【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于挤出机的光学检查设备和方法
本专利技术涉及一种用于挤出机的光学检查设备和方法。本专利技术还涉及一种挤出机。本专利技术针对塑料工业。更具体地,本专利技术适用于热塑性聚合物材料的挤出领域中。热塑性聚合物在加热时软化或熔融并且在冷却时恢复至固体状态。
技术介绍
一般来讲,挤出机器(或挤出机)允许获得挤出物,即,预定长度的由塑性材料制成的物品(通常横截面一致),起始于球剂(pellets)(或颗粒,例如,直径在1mm和5mm之间的小圆柱体或盘状物),该球剂由聚合物或聚合物混合物制成并且用作用以制备塑性物品的原料。挤出机器还用于塑性模制行业中,其中注塑模具位于挤出机器的下游以接收熔融聚合物材料并且制备塑性物品。一般来讲,熔融聚合物材料通过泵被注入模具中。挤出机器的一个实例描述于专利文件US4290986中。这些挤出机器包括例如进给料斗,聚合物材料的球剂通过该进给料斗进给至内部中空挤出圆筒中,该中空挤出圆筒通常为细长的并且在纵向方向上延伸。在挤出圆筒内部,压力和温度条件导致聚合物材料的球剂的熔融(在半结晶聚合物的情况下)或软化(在无定形聚合物的情况下)。应当指出的是,术语“熔融聚合物材料”是指半结晶聚合物,而在无定形聚合物的情况下,使用的更准确术语为“软化聚合物材料”。然而,除非另外指明,否则术语“熔融”和“软化”在本文中同义地使用。挤出圆筒通常容纳环状螺杆(或挤出机螺杆),该环状螺杆连接至电机,该电机驱动环状螺杆绕着纵向轴线旋转。挤出机螺杆在工作方向上的旋转迫使聚合物材料在进给方向上从挤出圆筒的入口移动至出口。一般来讲,挤出圆筒由加热元件(通常为电阻器)加热,而 ...
【技术保护点】
一种用于穿过挤出机(3)的大量聚合物材料(2)的光学检查的设备(1),其中所述挤出机(3)具有:‑中空挤出圆筒(4),所述中空挤出圆筒(4)在纵向方向上伸长并且具有用于接收聚合物材料的球剂(2a)的入口(4a)和用于排出熔融聚合物材料(2b)的出口(4b);‑挤出机螺杆(5),所述挤出机螺杆(5)连接至电机(6)以在所述挤出圆筒(4)内部旋转并以将所述聚合物材料(2)从所述入口(4a)移动至所述出口(4b);‑加热器(7),所述加热器(7)耦接至所述挤出圆筒(4),其中所述光学检查设备(1)包括光学传感器(8),所述光学传感器(8)可操作性地耦接至所述挤出圆筒(4)并且具有配置为对测量参数进行测量的红外光发射器(8a)和接收器(8b),所述测量参数表示所述挤出圆筒(4)内部的所述聚合物材料(2)的光学性质,所述光学检查设备(1)特征在于其包括:‑多个所述光学传感器(8),所述多个光学传感器(8)在多个测量位点可操作性地耦接至所述挤出圆筒(4),所述多个测量位点沿着所述纵向方向连续地定位和彼此隔开;‑处理器(9),所述处理器(9)编程成获取多个测量信号,所述多个测量信号包含由所述多个光学 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.05.13 IT BO2015A0002471.一种用于穿过挤出机(3)的大量聚合物材料(2)的光学检查的设备(1),其中所述挤出机(3)具有:-中空挤出圆筒(4),所述中空挤出圆筒(4)在纵向方向上伸长并且具有用于接收聚合物材料的球剂(2a)的入口(4a)和用于排出熔融聚合物材料(2b)的出口(4b);-挤出机螺杆(5),所述挤出机螺杆(5)连接至电机(6)以在所述挤出圆筒(4)内部旋转并以将所述聚合物材料(2)从所述入口(4a)移动至所述出口(4b);-加热器(7),所述加热器(7)耦接至所述挤出圆筒(4),其中所述光学检查设备(1)包括光学传感器(8),所述光学传感器(8)可操作性地耦接至所述挤出圆筒(4)并且具有配置为对测量参数进行测量的红外光发射器(8a)和接收器(8b),所述测量参数表示所述挤出圆筒(4)内部的所述聚合物材料(2)的光学性质,所述光学检查设备(1)特征在于其包括:-多个所述光学传感器(8),所述多个光学传感器(8)在多个测量位点可操作性地耦接至所述挤出圆筒(4),所述多个测量位点沿着所述纵向方向连续地定位和彼此隔开;-处理器(9),所述处理器(9)编程成获取多个测量信号,所述多个测量信号包含由所述多个光学传感器(8)的对应光学传感器(8)所测量的测量参数,并且编程成处理所述多个测量信号以计算对照参数的多个对应值,所述对照参数指示所述聚合物材料(2)的物理状态,其中所述多个值表示作为纵向位置的函数的所述挤出圆筒(4)内部的对照参数的变化曲线。2.根据权利要求1所述的设备(1),其中所述处理器(9)编程成获取预定测量时间间隔的测量信号,并且为每个测量位点计算所述对照参数,所述对照参数作为所述测量时间间隔中的对应测量信号的测量参数曲线的函数。3.根据权利要求2所述的设备(1),其中所述测量参数表示所述塑性材料的透射率和/或反射率,并且其中所述处理器(9)编程成为每个测量位点计算所述对照参数,所述对照参数作为所述对应测量信号的测量参数从高基准间隔至低基准间隔的变化频率的函数。4.根据权利要求2或3所述的设备(1),其中所述处理器(9)编程成为每个测量位点计算所述对照参数,所述对照参数作为所述对应测量信号的测量参数在所述测量时间间隔中的平均值的函数。5.根据前述权利要求中任一项所述的设备(1),其中所述光学传感器(8)的接收器(8b)限定小于100nm的带宽。6.根据前述权利要求中任一项所述的设备(1),对于多个光学传感器(8)中的每个光学传感器(8)而言,所述设备(1)包括滤波器(10),所述滤波器(10)连接至所述光学传感器(8)并且能够调整以选择性地改变所述接收器(8b)的带宽的位置。7.根据权利要求6所述的设备(1),其中所述处理器(9)配置成接收与由所述挤出机(3)所处理的聚合物材料(2)相关的信息,所述处理器(9)连接至所述滤波器(10)以对它们进行调整并且编程成对每个光学传感器(8)设定介于吸收峰之间的所述聚合物材料(2)的红外光谱区域中的带宽的位置。8.根据权利要求7所述的设备(1),包括散射分光光度计或傅里叶变换分光光度计,所述的散射分光光度计或傅里叶变换分光光度计连接至所述处理器(9)以传送与由所述挤出机(3)所处理的所述聚合物材料(2)相关的信息。9.根据前述权利要求中任一项所述的设备(1),其中所述处理器(9)设置成接收如下所列出的操作参数中的一者或多者:-所述挤出机螺杆(5)的旋转速度,-所述加热器(7)的加热功率,-所述挤出圆筒(4)内部的压力,并且编程成生成一个或多个反馈控制信号,所述一个或多个反馈控制信号作为所述挤出圆筒(4)内部的对照参数的变化曲线的函数,以改变作为所述挤出圆筒(4)内部的对照参数的变化曲线的...
【专利技术属性】
技术研发人员:G·博西,
申请(专利权)人:伊莫拉SACMI机械合作公司,
类型:发明
国别省市:意大利,IT
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