一种直线感应电子加速器试验平台及双线圈探测结构制造技术

本发明专利技术公开了一种直线感应电子加速器试验平台及双线圈探测结构，所述结构包括：PCB板、探测线圈A、有机玻璃、探测线圈B；有机玻璃固定在束流管道壁上，PCB板固定在有机玻璃上，探测线圈A和探测线圈B固定在PCB板上，其中，探测线圈A与探测线圈B接地方向相反；解决了现有的探测结构复杂，工业要求较高的技术问题，实现了结构简单，工艺要求较低，且对束流的传输没有任何影响，提高了束流半径诊断效率的技术效果。

A linear induction electron accelerator test platform and double loop detection structure

The invention discloses a linear induction electron accelerator test platform and double coil probe structure, the structure includes PCB board, A, organic glass, the detector coil detection coil B; organic glass is fixed on the beam pipe wall, PCB plate is fixed on the organic glass, the detector coil A and B fixed on the detector coil the PCB board, the detection coil A and B coil grounding in the opposite direction; realize the detection has complicated structure, high technical requirements of industrial problems, has the advantages of simple structure, low requirement of technology, and has no effect on the transfer beam, improve the technical effect of the beam radius diagnostic efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种直线感应电子加速器试验平台及双线圈探测结构
本专利技术涉及线感应电子加速器试验领域，具体地，涉及一种直线感应电子加速器试验平台及双线圈探测结构。
技术介绍
目前在直线感应电子加速器中被广泛使用的束流半径诊断技术有胡椒屏法和渡越辐射法，如图1-图2所示。如胡椒屏法如图1所示。渡越辐射法如图2所示。上述诊断技术都是直接拦截束流对其进行诊断，在系统稳定的情况下可以用大量束流的统计平均值来估算当前实验束流的半径或发射度。实验效率低，当系统出现不稳定时无法立刻判断出来，对束流的传输具有影响。同时这些方法装置布局相对繁琐，实验效率较低，不易满足现在的实验需求。美国W.E.Nexsen提出的是单个线圈的测量结构，可以解决上述问题，但是由于径向电场的强度远大于束流旋转产生的轴向磁场的强度，为了屏蔽径向电场的影响和提高信噪比，添加了一层5μm镍铬合金薄膜并在线圈后加入磁环，如图3所示，这种结构对工艺的要求比较高。
技术实现思路
本专利技术提供了一种直线感应电子加速器试验平台及双线圈探测结构，解决了现有的探测结构复杂，工业要求较高的技术问题，实现了结构简单，工艺要求较低，且对束流的传输没有任何影响，提高本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种直线感应电子加速器中的双线圈新型探测结构，其特征在于，所述结构包括：PCB板、探测线圈A、有机玻璃、探测线圈B；有机玻璃固定在束流管道壁上，PCB板固定在有机玻璃上，探测线圈A和探测线圈B固定在PCB板上，其中，探测线圈A与探测线圈B接地方向相反。

【技术特征摘要】
1.一种直线感应电子加速器中的双线圈新型探测结构，其特征在于，所述结构包括：PCB板、探测线圈A、有机玻璃、探测线圈B；有机玻璃固定在束流管道壁上，PCB板固定在有机玻璃上，探测线圈A和探测线圈B固定在PCB板上，其中，探测线圈A与探测线圈B接地方向相反。2.根据权利要求1所述的直线感应电子加速器中的双线圈新型探测结构，其特征在于，探测线圈A和探测线圈B均为单砸线圈，且相互独立。3.根据权利要求1所述的直线感应电子加速器中的双线圈新型探测结构，其特征在于，所述结构还包括外壳，PCB板、探测线圈A、有机玻璃、探测线圈B均位于外壳内，外壳与束流管道壁连接。4.根据权利要求1所述的直线感应电子加速器中的双线圈新型探测结构，其特征在于，所述结构还包括：BNC接头、同轴线、多个轴向B-dot环、多个角向B-dot环、i-pex接头，探测线圈A和探测线圈B分别通过同轴线与BNC接头连接，轴向B-dot环与角向B-dot环交叉均匀分布在PCB板的截面圆周上，i-pex头位于任意轴向B-dot环与角向B-dot环中间，束流管道从PCB板穿过，束流管道中心线与PCB板截面中心线重合。5.一种直线感应电子加速器试验平台，其特征在于，试验平台中的探测结构为权利要求1-4中任一所述的探测结构，所述试验平台还包括：一台高压脉冲电源、两组螺旋调节杆、一个匹配阻抗、一台示波器、束流管道、；高压脉冲电源与匹配阻抗之间连接有束流管道，探测结构通过同轴电缆与示波器连接；探测结构固定在束流管道上，用于探测束流通过时产生的信号；高压脉冲电源用于产生梯形方波；两组螺旋调节杆均固定在束流管道上，用于调整模拟束流杆的偏轴情况；匹配阻抗用于减小反射波；示波器用于显示并记录信号。6.根据权利要求5所述的直线感应电子加速器试验平台，其特征在于，所述所述试验平台还包括：积分器，探测结构通过同轴电缆与积分器连接，积分器与示波器连接；积分器用于对初始信号进行积分处理。7.根据权利要求5所述的直线感应电子加速器试验平台，其特征在于，试验平台灵敏度系数计算方式为：首先建立差模信号的S参数表达式，然后给出灵敏度系数的计算；输入端口由三个量确定：输入电压Vinput，输入电流Iinput和输入阻抗Zinput；同样输出端口也由三个量确定：输出电压Vputput，输出电流Ioutput和输出阻抗Zoutput；反磁线圈的灵敏度系数η表示线圈内部含有的由于束流旋转引入的轴向磁通；螺旋线由三个参数表示：螺旋...

【专利技术属性】
技术研发人员：马帅，王科，何小中，庞健，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院流体物理研究所，
类型：发明
国别省市：四川,51