一种芯片的验证方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种芯片的验证方法，在该验证方法中，首先依照芯片设计规格生成对应的待测试模块、相同的第一参考验证模型和第二参考验证模型；然后在验证的过程中，修改待测试模块和第一参考验证模型的输入数据为第二输入数据，可见在一段时间之后，待测试模块和第一参考验证模块会输出第二输入数据对应的输出数据，因此，可将该待测试模块的输出数据与第二参考验证模块的输出数据进行比较，如果不相等，则表示待测试模块之后的输出数据为第二输入数据对应的输出数据，且在后续的验证中，将待测试模块和第一参考验证模型的输出数据进行比较，即可以将待测试模块和第一参考验证模型的输出数据进行对齐了。

A method and device for verification of a chip

To verify the method of the invention provides a chip, in the verification method, the first reference verification model and second reference model in accordance with the first chip design specifications to generate the corresponding test module, the same; then in the verification process, modify the input data to test module and the first reference to verify the model input data is second. Visible after a period of time, the output data, the test module and the first reference verification module will output second input data corresponding to the result, can compare the output data of output data and second reference verification module of the module to be tested, if not equal, said output data output data after the test data input module corresponding to the second, and in the subsequent verification, compare the output data to be test module and the first reference model It is possible to align the output data of the test module and the first reference validation model.

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的验证方法和装置
本专利技术涉及芯片设计领域，尤其涉及一种芯片的验证方法和装置。
技术介绍
在芯片的设计过程中，设计人员会依据芯片设计规格来编写RTL（RegisterTransferLevel，寄存器传输级）代码，之后验证人员便开始对RTL代码（通常称其为DUT，DesignUnderTest，待测试模块）进行验证，从而确保从芯片设计规格到RTL代码转变的正确性。芯片内部的寄存器和/或存储器中的值能够完整的描述芯片的状态，因此，通过将芯片内部的寄存器和/或存储器中的值与预设执行结果比较，就能够准确的判断出该待测模块是否通过验证。UVM（UniversalVerificationMethodology，通用验证方法学）是一个常用的验证平台开发框架，如图1所示，在进行芯片的寄存器验证时，在UVM平台上架构有待测试模块（DUT）1和参考验证模型（ReferenceMode）2，参考验证模型2用于完成和待测试模块1相同的功能，得到预期结果，可采用高级语言编写；在验证时，向待测试模块1和参考验证模型2提供相同的输入数据（输入数据会被读到这两个模块的内部的寄存器和/或存储器中）并开始验本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片的验证方法，其特征在于，包括以下步骤：依照芯片设计规格生成对应的待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型，所述第一参考验证模型和第二参考验证模型相同；向所述待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型输入第一输入数据，并开始芯片验证；将所述待测试模块和第一参考验证模型的输入数据修改为第二输入数据，获取第一参考验证模型的第一输出数据序列、第二参考验证模型的第二输出数据序列和待测试模块的第三输出数据序列，所述第一输出数据序列、第二输出数据序列和第三输出数据序列均以时间顺序排列；在确定第三输出数据序列和第二输出数据序列的前L位均相同、第L位不相同，并且第三输出数据序列和第一输出数据序...

【技术特征摘要】
1.一种芯片的验证方法，其特征在于，包括以下步骤：依照芯片设计规格生成对应的待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型，所述第一参考验证模型和第二参考验证模型相同；向所述待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型输入第一输入数据，并开始芯片验证；将所述待测试模块和第一参考验证模型的输入数据修改为第二输入数据，获取第一参考验证模型的第一输出数据序列、第二参考验证模型的第二输出数据序列和待测试模块的第三输出数据序列，所述第一输出数据序列、第二输出数据序列和第三输出数据序列均以时间顺序排列；在确定第三输出数据序列和第二输出数据序列的前L位均相同、第L位不相同，并且第三输出数据序列和第一输出数据序列的第L位相同时，则在后续芯片验证中，将第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的数据进行比较，L为自然数。2.根据权利要求1所述的芯片的验证方法，其特征在于，还包括以下步骤：在确定第三输出数据序列的第M位和第一输出数据序列的第M位不相同、且第三输出数据序列的第M位和第二输出数据序列的第M位也不相同时，则所述待测试模块没有通过测试，M为自然数。3.根据权利要求1所述的芯片的验证方法，其特征在于，所述在后续芯片验证中，将第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的数据进行比较，包括：在后续芯片验证中，在确定第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的所有相同位置的数据都相等，则所述待测试模块通过测试。4.根据权利要求3所述的芯片的验证方法，其特征在于，所述在后续芯片验证中，将第三输出数据序列与第一输出数据序列进行比较，包括：在后续芯片验证中，在确定第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的任一相同位置的数据不相等，则所述待测试模块没有通过测试。5.根据权利要求1所述的芯片的验证方法，其特征在于，所述获取第一参考验证模型的第一输出数据序列、第二参考验证模型的第二输出数据序列和待测试模块的第三输出数据序列，包括：从第一参考验证模型、第二参考验证模型和...

【专利技术属性】
技术研发人员：江源，孙冠男，蔡晓艳，
申请(专利权)人：盛科网络苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32