不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置，至少包括光源、平行光管、曲面镜、偏轴镜片组件、测量显微镜，光源在平行光管的前端,在光源和平行光管之间的物镜焦平面处有玻罗板或鉴别率板提供物方像面,曲面镜在平行光管的出口侧,光源照射的物方像面通过平行光管出射平行光束，由曲面镜接收,经过偏轴镜片组件进入像方成像面的测量显微镜，利用测量显微镜进行读数和测量。本实用新型专利技术能提高测量不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率的质量。并能提高装调效率，减轻装调人员的劳动强度。

Measuring device for focal length, rear intercept and identification rate of non coaxial optical system

The utility model relates to a coaxial optical system focal length, after the intercept and identification rate measuring device at least comprises a light source, a collimator, curved mirror, off-axis lens assembly, measuring microscope, light in front of the collimator, in light and parallel light pipe between the lens focal plane with Perot plate or identification the rate of plate object image plane, curved mirror at the outlet side of the collimator, the object light like surface through the collimator exit parallel beam, received by a curved mirror, after off-axis lens assembly into a measuring microscope imaging surface readings and square, measured by the measuring microscope. The utility model can improve the quality of measuring the focal length, the rear intercept and the identification rate of the non coaxial optical system. It can improve the charging efficiency and reduce the labor intensity of the personnel.

