半导体器件的测试机及其漏电检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术揭示了一种半导体器件的测试机及其漏电检测装置，该漏电检测装置包括：高压接入端口，与测试机的高压输出电路电连接；分压稳压电路，其输入端与高压接入端口电连接；漏电控制电路，其输入端与分压稳压电路的输出端电连接，漏电控制电路的第一继电器的触点与用于切断高压输入的控制继电器的线圈形成一控制回路，控制继电器的触点设置在测试机的高压输入电路中，分压稳压电路输出一电平信号时，第一继电器工作并控制控制继电器断开。半导体器件的测试机包括上述漏电检测装置。本实用新型专利技术的半导体器件的测试机及其漏电检测装置能够检测到测试机的高压输出电路是否漏电，并在检测出漏电的情况下，切断高压电源的供应，保护测试人员的安全。

Testing machine for semiconductor device and its leakage detection device

The utility model discloses testing machine and leakage detection device for a semiconductor device, the leakage detection device comprises: a high access port, high voltage output circuit and electrical testing machine is connected with a divider; voltage stabilizing circuit, the input terminal of the high voltage access port is electrically connected; leakage control circuit, the output terminal and the input ends voltage stabilizing circuit connected to the first contact relay leakage control circuit and relay control coil for cutting high voltage input form a control loop, contact control relay setting voltage input circuit in the test machine, pressure regulator circuit output level signal, the first relay and control relay off. The testing machine for semiconductor devices includes the above - mentioned leakage detection device. The tester of the semiconductor device and the leakage detection device of the utility model can detect whether the high voltage output circuit of the tester is leakage, and cut off the supply of the high-voltage power supply and protect the safety of the tester under the condition of detecting leakage.

【技术实现步骤摘要】
半导体器件的测试机及其漏电检测装置
本技术涉及半导体器件
，特别涉及一种半导体器件的测试机及其漏电检测装置。
技术介绍
对半导体器件（例如，二极管、三级管等）进行性能测试是半导体器件在生产过程中必备的工序，以剔除不合格的半导体器件，特别是对封装后的半导体器件进行测试，有利于提高出厂合格率。目前的一些测试机主要是由人工进行操作，即由测试人员拿着测试机的测试头对各个半导体器件进行测试，但是，若测试机的高压输出电路中的隔离继电器短路，则会导致高压电直接输出到测试机的测试头，对测试人员造成安全威胁。
技术实现思路
为了解决现有技术中的测试机存在高压输出继电器短路易造成测试人员安全威胁的问题，本技术提供了一种半导体器件的测试机的漏电检测装置。本技术另提供一种具有上述漏电检测装置的半导体器件。本技术提供一种半导体器件的测试机的漏电检测装置，包括：高压接入端口，与测试机的高压输出电路电连接；分压稳压电路，其输入端与所述高压接入端口电连接，并将所述高压接入端口输入的高压电压进行分压和稳压；漏电控制电路，其输入端与所述分压稳压电路的输出端电连接，所述漏电控制电路的第一继电器的触点与用于切断高压输入的控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体器件的测试机的漏电检测装置，其特征在于，包括：高压接入端口，与测试机的高压输出电路电连接；分压稳压电路，其输入端与所述高压接入端口电连接，并将所述高压接入端口输入的高压电压进行分压和稳压；漏电控制电路，其输入端与所述分压稳压电路的输出端电连接，所述漏电控制电路的第一继电器的触点与用于切断高压输入的控制继电器的线圈形成一控制回路，所述控制继电器的触点设置在所述测试机的高压输入电路中，所述分压稳压电路输出一电平信号时，所述第一继电器工作并控制所述控制继电器断开。

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件的测试机的漏电检测装置，其特征在于，包括：高压接入端口，与测试机的高压输出电路电连接；分压稳压电路，其输入端与所述高压接入端口电连接，并将所述高压接入端口输入的高压电压进行分压和稳压；漏电控制电路，其输入端与所述分压稳压电路的输出端电连接，所述漏电控制电路的第一继电器的触点与用于切断高压输入的控制继电器的线圈形成一控制回路，所述控制继电器的触点设置在所述测试机的高压输入电路中，所述分压稳压电路输出一电平信号时，所述第一继电器工作并控制所述控制继电器断开。2.根据权利要求1所述的半导体器件的测试机的漏电检测装置，其特征在于，所述漏电控制电路还包括LED报警灯，所述LED报警灯的负极连接所述分压稳压电路，所述LED报警灯的正极连接所述第一继电器的线圈。3.根据权利要求2所述的半导体器件的测试机的漏电检测装置，其特征在于，所述漏电控制电路还包括用于保持所述LED报警灯持续导通的自锁继电器，所述自锁继电器的线圈、所述LED报警灯、自锁继电器的触点构成一自锁回路，所述LED报警灯通过自锁继电器的线圈与第一电源连接，所述自锁继电器的触点连接所述LED报警灯的负极和地，所述第一继电器的线圈和所述自锁继电器的线圈并联连接。4.根据权利要求1所述的半导体器件的测试机的漏电检测装置，其特征在于，所述控制回路还包括三级管，所述控制继电器的线圈通过所述三级管接地，所述控制继电器的线圈通过所述第一继电器的触点连接第一电源。5.根据权利要求1所述的半导体器件的测试机的漏电检测装置，其特征在于，所述漏电检测装置还包括控制信号接入端口，所述控制信号接入端口与测试机的中央控制器电连接；所述漏电控制电路还包括第二继电器，所述第二继电器的线圈的一端与所述控制信号接入端口连接，另一端与第一电源连接，所述第二继电器的触点连接在所述高压接入端口和所述分压稳压电路的输入端之间，所述测试机的中央控制器通过所述控制信号接入端口向所述第二继电器发送控制信号，以控制所述第二继电器的触点的打开和闭合。6.根据权利要求5所述的半导体器件的测试机的漏电检测装置，其特征在于，所述第二继电器为两个，所述高压接入端口为...

【专利技术属性】
技术研发人员：覃勇华，谭碧云，都俊兴，王丽岩，郑小玉，
申请(专利权)人：深圳赛意法微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44