一种SOC芯片的验证方法及系统技术方案

本发明专利技术适用于芯片技术领域，本发明专利技术实施例提供了一种SOC芯片的验证方法，所述方法包括下述步骤：加载测试程序；根据所述测试程序在系统接口函数库中调用相应的系统函数，根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务；根据所述随机事务，对待测试芯片进行验证。本发明专利技术使得软件工程师编写的测试程序可以直接在现有的验证平台上运行，实现了软硬件协同验证，同时把低层信息进行封装，使得验证系统便于使用，且易于复用。

【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于芯片
，尤其涉及一种SOC芯片的验证方法及系统。
技术介绍
芯片设计完成后需要进行验证，验证的主要任务是验证设计的正确性，确定芯片是否符合所有的设计规范。传统的验证方法是直接向量测试(direct vector test),直接向量测试是一种信号级验证，通过制造固定场景的激励直接在信号级上与待验证芯片进行通信，通过检查芯片引脚信号的值和变化来验证芯片的功能。这种验证方法要求必须事先设计出芯片的工作场景，验证人员直接处理非常低层次的信号级信息。采用这种验证方法，验证人员工作量很大，并且一些意外场景、错误处理场景不可能一一考虑和验证到，而导致验证不全面。当芯·片比较复杂、规模比较大时，直接向量测试的验证方法基本没有验证能力。由于是信号级的验证，验证平台直接与芯片的接口协议相关，验证平台重用性很差，芯片换代时原有的验证平台基本不可以重复使用，必须重新搭建新的验证平台。为了克服传统验证方法的缺点，芯片验证的发展趋势是提高抽象层次，进行事务级的验证。代表性的事务级(transaction level)验证方法是验证方法手册(VerificationMethodology Manu本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种SOC芯片的验证方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：加载测试程序；根据所述测试程序在系统接口函数库中调用相应的系统函数，根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务；根据所述随机事务，对待测试芯片进行验证。

【技术特征摘要】
1.一种SOC芯片的验证方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤 加载测试程序； 根据所述测试程序在系统接口函数库中调用相应的系统函数，根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务； 根据所述随机事务，对待测试芯片进行验证。2.如权利要求I所述的方法，其特征在于，当随机事务为随机测试事务时，所述根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务的步骤具体为 在待测试器件配置列表中，查找与所述待测试器件对应的待测试器件配置； 根据所述待测试器件配置，生成与测试事务对应的类对象； 对所述类对象进行随机； 根据对所述类对象进行随机的结果，生成测试事务。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测试器件配置包括待测试器件的寄存器映像和待测试器件的约束表达式，所述寄存器映像具体包括寄存器的名称、地址、位宽、默认配置值、当前配置值及前一次配置值，所述约束表达式限定待测试器件的随机参数的范围。4.如权利要求I所述的方法，其特征在于，当随机事务为随机IO操作事务时，所述根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务的步骤具体为 确定随机IO函数中需要随机化的随机参数； 通过IO列表，按时间先后顺序产生所述随机参数的随机值； 根据所述随机参数的随机值，生成随机IO操作事务。5.如权利要求I所述的方法，其特征在于，当随机事务为随机序列操作事务时，所述根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务的步骤具体为 确定测试程序需要的随机数或者随机序列的参数； 根据随机序列表及所述参数，计算测试程序需要的随机数或者随机序列； 将所述计算出的随机数或者随机序列返回给测试程序，并保存在随机序列表中。6.如权利要求I所述的方法，其特征在于，所述测试程序包括测试主程序和测试中断服务程序； 当待测试器件没有中断产生时，执行测试主程序； 当待测试器件发出中断请求时，执行中断服务程序。7.一种SOC芯片的验证系统，其特征在于，所述系统包括 加载器，用于加载测试程序； 随机事务产生器，用于根据所述加载器加载...

【专利技术属性】
技术研发人员：李新辉，
申请(专利权)人：炬力集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：