芯片验证平台及其实现芯片测试的方法技术

一种芯片验证平台及其实现芯片测试的方法，包括待测设计和行为级功能模型，所述行为级功能模型包括红外发射器模型、输入输出端口模型和晶振模型，尤其还包括LCD模型或Y2接口模型来扩充芯片测试功能。通过建立一个单输入参数的测试案例脚本以供引用，并对各测试案例的输入输出文件采用统一的定义来建立若干个测试案例联测的联测案例；运行所述联测案例可以无需人工干预，自动实现多个测试案例的结果判断，可靠性及可重复性好。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种，包括待测设计和行为级功能模型，所述行为级功能模型包括红外发射器模型、输入输出端口模型和晶振模型，尤其还包括LCD模型或Y2接口模型来扩充芯片测试功能。通过建立一个单输入参数的测试案例脚本以供引用，并对各测试案例的输入输出文件采用统一的定义来建立若干个测试案例联测的联测案例；运行所述联测案例可以无需人工干预，自动实现多个测试案例的结果判断，可靠性及可重复性好。【专利说明】
本专利技术涉及芯片验证平台，是针对集成电路设计的验证而做出的简易测试平台。
技术介绍
随着半导体集成电路的发展，集成电路芯片的规模越来越大，包含的模块也越来越多。为了便于快速而准确对芯片进行验证，使用测试平台(testbench)并基于该测试平台从软件方面进行调试来达成对芯片各种功能的验证已经成为一种普遍手段。申请号为200510007449.1的中国专利申请公开了一种较有代表性的验证平台及其软硬件架构。在现有使用测试平台对芯片进行验证过程的场合下，验证工程师需要用VERIL0G语言编写很多测试案例。一般验证工程师是根据待测设计(包括待验证芯片)的模块接口描述来编写各种激励文件，该激励文件通过验证平台转换成相应的激励信号传达到待测设计的设计电路上，验证工程师再通过观察该设计电路的输出响应来判断测试是否正确。所述观察例如但不限于人工肉眼观察仿真器的输出波形，有些验证工程师会编写一个用以自动判断的行为级模型，甚至对于一些深入芯片内部的配置使用FORCE语句来进行强制标注。上述现有技术的不足之处在于，针对新出现的包括IXD触摸芯片在内的各种芯片，随着芯片设计规模的增加，采用观察输出波形这种人工干预的手工检验来获得测试结果的办法既原始又简单，可靠性及可重用性都不高，费时费力而无法满足项目时间上的要求；此外，由于设计电路的功能趋于多样性，如何解决多个测试内容的衔接来尽快完成芯片测试也是一个问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于避免上述现有技术的不足之处而提出一种芯片验证平台以及其实现芯片测试的方法，以达到自动、快速而高效地完成芯片测试。作为解决上述技术问题的技术方案是，提供一种芯片验证平台实现芯片测试的方法，包括构建芯片验证平台的步骤，该验证平台包括待测设计和若干行为级功能模型，所述行为级功能模型包括红外发射器模型、输入输出端口模型或晶振模型；尤其是，还包括:通过建立一个单输入参数的测试案例脚本以供各测试案例引用，并对各测试案例的输入输出文件采用统一的定义来建立若干个测试案例联测的联测案例步骤；其中每一测试案例均包括编写程序来对所述待测设计提供测试激励的子步骤、当前测试案例仿真结束输出测试结果的子步骤；运行所述联测案例的步骤。上述方案中，所述联测案例的运行包括过程:运行联测案例脚本；调用并运行带第一单输入参数的测试案例脚本；调用并运行带第二单输入参数的测试案例脚本；……以此类推，直至各个测试案例脚本被调用并运行结束。具体地，各所述测试案例脚本的调用及运行包括过程:根据所带单输入参数创建一与该单输入参数同名的当前测试案例文件夹；进入该文件夹调用VCS仿真器进入仿真，调用并运行与该单输入参数同名的汇编代码文本或与该单输入参数同名的激励文件；根据当前自动测试仿真结果来生成与该单输入参数同名的结果文件，结束并退出当前测试案例文件夹。上述方案中，所述自动测试仿真结果是根据汇编代码程序的特定执行地址来判断的。可以是，所述汇编代码文本中程序的正确入口地址排在错误入口地址之后。上述方案中，所述待测设计包括LCD触摸芯片，相应地，所述行为级功能模型还包括LCD模型，连接待测设计的LCD接口以接收并显示来自待测设计的显示内容。所述行为级功能模型还包括Y2接口模型，连接接待测设计的Y2接口以进行通信。