光纤色散测量系统及其使用方法技术方案

本发明专利技术属于光学测试设备及其使用方法领域，具体公开了一种光纤色散测量系统，其包括光源系统和干涉测量系统，光源系统包括沿光路依次布设的脉冲激光器、光隔离器、窄带滤波片、反射镜组和光源用光子晶体光纤；干涉测量系统包括分束器、接收分束器反射、透射光束的测量臂和参考臂，测量臂中布设有待测光纤组件；光源用光子晶体光纤的两端连接有三维光纤耦合平台；分束器另设有一输出端，该输出端后的光路上依次布设有偏振器、窄带滤波器、无截止单模光子晶体光纤组件和数据收集处理系统。通过选用一特定空气孔结构的高非线性光子晶体光纤作为光源用光子晶体光纤可以使该系统产生超连续谱白光，以进行色散系数的高精度、高效率、低成本测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学测试设备及其使用方法，尤其涉及一种对光学中的色散性质 进行测量的设备及其使用方法。
技术介绍
自1992年Russell等人提出光子晶体光纤的概念以来，光子晶 体光纤便以其奇异 的特性得到了各国科研人员的极大关注，相关的理论和实验研究论文每年以70%的速度递 增。光子晶体光纤表现出来的无截止单模、大模场面积、极强的非线性效应、高双折射效应、 色散可控且在可见光和近红外波段具有反常色散等优异特性，使得它在色散补偿性、超连 续谱的产生、光纤传感、大功率激光传输、大功率光纤激光器等方面拥有巨大的应用前景。色散是光子晶体光纤最为重要的特性参数之一，如超连续谱的产生等许多应用都 必须预先知道它的色散特性。虽然，光子晶体光纤色散特性的数值计算方法已经很多，但相 关的实验研究还很少。理论计算结果正确与否最终还需通过实验来验证，而且由于拉制的 光纤结构不可能完全对称，对光纤的色散特性也有较大的影响。因此，为了更好地获取光子 晶体光纤的色散特性，必须进行色散测量。目前，还没有专门针对光子晶体光纤设计的商用 色散测量系统。由于光子晶体光纤与普通光纤具有相同的色散概念，因此一般都是本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光纤色散测量系统，该系统包括光源系统（１）和干涉测量系统（２），其特征在于：所述光源系统（１）包括沿光路依次布设的脉冲激光器（１１）、光隔离器（１２）、窄带滤波片（１３）、反射镜组（１４）和光源用光子晶体光纤（１５）；所述干涉测量系统（２）包括分束器（２１）、接收分束器（２１）反射光束的测量臂（２２）和接收分束器（２１）透射光束的参考臂（２３），所述测量臂（２２）中布设有待测光纤组件（２４）；所述光源用光子晶体光纤（１５）的输入端连接有一接收反射镜组（１４）反射光束的三维光纤耦合平台（３），所述光源用光子晶体光纤（１５）的输出端连接有一准直入射至所述分束器（２１）的三维光纤耦合平台（３）；...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：侯静，王泽锋，陈胜平，陈子伦，陈金宝，刘泽金，姜宗福，舒柏宏，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科学技术大学，
类型：发明
国别省市：43[中国|湖南]