一种CMOS电路的开启电压测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种CMOS电路的开启电压测试装置，包括：电路基板；设置于电路基板上用于插入待测芯片的插座；连接在电源正极与参考端之间的第一变阻器；与插座各管脚一一对应电连接的多个并联的第一开关，第一开关为多选一开关，至少包括第一可选端、第二可选端和第三可选端，第一可选端与电源正极电连接，第二可选端与参考端电连接，第三可选端获取第一变阻器的电压值；及用于测量第一可选端电流值的电流表和用于测量第三可选端电压值的电压表。本实用新型专利技术中CMOS电路的开启电压测试装置的体积小，便于携带，能够对芯片直接进行开启电压的测试，省去了测试机台进行测试的繁琐，实现了测试项目的针对性，满足了实际测试的需求。

A test device for opening voltage of CMOS circuit

The turn-on voltage test device, the utility model discloses a CMOS circuit includes a circuit substrate; arranged on the circuit substrate for the socket into the chip to be tested; the first varistor is connected between the power anode and reference end; the first switch and the socket of the pin corresponding to the electric multiple parallel connection, the first switch is choose a switch, comprising at least a first end and the second end and Optional Optional Optional optional third end, the first end is connected with the power supply cathode, second optional end is connected with the reference terminal, third optional side access to the voltage of the first resistor value; and for the measurement of the first optional terminal current value of the current table and used for measuring the terminal voltage of third optional the value of the voltage meter. The utility model in CMOS circuit turn-on voltage test device has the advantages of small volume, easy to carry, can open the test on the chip voltage directly, eliminating the tedious testing machine test, the test items to meet the actual needs of the test.

