光电探测器频率响应测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光电探测器频率响应测量方法。该方法将光载波分为上、下两路；然后将微波信号强度调制于上路光载波上，生成载波抑制的光双边带调制信号，对下路光载波进行频移操作，同时测出载波抑制的光双边带调制信号的光功率PM以及频移后的下路光载波的光功率PA；将载波抑制的光双边带调制信号与频移后的下路光载波合束后输入待测光电探测器，并测出待测光电探测器输出信号中所包含的两个频率分量中任意一个的功率；最后根据所测量功率，计算出待测光电探测器在ωe‑Δω或ωe+Δω频率处的频率响应R(ωe‑Δω)、R(ωe+Δω)。本发明专利技术还公开了一种光电探测器频率响应测量装置。相比现有技术，本发明专利技术可有效拓展测量范围，提高测量精度，降低实现成本。

A method and device for measuring the frequency response of a photodetector

The invention discloses a method for measuring the frequency response of a photoelectric detector. The optical carrier is divided into upper and lower two; then the microwave signal intensity modulated on optical carrier on the road, the light generated carrier suppression double sideband modulation signal, frequency shift operation of optical carrier, the optical power of PA measured at the same time the way optical carrier carrier suppression optical double sideband modulation signal light power PM and the frequency shift of the optical carrier suppression; the double sideband modulation signal and frequency shift after the optical carrier beam input after the photoelectric detector to be measured, and the measured power measured two arbitrary frequency components contained in the output signal of the photoelectric detector in one; finally according to the measured power. To calculate the measured photodetector at the Omega e delta omega or omega delta omega e+ frequency the frequency response of R (e Omega delta omega), R (e+, Omega delta omega). The invention also discloses a device for measuring the frequency response of a photoelectric detector. Compared with the existing technology, the invention can effectively expand the measurement range, improve the measurement accuracy and reduce the cost of realization.

【技术实现步骤摘要】
光电探测器频率响应测量方法及装置
本专利技术涉及一种光电探测器频率响应测量方法，属于光电器件测量和微波光子学

技术介绍
光纤通信具有抗电磁干扰、抗腐蚀、质量轻、容量大等诸多优点，因而广泛应用于高能物理、抗核辐射通信系统、潜艇、军舰、飞机、导弹控制通信系统以及互联网等众多领域。当前光纤通信正往高速率、高效率、大容量以及长距离光纤传输方向发展。随着信息化程度越来越高，对光纤通信传输系统的速率也提出了相应的要求。光电探测器是光纤通信系统的关键器件之一，其研制、检测和应用需首先测量频谱响应。上个世纪五十年代，人们已经开始光电探测器频谱响应测量的研究，现今已经发展出了诸多光电探测器频谱响应测试方法，大致可分为两类：时域法和频域法。时域法测量光电探测器频率响应的关键器件是采样示波器，但是时域法的局限性在于测量光电探测器的频率范围受采样示波器带宽限制。频域法又可细分为外差拍频和外部调制两大类。典型的测量方法比如矢量网络分析法(带宽受限、精度不高)、利用半导体光放大器的白噪声测量法(灵敏度不够)、光外差法(相位、振幅、偏振态匹配要求高)。因此，迫切需要研究新型的测量方法来提高光电探测器频率本文档来自技高网...

【技术保护点】
光电探测器频率响应测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、将光载波分为上、下两路；步骤2、将频率为ωe的微波信号强度调制于上路光载波上，生成载波抑制的光双边带调制信号，对下路光载波进行频移量为Δω的频移操作；同时测出载波抑制的光双边带调制信号的光功率PM以及频移后的下路光载波的光功率PA；步骤3、将载波抑制的光双边带调制信号与频移后的下路光载波合束后输入待测光电探测器，并测出待测光电探测器输出信号中所包含的ωe‑Δω和ωe+Δω这两个频率分量的功率PUC、PLC中的任意一个；步骤4、利用以下公式计算出待测光电探测器在ωe‑Δω频率处的频率响应R(ωe‑Δω)或在ωe+Δω频率处的频率响应R...

【技术特征摘要】
1.光电探测器频率响应测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、将光载波分为上、下两路；步骤2、将频率为ωe的微波信号强度调制于上路光载波上，生成载波抑制的光双边带调制信号，对下路光载波进行频移量为Δω的频移操作；同时测出载波抑制的光双边带调制信号的光功率PM以及频移后的下路光载波的光功率PA；步骤3、将载波抑制的光双边带调制信号与频移后的下路光载波合束后输入待测光电探测器，并测出待测光电探测器输出信号中所包含的ωe-Δω和ωe+Δω这两个频率分量的功率PUC、PLC中的任意一个；步骤4、利用以下公式计算出待测光电探测器在ωe-Δω频率处的频率响应R(ωe-Δω)或在ωe+Δω频率处的频率响应R(ωe+Δω)：其中，ZL为待测光电探测器的匹配阻抗。2.如权利要求1所述方法，其特征在于，还包括：步骤5、对所述微波信号的频率扫频并重复步骤1～步骤4，得到待测光电探测器的频谱响应。3.光电探测器频率响应测量装置，其特征在于，包括：光源，用于输出光载波；光分束器，用于将所述光载波分为上、下两路；微波源，用于输出频率为ωe的微波信号；调制单元，用于将所述微波信号强度调制于上路光载...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛敏，潘时龙，衡雨清，余彩云，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32