TDI图像传感器的焦距控制方法、装置及自动光学检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种TDI图像传感器的焦距控制方法、装置及自动光学检测装置，属于电子技术领域。所述方法包括：在TDI图像传感器运行时，获取TDI图像传感器当前的温度；根据当前的温度以及目标焦距计算函数确定目标焦距；将TDI图像传感器的镜头的焦距调整至目标焦距。所述装置包括：获取模块、第一确定模块、调整模块、TDI图像传感器、TDI图像传感器的焦距控制装置。本发明专利技术通过获取到的TDI图像传感器当前的温度以及目标焦距计算函数确定目标焦距，并将TDI图像传感器的镜头的焦距调整至目标焦距，在温度变化时，可实现镜头焦距的实时调节，保证焦距的准确性，从而提高扫描得到的灰阶图的清晰度，提高设备检出率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
，特别涉及一种TDI图像传感器的焦距控制方法、装置及自动光学检测装置。
技术介绍
随着显示面板行业的兴起，人们对图像显示的视觉要求越来越高，相应的，需要作出更好的产品来满足人们的需求，而做出越好的产品对检测设备的要求就越高。因此，提高检测设备的检出能力也是提高产品良率的方式之一。自动光学检测(英文：Automatic Optic Inspection；简称：AOI)装置是一种光学图形画面的检测设备，用于检测薄膜晶体管-液晶显示器(英文：Thin Film Transistor Liquid Crystal Display；简称：TFT-LCD)等显示设备的玻璃面板等表面的缺陷(英文：defect)。示例的，AOI装置可以首先通过时间延迟积分(英文：Time Delay Integration；简称：TDI)图像传感器对玻璃面板表面进行扫描，根据得到的灰阶图，判断不良点的位置。然后利用回顾相机(英文：Review Camera)对不良点拍照。但是，实际应用中，温度的变化对光学系统参数有较大影响，在TDI图像传感器的温度变化较大时，其镜头的焦距会受到较大影响，扫描得到的灰阶图比较模糊，从而影响设备的检出率。
技术实现思路
为了解决TDI图像传感器的镜头焦距受温度影响，从而影响设备检出率的问题，本专利技术实施例提供了一种TDI图像传感器的焦距控制方法、装置及自动光学检测装置。所述技术方案如下：第一方面，提供了一种TDI图像传感器的焦距控制方法，所述方法包括：在时间延迟积分TDI图像传感器运行时，获取所述TDI图像传感器当前的温度；根据所述当前的温度以及目标焦距计算函数确定所述目标焦距，所述目标焦距计算函数是预先确定的反映当前光学检测周期中温度与焦距对应关系的函数，所述目标焦距计算函数中，焦距为因变量，温度为自变量；将所述TDI图像传感器的镜头的焦距调整至所述目标焦距。可选的，在所述获取所述TDI图像传感器当前的温度之前，所述方法还包括：在所述TDI图像传感器为常温时，采集当前光学检测周期中，所述TDI图像传感器的待分析数据，所述待分析数据包括至少两组温度与焦距对应的数据，任意两组所述数据中记录的温度值不同；将所述待分析数据分别使用一次函数和二次函数进行拟合处理得到一次焦距计算函数和二次焦距计算函数；根据所述一次焦距计算函数和所述二次焦距计算函数确定所述二次焦距计算函数的线性度；当所述二次焦距计算函数的线性度大于预设线性度阈值，将所述二次焦距计算函数确定为所述目标焦距计算函数；当所述二次焦距计算函数的线性度小于或等于预设线性度阈值，将所述一次焦距计算函数确定为所述目标焦距计算函数。可选的，所述两个焦距计算函数为一次函数F1和二次函数F2，所述根据所述一次焦距计算函数和所述二次焦距计算函数确定所述二次焦距计算函数的线性度，包括：获取差值函数G，所述G满足：G＝F2-F1；确定所述差值函数G的绝对值最大值M；计算所述镜头的满量程最大值A，所述A为所述待分析数据中记录的焦距的最大值与最小值之差；根据线性度公式确定所述根据拟合结果确定每组所述焦距计算函数的线性度，所述线性度公式为：P2＝M/A*100％；其中，P2为所述二次焦距计算函数的线性度。