【技术实现步骤摘要】
一种CMOS电路的开启电压测试装置
本技术涉及微电子测试
更具体地，涉及一种CMOS电路的开启电压测试装置。
技术介绍
互补型金属氧化物半导体电路(ComplementaryMetal-Oxide-Semiconductor，CMOS)是一种基本单元电路反相器由N沟道和P沟道MOS场效应晶体管对管构成，以推挽形式工作，能实现一定逻辑功能的集成电路。由于其具有静态功耗低、逻辑摆幅大、抗干扰能力强、反应速度快和延迟时间短等特点，CMOS电路有着越来越广泛的应用。随着科学技术的发展，特别是随着核技术和空间技术的发展，越来越多的电子设备需要在各种辐射环境下使用。电子设备中的一些元器件受到外部环境中的辐射、光照等因素影响，会导致一些电参数发生改变，严重时可能会导致一些电子元器件功能失效，进而使电子设备不能正常的工作、运行。而CMOS电路广泛应用于卫星和核试验环境中，CMOS电路对核辐射尤其敏感。在CMOS电路中，开启电压是一种基本的电性能参数。开启电压，又称阈值电压，是使源极S和漏极D之间开始形成导电沟道所需的栅极电压。CMOS电路中的开启电压不仅对其他电参数有着重要的影响，而且同一器件N管和P管开启电压的匹配程度也影响着器件的电性能。器件经过辐照后，氧化层中的电子被大量激发成为自由电子，这使N管的开启电压降低，如果辐照后N管的开启电压降低的幅度比较大，会造成器件的功能失效和其他电参数的超差。因此，作为器件的重要参数指标，开启电压的测试成为一项经常性的测试项目。目前，开启电压的测试，主要依赖于功能比较复杂的测试机台，测试机台虽然可以同时测试开启电压和击穿电压等一系列电参数，但是体积大，不便于携带，而且在很多情况下，只需要测试开启电压一项指标，而不需要测试其它指标，所以设计一款测试开启电压的专用测试板是很有必要的。因此，需要提供一种CMOS电路的开启电压测试装置。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种体积小便于携带的CMOS电路的开启电压测试装置。为达到上述目的，本技术采用下述技术方案：一种CMOS电路的开启电压测试装置，包括：电路基板；设置于电路基板上用于插入待测芯片的插座；连接在电源正极与参考端之间的第一变阻器；与插座各管脚一一对应电连接的多个并联的第一开关；第一开关为多选一开关，至少包括第一可选端、第二可选端和第三可选端，第一可选端与电源正极电连接；第二可选端与参考端电连接；第三可选端获取第一变阻器的电压值；及用于测量第一可选端电流值的电流表和用于测量第三可选端电压值的电压表。通过将待测芯片插入上述CMOS电路的开启电压测试装置，可实现为待测芯片提供电源正极、参考端和一可变化的电压，从而实现对CMOS电路开启电压的测试。本技术中CMOS电路的开启电压测试装置的体积小，便于携带，能够对芯片直接进行开启电压的测试，省去了测试机台进行测试的繁琐；将开启电压与其他电性能参数分离测试，实现了测试项目的针对性，满足了实际测试的需求。可选的，插座为双列直插插座。本技术中的双列直插插座能够满足大部分芯片的测试需求，只需将待测芯片插入双列直插插座中，设置需要测试的管脚对应的第一开关的可选端位置即可完成CMOS电路开启电压的测试。测试设备体积小易于携带，测试过程简单方便，极大地满足了CMOS电路开启电压的测试要求。可选的，第一开关为N选一开关，其中，N为自然数且N≥3。可选的，第一开关为四选一开关。四选一开关在满足第一开关至少包括第一可选端、第二可选端和第三可选端的基础上，具有体积小的特点，进一步缩小了CMOS电路的开启电压测试装置的体积。可选的，CMOS电路的开启电压测试装置还包括设置于第二可选端与电源正极之间的第二开关，用于控制电路的通断。第二开关能够控制电路的通断，提高了测试过程的可控性。通过设置测试时第二开关导通和测试完成后第二开关断开，节省了电能，同时提高了测试过程的安全性。可选的，CMOS电路的开启电压测试装置还包括用于切换电压表的正负极的第一两路拨码开关。测试过程中，电压表用于测量第三可选端的电压值。测量时，NMOS管的开启电压VN为正值，PMOS管的开启电压VP为负值，通过切换电压表的正负极，可实现从电压表中直接读出待测的开启电压，从而省去了测量PMOS管开启电压VP时需要根据电压表读数进行计算的过程，简化了测量过程，提高了测量结果的可视性。可选的，CMOS电路的开启电压测试装置还包括连接在电源正极与参考端之间的第二变阻器，及用于控制第三可选端获取第一变阻器电压值或第二变阻器电压值的第二两路拨码开关。可选的，变阻器为滑动变阻器或变位器。本技术中通过设置可选的第一变阻器和变阻电位器，实现测量不同类型MOS管时采用不同的变阻器，减少了使用过程中变阻器开关旋钮或滑动的选择操作过程，延长了变阻器的使用寿命，同时还提高了开启电压的测试速度，优化了测试过程。本技术的有益效果如下：本技术中的CMOS电路的开启电压测试装置，通过将待测芯片插入上述CMOS电路的开启电压测试装置，可实现为待测芯片提供电源正极、参考端和一可变化的电压，从而实现对CMOS电路开启电压的测试。本技术中CMOS电路的开启电压测试装置的体积小，便于携带，能够对芯片直接进行开启电压的测试，省去了测试机台进行测试的繁琐；将开启电压与其他电性能参数分离测试，实现了测试项目的针对性，满足了实际测试的需求。附图说明下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明。图1示出测试装置的测试原理图。图2示出测试电流与测试电压关系曲线图。图3示出实施例1中CMOS电路的开启电压测试装置结构示意图。图4示出四选一开关结构示意图。图5示出实施例2中CMOS电路的开启电压测试装置结构示意图。图6示出实施例3中CMOS电路的开启电压测试装置结构示意图。具体实施方式为了更清楚地说明本技术，下面结合优选实施例和附图对本技术做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本技术的保护范围。本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的属于“第一”、“第二”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法或设备固有的气体步骤或单元。本技术提供一种体积小、便于携带的CMOS电路的开启电压测试装置，该装置包括：电路基板、设置于电路基板上用于插入待测芯片的插座、连接在电源正极与参考端之间的第一变阻器、与插座各管脚一一对应电连接的多个并联的第一开关、电流表和电压表。其中，第一开关为多选一开关，至少包括第一可选端、第二可选端和第三可选端。第一可选端与电源正极电连接，第二可选端与参考端电连接，第三可选端获取第一电位器的电压值。电流表用于测量第一可选端电流值，电压表用于测量第三可选端电压值。本技术中，通过将待测芯片插入上述CMOS电路的开启电压测试装置，可实现为待测芯片提供电源正极、参考端和一可变化的电压，从而实现本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种CMOS电路的开启电压测试装置，其特征在于，包括：电路基板；设置于所述电路基板上用于插入待测芯片的插座；连接在电源正极与参考端之间的第一变阻器；与所述插座各管脚一一对应电连接的多个并联的第一开关；所述第一开关为多选一开关，至少包括第一可选端、第二可选端和第三可选端，所述第一可选端与电源正极电连接；所述第二可选端与参考端电连接；所述第三可选端获取所述第一变阻器的电压值；及用于测量所述第一可选端电流值的电流表和用于测量所述第三可选端电压值的电压表。

【技术特征摘要】
1.一种CMOS电路的开启电压测试装置，其特征在于，包括：电路基板；设置于所述电路基板上用于插入待测芯片的插座；连接在电源正极与参考端之间的第一变阻器；与所述插座各管脚一一对应电连接的多个并联的第一开关；所述第一开关为多选一开关，至少包括第一可选端、第二可选端和第三可选端，所述第一可选端与电源正极电连接；所述第二可选端与参考端电连接；所述第三可选端获取所述第一变阻器的电压值；及用于测量所述第一可选端电流值的电流表和用于测量所述第三可选端电压值的电压表。2.根据权利要求1所述的CMOS电路的开启电压测试装置，其特征在于，所述插座为双列直插插座。3.根据权利要求1所述的CMOS电路的开启电压测试装置，其特征在于，所述第一开关为N选一开关，其中，N为自然数且N≥3。4.根据权利要求3所述的CMOS电路的开启电压...

【专利技术属性】
技术研发人员：苑宁，闫蕊，赵磊，吴迪，于江勇，
申请(专利权)人：北京宇翔电子有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11