【技术实现步骤摘要】
不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置
本技术属于光学系统测量，涉及一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置。
技术介绍
光学系统的特性参数是作为光学仪器设计的依据，根据使用要求而提出技术特性要求，从而决定了光学系统的适用范围。测量光学系统的特性参数不仅是验收产品的量化指标，考核其是否达到设计要求的手段，而且也是发现从设计、加工到装配整个过程中所存在的缺陷和问题的手段。光学系统是由若干光学透镜组成，光学透镜在完成加工和装配后，由于存在加工和装配误差。装配后的物镜最终的焦距、后截距和鉴别率与光学系统最初设计的焦距值、后截距值和鉴别率值存在一定的差异。为了获取物镜焦距、后截距和鉴别率的准确性，必须针对物镜装配后的特性，提出一种满足其特性的焦距、后截距和鉴别率测量方法。由不共轴(偏轴)透镜、非球面透镜和曲面反射镜(即不共轴光学系统)加入到经典几何光学中的共轴球面光学系统中，一直存在无法运用几何光学中的焦距、后截距和鉴别率测量实验方法，对不共轴光学系统的焦距、后截距和鉴别率进行测量。只是利用全系统的显示来测量视度、视差、视场，而无法测量不共轴光学系统的焦距、后截距和鉴别率。任何透镜组(含不共轴光学系统)的焦距、后截距和鉴别率(含前面所述的视度、视差、视场等光学性能参数)，都是该光学系统的重要参数，直接影响光学系统的成像质量和装配质量。如果在不共轴光学系统组成的光学仪器装配和生产中，无法实现不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率的测量，无法知晓不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量结果的正确性，将会造成修切不共轴光学系统物方焦平面的位置的不确定性，以及成像质量的好坏。造成重复装拆和修切，费工费时，甚至报废金工件的现象。不共轴光学系统无法测量焦距、后截距和鉴别率的原因：1、将偏轴镜片组件放置在光具座上，将其前端与平行光管的物镜两两相对，在偏轴镜片组件的物方焦平面处放置测量显微镜，无法接受处于平行光管物镜焦平面上玻罗板(物高y)分划板的像面。故无法测量不共轴光学系统的焦距和后截距；若换为鉴别率板分划板，不共轴光学系统的鉴别率也无法测量。2、由几何光学中两个光组组合的焦距公式式中：f′——组合物镜焦距；f′1——第一组物镜焦距f′2——第二组物镜焦距；d——第一组物镜像方主点和第二组物镜像方主点之间的距离。通过上述分析得到：不共轴光学系统中的偏轴镜片组的出射光线不是平行光线，是汇聚或发散。无法接受到由光具座上的平行光管发出的平行光线，不满足光学系统焦距的定义，焦距、后截距和鉴别率的测量条件不成立，故无法测量不共轴光学系统的焦距、后截距和鉴别率。由公式1得到，由偏轴镜片组件的焦距f′1与平行光管的物镜的焦距f′2，以及两者之间的距离d构成了新的光学系统。测量结果不是待测偏轴镜片组件的焦距和后截距。则测量结果更是不真实和错误。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置，以便提高测量不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率的质量。达到提高装调效率，减轻装调人员的劳动强度，提高工作效率和提高经济效益的目的。本技术的目的是这样实现的,一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是：至少包括光源、平行光管、曲面镜、偏轴镜片组件、测量显微镜，光源在平行光管的前端,在光源和平行光管之间的物镜焦平面处有玻罗板或鉴别率板提供物方像面,曲面镜在平行光管的出口侧,光源照射的物方像面通过平行光管出射平行光束，由曲面镜接收,经过偏轴镜片组件进入像方成像面的测量显微镜。所述的曲面镜和偏轴镜片组件组成了不共轴光学系统，并通过夹持工装固定在光具座平台上。所述的测量显微镜固定在调节升降台上。所述的调节升降台包括升降调整机构、二维直线微动调整台和二维角度微动测量台,升降调整机构、二维角度微动测量台和二维直线微动调整台构依次顺序从下至上在高度上进行叠加固定连接，叠加高度低于平行光管的输出像面轴线高度。所述的测量显微镜通过固定座固定在调节升降台的二维直线微动调整台上。所述夹持工装有两个面和一个底座,两个面中一个为斜面，一个为垂直面，斜面位于垂直面上方向内倾斜，垂直面固定在底座上,斜面用于固定不共轴光学系统，垂直面起高度的支承。本技术的优点是：通过设计和制作测量显微镜、二维直线微动调整台、二维角度调整台、升降调整机构组成的二维调整测量装置，设计和制作不共轴光学系统夹持工装与光具座上的平行光管组成焦距、后截距和鉴别率测量系统。再利用二维调整测量装置能够方便快速地在测量显微镜中读取由平行光管焦平面上的玻罗板(物高y)通过不共轴光学系统所成的像(像高y′)，利用光学系统经典焦距测量方法中的放大率法，通过计算公式得到不共轴光学系统的焦距和后截距。然后换上鉴别率分划板，再进行不共轴光学系统鉴别率的测量。达到测量数据的准确和可靠，满足检验规范的技术要求。提高装调效率，减轻装调人员的劳动强度，提高工作效率和提高经济效益的目的。附图说明下面结合实施例附图对本技术进一步说明：图1是不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量系统图；图2是不共轴光学系统焦距测量调节平台示意图；图3不共轴光学系统的夹持工装；图4放大率法测量焦距原理图；图5鉴别率测量焦距原理图。图中,1、光源；2、平行光管；3、曲面镜；4、偏轴镜片组件；5、测量显微镜；6、不共轴光学系统；7、玻罗板；8、调节升降台；9、待测物镜；10、鉴别率板；11、夹持工装。具体实施方式如图1所示,一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,至少包括光源1、平行光管2、曲面镜3、偏轴镜片组件4、测量显微镜5，光源1在平行光管的前端,在光源和平行光管之间的物镜焦平面处有玻罗板7或鉴别率板10提供物方像面,曲面镜在平行光管的出口侧,光源照射的物方像面通过平行光管出射平行光束，由曲面镜接收,经过偏轴镜片组件4进入像方成像面的测量显微镜5，利用测量显微镜5的目镜502进行读数和测量。所述的曲面镜和偏轴镜片组件组成了不共轴光学系统6，并通过夹持工装11固定在光具座平台上。偏轴镜片组件和光具座平台属业内已有技术,在这不作过多说明。如图2所示，所述的调节升降台8包括升降调整机构801、二维直线微动调整台802和二维角度微动测量台803,升降调整机构801、二维角度微动测量台803和二维直线微动调整台802构依次顺序从下至上在高度上进行叠加固定连接，叠加高度低于平行光管的输出像面轴线高度，便于调节测量显微镜光轴与不共轴光学系统光轴的等高。升降调整机构为现有技术，这里就不做详细描述。所述的测量显微镜通过固定座固定在调节升降台的二维直线微动调整台上。如图3所示，所述夹持工装有两个面和一个底座,两个面中一个为斜面110，一个为垂直面111，斜面位于垂直面上方向内倾斜，垂直面固定在底座112上,斜面用于固定不共轴光学系统，垂直面起高度的支承。一种测量不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率方法,包括如下步骤：1)、依据光学系统图和装配工艺的技术要求装配曲面镜、偏轴镜片组件构成不共轴光学系统；2)、将不共轴光学系统通过夹持工装放置在光具座平台上；3)、将测量显微镜固定在调节升降台上；4)、通过光具座平台固定平行光管；5)、使不共轴光学系统中的曲面镜开口面向平行光管物镜的光轴方向；6本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是：至少包括光源、平行光管、曲面镜、偏轴镜片组件、测量显微镜，光源在平行光管的前端,在光源和平行光管之间的物镜焦平面处有玻罗板或鉴别率板提供物方像面,曲面镜在平行光管的出口侧,光源照射的物方像面通过平行光管出射平行光束，由曲面镜接收,经过偏轴镜片组件进入像方成像面的测量显微镜。

【技术特征摘要】
1.一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是：至少包括光源、平行光管、曲面镜、偏轴镜片组件、测量显微镜，光源在平行光管的前端,在光源和平行光管之间的物镜焦平面处有玻罗板或鉴别率板提供物方像面,曲面镜在平行光管的出口侧,光源照射的物方像面通过平行光管出射平行光束，由曲面镜接收,经过偏轴镜片组件进入像方成像面的测量显微镜。2.根据权利要求1所述的一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是：所述的曲面镜和偏轴镜片组件组成了不共轴光学系统，并通过夹持工装固定在光具座平台上。3.根据权利要求1所述的一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是：所述的测量显微镜固定在调节升降台上。4.根据权利要求3所述的一种不共...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫博，梁小伟，纪茹，张小玲，王剑，
申请(专利权)人：西安北方光电科技防务有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西,61