可选的，所述在所述TDI图像传感器为常温时，采集所述TDI图像传感器的待分析数据，包括：当所述TDI图像传感器处于运行状态时，停止所述TDI图像传感器的运行直至所述TDI图像传感器冷却至常温，运行所述TDI图像传感器，并采集所述TDI图像传感器的待分析数据；当所述TDI图像传感器处于故障状态、停机状态、事后维修状态或预防性维护状态时，在检测到所述TDI图像传感器能够再次正常运行且所述TDI图像传感器为常温时，运行所述TDI图像传感器，并采集所述TDI图像传感器的待分析数据。可选的，所述采集所述TDI图像传感器的待分析数据，包括：按照升序依次采集n个不同温度时，所述TDI图像传感器的焦距得到所述TDI图像传感器的待分析数据，其中，所述n个不同温度中，每两个相邻的温度差值为预设温度差，且所述n个不同温度中包括大于或等于常温的温度。第二方面，提供了一种TDI图像传感器的焦距控制装置，所述装置包括：获取模块，用于在TDI图像传感器运行时，获取所述TDI图像传感器当前的温度；第一确定模块，用于根据所述当前的温度以及目标焦距计算函数确定所述目标焦距，所述目标焦距计算函数是预先确定的反映当前光学检测周期中温度与焦距对应关系的函数，所述目标焦距计算函数中，焦距为因变量，温度为自变量；调整模块，用于将所述TDI图像传感器的镜头的焦距调整至所述目标焦距。可选的，所述装置还包括：采集模块，用于在所述TDI图像传感器为常温时，采集当前光学检测周期中，所述TDI图像传感器的待分析数据，所述待分析数据包括至少两组温度与焦距对应的数据，任意两组所述数据中记录的温度值不同；拟合模块，用于将所述待分析数据分别使用一次函数和二次函数进行拟合处理得到一次焦距计算函数和二次焦距计算函数；第二确定模块，用于根据所述一次焦距计算函数和所述二次焦距计算函数确定所述二次焦距计算函数的线性度；所述第二确定模块，还用于当所述二次焦距计算函数的线性度大于预设线性度阈值，将所述二次焦距计算函数确定为所述目标焦距计算函数；所述第二确定模块，还用于当所述二次焦距计算函数的线性度小于或等于
预设线性度阈值，将所述一次焦距计算函数确定为所述目标焦距计算函数。可选的，所述第二确定模块，用于：获取差值函数G，所述G满足：G＝F2-F1；确定所述差值函数G的绝对值最大值M；计算所述镜头的满量程最大值A，所述A为所述待分析数据中记录的焦距的最大值与最小值之差；根据线性度公式确定所述根据拟合结果确定每组所述焦距计算函数的线性度，所述线性度公式为：P2＝M/A*100％；其中，P2所述二次焦距计算函数的线性度。可选的，所述采集模块，用于：当所述TDI图像传感器处于运行状态时，停止所述TDI图像传感器的运行直至所述TDI图像传感器冷却至常温，运行所述TDI图像传感器，并采集所述TDI图像传感器的待分析数据；当所述TDI图像传感器处于故障状态、停机状态、事后维修状态或预防性维护状态时，在检测到所述TDI图像传感器能够再次正常运行且所述TDI图像传感器为常温时，运行所述TDI图像传感器，并采集所述TDI图像传感器的待分析数据。可选的，所述采集模块，用于：按照升序依次采集n个不同温度时，所述TDI图像传感器的焦距得到所述TDI图像传感器的待分析数据，其中，所述n个不同温度中，每两个相邻的温度差值为预设温度差，且所述n个不同温度中包括大于或等于常温的温度。第三方面，提供了一种自动光学检测装置，所述装置包括：TDI图像传感器，和所述TDI图像传感器的焦距控制装置。本专利技术实施例提供的技术方案带来的有益效果是：通过获取到的TDI图像传感器当前的温度以及目标焦距计算函数确定目标焦距，并将TDI图像传感器的镜头的焦距调整至目标焦距，在温度变化时，可实现镜头焦距的实时调节，保证焦距的准确性，从而提高扫描得到的灰阶图的清晰度，提高设备检出率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对专利技术实施例描述中所需要使用的附图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种TDI图像传感器的焦距控制方法，其特征在于，所述方法包括：在时间延迟积分TDI图像传感器运行时，获取所述TDI图像传感器当前的温度；根据所述当前的温度以及目标焦距计算函数确定所述目标焦距，所述目标焦距计算函数是预先确定的反映当前光学检测周期中温度与焦距对应关系的函数，所述目标焦距计算函数中，焦距为因变量，温度为自变量；将所述TDI图像传感器的镜头的焦距调整至所述目标焦距。

