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本实用新型揭示了一种半导体器件的测试机及其漏电检测装置，该漏电检测装置包括：高压接入端口，与测试机的高压输出电路电连接；分压稳压电路，其输入端与高压接入端口电连接；漏电控制电路，其输入端与分压稳压电路的输出端电连接，漏电控制电路的第一继电器...
该专利属于深圳赛意法微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳赛意法微电子有限公司授权不得商用。

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