【技术实现步骤摘要】
高真空的红外线传感器及其封装方法
本专利技术有关一种红外线传感器,尤指一种无热电致冷器(ThermoelectricCooling,TEC)的二件式高真空封装的红外线传感器。
技术介绍
已知,目前用以感测热源辐射的红外线传感器的结构具有一金属基座,该金属基座具有一腔体,该腔体中固设有一热电致冷器(TEC),于该热电致冷器的表面上固接有一红外线感测芯片,且于该腔体内固设有一吸气剂,在于该金属基座上方设有焊料片,以该焊料片将一玻璃层固接于金属基座上。红外线传感器在运用时,外部的热源辐射(红外线)通过玻璃层进入于腔体中,该热源辐射将被红外线感测芯片感测以输出清晰的图像。以吸气剂使该腔体保一真空度状态,并以该热电致冷器吸取红外线感测芯片工作时所产生的热源,使该红外线感测芯片能正常工作。由于上述的红外线传感器的吸气剂与红外感测芯片在金属基座同一侧,吸气剂激活需要在高温环境下(>300度以上),这导致红外感测芯片无法承受这样的高温,而失去感测温度的功效。吸气剂与红外线感测芯片位于同侧、金属基座需制作焊垫与吸气剂接着,致使金属基座制作成本较高。吸气剂与红外线感测芯片同侧设计、其激活方式需采电激方式,无法使用加热式激活,因电激方式所使用的机台构造费用造价较高。且在金属基座内固设有热电致冷器,使封装后模块体积无法以较微小化设计呈现使用体积较大。
技术实现思路
为了解决上述技术问题,本专利技术提供一种高真空的红外线传感器封装方法,包括:a)、备有一基座,该基座具有一腔体及多个导电部,该多个导电部一端延伸于该腔体内形成裸露状态的焊点;b)、于该基座的腔体涂布胶体,将一 ...
【技术保护点】
一种高真空的红外线传感器封装方法,其特征在于,包括:a)、备有一基座,该基座具有一腔体及多个导电部,该多个导电部一端延伸于该腔体内形成裸露状态的焊点;b)、于该基座的腔体涂布胶体,将一红外线感测芯片黏着于该腔体内部,该红外线感测芯片具有一红外线的晶圆,该晶圆电性黏贴到电路板上,该电路板上具有多个导电接点;c)、以电浆清洗基座的该多个焊点及该红外线感测芯片的该多个导电接点;d)、将多条的金属导线电性链接于该基座的该多个焊点及该红外线感测芯片的该多个导电接点之间;e)、将焊料片置于该基的腔体中,检测焊料片的焊接稳固性;f)、以输入信号给红外线感测芯片,以测试该红外线感测芯片的晶圆是否有损坏;g)、备有一光学透视窗,以电浆清洗该光学透视窗;h)、以黏着技术或涂布技术将该吸气剂固接于该光学透视窗上;i)、将步骤h)的光学透视窗及固晶有红外线感测芯片的基座一起送入于回焊炉中;j)、以加热方式对光学透视窗上的吸气剂进行加热,激活该吸气剂达到工作状态;k)、以该回焊炉将该基座的焊料片熔解将该光学透视窗焊接于该基座上,使该腔体形成高真空状态。
【技术特征摘要】
1.一种高真空的红外线传感器封装方法,其特征在于,包括:a)、备有一基座,该基座具有一腔体及多个导电部,该多个导电部一端延伸于该腔体内形成裸露状态的焊点;b)、于该基座的腔体涂布胶体,将一红外线感测芯片黏着于该腔体内部,该红外线感测芯片具有一红外线的晶圆,该晶圆电性黏贴到电路板上,该电路板上具有多个导电接点;c)、以电浆清洗基座的该多个焊点及该红外线感测芯片的该多个导电接点;d)、将多条的金属导线电性链接于该基座的该多个焊点及该红外线感测芯片的该多个导电接点之间;e)、将焊料片置于该基的腔体中,检测焊料片的焊接稳固性;f)、以输入信号给红外线感测芯片,以测试该红外线感测芯片的晶圆是否有损坏;g)、备有一光学透视窗,以电浆清洗该光学透视窗;h)、以黏着技术或涂布技术将该吸气剂固接于该光学透视窗上;i)、将步骤h)的光学透视窗及固晶有红外线感测芯片的基座一起送入于回焊炉中;j)、以加热方式对光学透视窗上的吸气剂进行加热,激活该吸气剂达到工作状态;k)、以该回焊炉将该基座的焊料片熔解将该光学透视窗焊接于该基座上,使该腔体形成高真空状态。2.如权利要求1所述的高真空的红外线传感器封装方法,其特征在于,在a)步骤中该基座的腔体具有一凸垣部,使该焊料片设于该凸垣部上。3.如权利要求1所述的高真空的红外线传感器封装方法,其特征在于,在a)步骤的该基座为塑料或陶瓷材料,该基座的该多个导电部为有引脚的接脚,该导电部设于该基座二侧形成相对应状态的双列式封装结构,或多个该接脚可设于该基座的四边。4.如权利要求1所述的高真空的红外线传感器封装方法,其特征在于,在a)步骤的该基座为塑料或陶瓷材料,该基座为无引脚的基座,该多个导电部设于该基座的四边。5.如权利要求1所述的高真空的红外线传感器封装方法,其特征在于,在a)步骤与b)步骤之间还包含有清洗该基座及将基座烘干步骤。6.如权利要求1所述的高真空的红外线传感器封装方法,其特征在于,在b)步骤的该胶体为绝缘胶或导电胶。7.如权利要求1所述的高真空的红外线传感器封装方法,其特征在于,在b)步骤与c)步骤之间还包含:在该基座与该红外线感测芯片固晶后,送入于烤箱烘烤,使该胶体干涸。8.如权利要求1所述的高真空的红外线传感器封装方法,其特征在于,在g)步骤的该光学透视窗其上具有一第一表面及一第二表面,于该第二表面上设有一光罩层...
【专利技术属性】
技术研发人员:王志鑫,周雪峰,林明芳,方豫龙,
申请(专利权)人:菱光科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:中国台湾,71
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