检测装置一般均为一体设置的，仅可以对某一特定的位置进行测量进行测试，检测不全面且操作不便。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种镀层测厚仪，以解决现有技术中镀层厚度检测装置仅可以对某一特定的位置进行测量而导致检测不全面且操作不便的技术问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种镀层测厚仪，包括控制器、至少一个与所述控制器相连接的测试点组，所述测试点组包括与所述控制器电连接的光源探头和接收探头，所述光源探头和所述接收探头相对设置，所述光源探头包括具有第一开口的光源探头座、盖合于所述第一开口处的光源探头盖，以及设于所述光源探头座内的光源组件，所述光源探头盖上设有第一透光板，所述第一透光板与所述光源探头座通过第一密封圈密封。进一本文档来自技高网...

【技术保护点】
镀层测厚仪，其特征在于：包括控制器、至少一个与所述控制器相连接的测试点组，所述测试点组包括与所述控制器电连接的光源探头和接收探头，所述光源探头和所述接收探头相对设置，所述光源探头包括具有第一开口的光源探头座、盖合于所述第一开口处的光源探头盖，以及设于所述光源探头座内的光源组件，所述光源探头盖上设有第一透光板，所述第一透光板与所述光源探头座通过第一密封圈密封。

【技术特征摘要】
1.镀层测厚仪，其特征在于：包括控制器、至少一个与所述控制器相连接的测试点组，所述测试点组包括与所述控制器电连接的光源探头和接收探头，所述光源探头和所述接收探头相对设置，所述光源探头包括具有第一开口的光源探头座、盖合于所述第一开口处的光源探头盖，以及设于所述光源探头座内的光源组件，所述光源探头盖上设有第一透光板，所述第一透光板与所述光源探头座通过第一密封圈密封。2.如权利要求1所述的镀层测厚仪，其特征在于：所述光源组件包括光源套筒、设于所述光源套筒内部的第一电路板，以及设于所述第一电路板上的光源，所述第一电路板与所述控制器电连接。3.如权利要求2所述的镀层测厚仪，其特征在于：所述光源套筒上正对于所述光源的位置设有准直透镜。4.如权利要求3所述的镀层测厚仪，其特征在于：所述光源与所述准直透镜之间设有内板，且所述内板上开设有与所述准直透镜的焦点相正对的透光孔。5.如权利要求1至4任一...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛灿，
申请(专利权)人：深圳市林上科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44