作为解决上述技术问题的技术方案还是，提供一种芯片验证平台，包括待测设计和行为级功能模型，所述行为级功能模型包括红外发射器模型、输入输出端口模型和晶振模型，其中红外发射器模型连接接待测设计的红外遥控接口以接收并检查来自待测设计的遥控方波，输入输出端口模型连接待测设计的数字端口以进行通信，晶振模型连接待测设计的晶振接口以向该待测设计提供时钟；尤其是:所述行为级功能模型还包括LCD模型，连接待测设计的LCD接口以接收并显示来自待测设计的显示内容。上述方案中，所述行为级功能模型还包括Y2接口模型，连接接待测设计的Y2接口以进行通信。与现有其它技术比较，本专利技术方法适用于不同的测试案例能够进行统一的结果判断，便于实现多个测试案例的联测，且测试结果自动比对，无需人工干预，具有相当的可靠性及可重用性。此外，本专利技术验证平台对行为级功能模型的扩充使得可测试芯片的类型增力口，和测试功能更多。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术验证平台的架构； 图2a为单个IXD显示原理示意图，图2b为一个数字显示示例图； 图3为本专利技术汇编程序架构示例图； 图4为本专利技术联测案例脚本结构示例图。【具体实施方式】下面，结合附图所示之最佳实施例进一步阐述本专利技术。图1示意了本专利技术验证平台的系统架构。验证平台包括待测设计和行为级功能模型。所述待测设计(DUT, Design Under Testbench)包括设计电路,如芯片，为被验证的目标。该被验证的目标往往包括一个CPU核并以之为中央控制单元包括ROM、RAM、计数器等单元，以及通过各种模块(例如晶振模块接口、红外发生器控制模块、输入输出端口模块)控制的接口。本公司开发的芯片则还包括了用来连接IXD显示器接口的COM驱动模块和SEG驱动模块，用来连接Y2接口的Y2接口模块。行为级功能模型(BFM，Behavior FunctionModel)则模拟芯片的应用工作环境，且具有可配置的优点，便于用户在仿真器上用软件的方法来充分调试芯片功能。用户通过改变行为级功能模型的参数来改变激励信号，进而由待测设计得到的响应来判断待测设计是否达到要求目标。目前常用的行为级功能模型有红外发射器模型、输入输出端口模型和晶振模型。其中红外发射器模型连接接待测设计的红外遥控接口(包括脉冲输出口 REM)以接收并检查来自待测设计的遥控方波，输入输出端口模型连接待测设计的数字端口(例如但不限于5个4位并行口 PORTA?E中的任一个或多个)以进行通信，晶振模型连接待测设计的晶振接口(包括两根时钟线OSC和0SCX)以向该待测设计提供时钟。本专利技术验证平台针对IXD触摸芯片，提出一种新的行为级功能模型，即IXD显示器的行为级模型(为方便起见，简称LCD模型)，用来连接待测设计的LCD接口以接收并显示来自待测设计的显示内容。如图1所示，待测设计的LCD接口提供若干路SEG和若干路COM信号，以在LCD显示器上显示相应的数字或小数点，完整的显示效果例如但不限于如图2a所示，表示可点亮字段，相邻的各字母与数字为该点亮字段的符号(非显示效果部分，仅示意用)，通过控制不同的点亮字段可以显示15个数字和15个小数点，并使之按1/3、1/4、1/5或1/6占空比进行显示，并自动进行频率扫描、自动进行帧比对。根据图1可见，待测设计中CPU通过单元控制电路来控制IXD电源模块；连接并影响着IXD接口显示内容的是IXDRAM，因此用户可以对IXD RAM编程来指定显本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片验证平台，包括待测设计和行为级功能模型，所述行为级功能模型包括红外发射器模型、输入输出端口模型和晶振模型，其中红外发射器模型连接接待测设计的红外遥控接口以接收并检查来自待测设计的遥控方波，输入输出端口模型连接待测设计的数字端口以进行通信，晶振模型连接待测设计的晶振接口以向该待测设计提供时钟；其特征在于：所述行为级功能模型还包括LCD模型，连接待测设计的LCD接口以接收并显示来自待测设计的显示内容。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林繁，
申请(专利权)人：深圳市汇春科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44