【技术实现步骤摘要】
本专利技术属光学零件光谱测量领域，具体涉及一种滤光片光谱测试装置及测试方法。
技术介绍
1、滤光片在光学系统中有非常重要的作用，而滤光片的光谱性能是重要的工作指标。为得到滤光片的光谱性能，需要使用分光光度计对滤光片进行检测。由于分光光度计测量光路设计限制，在对大口径（直径30mm以上）滤光片进行测试时，只能取得滤光片一小片区域的光谱性能。
2、公开号为cn218601143u公开了一种光谱仪应用于滤光片45度测试装置，本技术公开一种光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其包括发射光工位、测试工位和接收光工位；于发射光工位设置有宽光谱激光光源和光源光纤；于测试工位设置有测试放置机构，测试放置机构包括测试平台，贯穿测试平台设置有第一通光孔，测试平台上设置有45度测试放置座；于接收光工位设置有接收光纤；45度测试放置座包括定位安装部和产品放置斜面平台，贯穿产品放置斜面平台设置有第二通光孔；光源光纤的发射端、第一通光孔、第二通光孔、接收光纤的接收端处于同一中轴线构成激光测量路径；待测产品的法线与所述激光测量路径呈45度的夹角。本技术实现45度分光测试，降低因入射光角度偏差大而存在测量误差，降低光路中光量损耗。
3、现有测试只是依靠分光光度计内置的样品架放置零件，部分分光光度计厂家提供有角度旋转模块供选配。现有技术方式只能对样品进行简单测试，无法实现对样品测试点位精确定位，更无法实现精密的分区测试。
4、为此，本专利技术提供一种滤光片光谱测试装置及测试方法，通过在分光光度计上增加检测装置，实现对大口径滤光片
技术实现思路
1、为了克服现有分光光度计测量光路设计限制，在对大口径滤光片进行测试时，只能取得滤光片一小片区域的光谱性能的问题，本专利技术提供了一种滤光片光谱测试装置及测试方法，本专利技术中的转盘和和轨道上均设置有刻度，能按刻度精确设定滤光片转动角度、移动距离和旋转角度。用于解决对大口径滤光片进行多角度、多区域光谱测量的需要。
2、本专利技术采用的技术方案为：
3、一种滤光片光谱测试装置，包括分光光度计样品池，包括测试机构和滤光片，所述的测试机构设在分光光度计样品池的位置,所述的滤光片放置在测试机构中。
4、所述的测试机构包括底座、基准板、转盘、轨道、滑车、转动轴承、乘座和光阑片，所述的基准板安装在底座上，基准板上端与转盘连接，所述的滑车设在转盘上；所述的滑车上方通过转动轴承与乘座连接，所述的光阑片装在基准板侧面。
5、所述的基准板中间设置有通孔，与安装上方的转盘轴配合连接，使转盘转动。
6、所述的转盘上沿中线两侧设置固定轨道，轨道中间放置滑车。
7、所述的轨道上设有刻度。
8、所述的转盘上设有角度刻度。
9、所述的光阑片下端固定安装在基准板的侧面上，光阑片与基准板垂直设置，光阑片上部中心开有圆孔，并与测量光路同轴。
10、所述的乘座包括内乘座和外乘座，滤光片设在内乘座和外乘座内。
11、一种滤光片光谱测试方法，具体步骤为：测试时，将测试零件放置在乘座中，再将乘座安装在转动轴承中；根据测试要求指定的偏离测试零件中心距离值，推动滑车至轨道上标尺相同距离刻度与滑车箭头位置对应；再根据测试要求指定的角度值转动转盘至角度刻度基准板箭头位置对应；确认距离刻度与角度刻度后，然后启动测试程序执行第1光斑落点处的测试，第1光斑落点测试结束后，旋转乘座至第2光斑落点，启动测试程序；重复旋转-测试操作直至所有光斑落点都完成测试。
12、本专利技术的有益效果为：
13、本专利技术利用现有分光光度计及其配套测试软件进行光谱测量。在分光光度计样品池的位置加装测试机构,并将滤光片放置在测试机构中。滤光片位于分光光度计原有测试光路中的测量位。
14、本专利技术中基准板中间设置有通孔，与安装上方的转盘轴配合，可实现转盘的转动功能。实现了滤光片在测量光路的水平面绕垂直轴转动，达到改变测试光路与滤光片入射夹角的功能。
15、本专利技术中转盘上沿中线两侧设置固定轨道，轨道中间放置滑车。轨道与滑车配合可实现滑车在轨道限位内沿轴向移动。滑车上方设置有转动轴承，转动轴承中放置乘座，利用转动轴承可实现乘座转动功能，
16、本专利技术实现了滤光片在测量光路的水平面垂直方向移动，达到改变测试光路照射区域与滤光片距圆心指定距离区域的功能。实现了滤光片自转功能，达到改变测试光路照射区域覆盖区域的功能。
17、本专利技术中的转盘和和轨道上均设置有刻度，能按刻度精确设定滤光片转动角度、移动距离和旋转角度。