【技术特征摘要】
1.一种TDI图像传感器的焦距控制方法，其特征在于，所述方法包括：在时间延迟积分TDI图像传感器运行时，获取所述TDI图像传感器当前的温度；根据所述当前的温度以及目标焦距计算函数确定所述目标焦距，所述目标焦距计算函数是预先确定的反映当前光学检测周期中温度与焦距对应关系的函数，所述目标焦距计算函数中，焦距为因变量，温度为自变量；将所述TDI图像传感器的镜头的焦距调整至所述目标焦距。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取所述TDI图像传感器当前的温度之前，所述方法还包括：在所述TDI图像传感器为常温时，采集当前光学检测周期中，所述TDI图像传感器的待分析数据，所述待分析数据包括至少两组温度与焦距对应的数据，任意两组所述数据中记录的温度值不同；将所述待分析数据分别使用一次函数和二次函数进行拟合处理得到一次焦距计算函数和二次焦距计算函数；根据所述一次焦距计算函数和所述二次焦距计算函数确定所述二次焦距计算函数的线性度；当所述二次焦距计算函数的线性度大于预设线性度阈值，将所述二次焦距计算函数确定为目标焦距计算函数；当所述二次焦距计算函数的线性度小于或等于预设线性度阈值，将所述一次焦距计算函数确定为所述目标焦距计算函数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述两个焦距计算函数为一次函数F1和二次函数F2，所述根据所述一次焦距计算函数和所述二次焦距计算函数确定所述二次焦距计算函数的线性度，包括：获取差值函数G，所述G满足：G＝F2-F1；确定所述差值函数G的绝对值最大值M；计算所述镜头的满量程最大值A，所述A为所述待分析数据中记录的焦距
\t的最大值与最小值之差；根据线性度公式确定所述根据拟合结果确定每组所述焦距计算函数的线性度，所述线性度公式为：P2＝M/A*100％；其中，P2为所述二次焦距计算函数的线性度。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述TDI图像传感器为常温时，采集所述TDI图像传感器的待分析数据，包括：当所述TDI图像传感器处于运行状态时，停止所述TDI图像传感器的运行直至所述TDI图像传感器冷却至常温，运行所述TDI图像传感器，并采集所述TDI图像传感器的待分析数据；当所述TDI图像传感器处于故障状态、停机状态、事后维修状态或预防性维护状态时，在检测到所述TDI图像传感器能够再次正常运行且所述TDI图像传感器为常温时，运行所述TDI图像传感器，并采集所述TDI图像传感器的待分析数据。5.根据权利要求2或4所述的方法，其特征在于，所述采集所述TDI图像传感器的待分析数据，包括：按照升序依次采集n个不同温度时，所述TDI图像传感器的焦距得到所述TDI图像传感器的待分析数据，其中，所述n个不同温度中，每两个相邻的温度差值为预设温度差，且所述n个不同温度中包括大于或等于常温的温度。6.一种TD...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋冬舜，王峰，樊超，廖中伟，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，重庆京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11