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1.一种滤光片光谱测试装置，包括分光光度计样品池，其特征在于：包括测试机构和滤光片（3），所述的测试机构设在分光光度计样品池的位置,所述的滤光片（3）放置在测试机构中。
2.根据权利要求1所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的测试机构包括底座（1）、基准板（2）、转盘（3）、轨道（4）、滑车（5）、转动轴承（6）、乘座（7）和光阑片（8），所述的基准板（2）安装在底座（1）上，基准板（2）上端与转盘（3）连接，所述的滑车（5）设在转盘（3）上；所述的滑车（5）上方通过转动轴承（6）与乘座（7）连接，所述的光阑片（8）装在基准板（2）侧面。
3.根据权利要求2所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的基准板（2）中间设置有通孔，与安装上方的转盘（3）轴配合连接，使转盘（3）转动。
4.根据权利要求2所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的转盘（3）上沿中线两侧设置固定轨道（4），轨道（4）中间放置滑车（5）。
5.根据权利要求4所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的轨道（4）上设有刻度。
7.根据权利要求1所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的光阑片（8）下端固定安装在基准板（2）的侧面上，光阑片（8）与基准板（2）垂直设置，光阑片（8）上部中心开有圆孔，并与测量光路同轴。
8.根据权利要求1所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的乘座（7）包括内乘座和外乘座，滤光片（3）设在内乘座和外乘座内。
9.根据权利要求1-8所述的任意一种滤光片光谱测试装置提供一种滤光片光谱测试方法，其特征在于：具体步骤为：测试时，将测试零件放置在乘座（7）中，再将乘座（7）安装在转动轴承（5）中；根据测试要求指定的偏离测试零件中心距离值，推动滑车（5）至轨道（4）上标尺相同距离刻度与滑车（5）箭头位置对应；再根据测试要求指定的角度值转动转盘（3）至角度刻度基准板（2）箭头位置对应；确认距离刻度与角度刻度后，然后启动测试程序执行第1光斑落点处的测试，第1光斑落点测试结束后，旋转乘座（7）至第2光斑落点，启动测试程序；重复旋转-测试操作直至所有光斑落点都完成测试。
...【技术特征摘要】
1.一种滤光片光谱测试装置，包括分光光度计样品池，其特征在于：包括测试机构和滤光片（3），所述的测试机构设在分光光度计样品池的位置,所述的滤光片（3）放置在测试机构中。
2.根据权利要求1所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的测试机构包括底座（1）、基准板（2）、转盘（3）、轨道（4）、滑车（5）、转动轴承（6）、乘座（7）和光阑片（8），所述的基准板（2）安装在底座（1）上，基准板（2）上端与转盘（3）连接，所述的滑车（5）设在转盘（3）上；所述的滑车（5）上方通过转动轴承（6）与乘座（7）连接，所述的光阑片（8）装在基准板（2）侧面。
3.根据权利要求2所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的基准板（2）中间设置有通孔，与安装上方的转盘（3）轴配合连接，使转盘（3）转动。
4.根据权利要求2所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的转盘（3）上沿中线两侧设置固定轨道（4），轨道（4）中间放置滑车（5）。
5.根据权利要求4所述的一种滤光片光谱测试装置，其特征在于：所述的轨道（4）上设有刻度。
6.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩彬，王莉虹，王远玲，李栋，敬娟，贺维，张勇，赵楠，陈艳，杨存斌，王刚，
申请(专利权)人：西安北方光电科技防务有限公司，
类型：发明
国别省市：
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