三维量测方法及三维量测装置制造方法及图纸

一种三维量测方法及三维量测装置。该三维量测方法包括：通过一视线检测单元，检测使用者的一面部朝向以及一眼球注视方向；通过一运算控制单元，依据该面部朝向以及该眼球注视方向决定一视线关注区，并依据该视线关注区设定一第一组扫描参数；以及通过一扫描检测单元，基于该第一组扫描参数对相应于该视线关注区的一第一扫描区执行一第一结构光扫描，并选择性地基于一第二组扫描参数针对该第一扫描区以外的一第二扫描区执行一第二结构光扫描。本发明专利技术可以节省扫描时间、加快处理速度，并提升针对使用者的视线关注区的扫描分辨率。

Three dimensional measurement method and three dimensional measuring device

A three dimensional measurement method and a three-dimensional measuring device. The 3D measurement method includes: through a sight detection unit, a face detection and eye gaze toward the user's direction; through a process control unit, on the basis of the face orientation and the eye gaze direction determines the view area of concern set a first set of scanning parameters and on the basis of the eye on Region; and through a scan detection unit, the first group of scanning parameters corresponding to the execution of a first eye on structure light scanning a first scan area based on the foundation and selectively to a second group of scanning parameters for the first scan region to implement a second structure to a second scan area light scanning. The invention can save the scanning time, speed up the processing speed, and improve the scanning resolution of the user's sight focus area.

【技术实现步骤摘要】
三维量测方法及三维量测装置
本专利技术涉及一种三维量测方法及三维量测装置。
技术介绍
近年来，三维量测技术的应用日渐普及，如具备双镜头的三维照相装置，其利用两镜头之间的视角差来测量物体与相机之间的距离。又如飞时测距(TimeofFly)技术，其藉由发射一检测光(如激光)，再量测该检测光从发射到接收所需的时间，以测得与物体的光反射处的距离。另有一结构光(structuredlight)扫描技术，其利用光投影设备将具有间隔光条的扫描线图样投射至物体表面，再通过光接收设备撷取被投影该扫描线图样的物体影像，从而分析并获得该物体的三维形貌信息。进一步说，由于物体的表面起伏通常会使投影于其上的光条产生形状畸变，故可从光条的畸变情况估测出物体的三维形貌。然而，虽然目前的三维量测技术大多可检测出场景的三维形貌，但相对的后端设备往往需花费相当的运算资源来计算出场景中各对象的每一点的三维信息，使得运算时间增加、硬件需求提高，进而增加时间及设备成本。因此，如何提出一种有效率的三维量测方法及应用其的三维量测装置，是目前业界所致力的课题之一。因此，需要提供一种三维量测方法及三维量测装置来解决上述问题。专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种三维量测方法，该三维量测方法包括：通过一视线检测单元，检测使用者的一面部朝向以及一眼球注视方向；通过一运算控制单元，依据该面部朝向以及该眼球注视方向决定一视线关注区，并依据该视线关注区设定一第一组扫描参数；以及通过一扫描检测单元，基于该第一组扫描参数对相应于该视线关注区的一第一扫描区执行一第一结构光扫描，并选择性地基于一第二组扫描参数针对该第一扫描区以外的一第二扫描区执行一第二结构光扫描。

【技术特征摘要】
2016.08.04 TW 1051247671.一种三维量测方法，该三维量测方法包括：通过一视线检测单元，检测使用者的一面部朝向以及一眼球注视方向；通过一运算控制单元，依据该面部朝向以及该眼球注视方向决定一视线关注区，并依据该视线关注区设定一第一组扫描参数；以及通过一扫描检测单元，基于该第一组扫描参数对相应于该视线关注区的一第一扫描区执行一第一结构光扫描，并选择性地基于一第二组扫描参数针对该第一扫描区以外的一第二扫描区执行一第二结构光扫描。2.如权利要求1所述的三维量测方法，其中该第一组扫描参数与该第二组扫描参数至少部分相异。3.如权利要求2所述的三维量测方法，其中该第一组扫描参数包括该第一扫描区的大小、形状及位置、针对该第一扫描区的一第一扫描分辨率、针对该第一扫描区的一第一扫描频率以及针对该第一扫描区的一第一扫描线图样至少其一，该第二组扫描参数包括该第二扫描区的大小、形状及位置、针对该第二扫描区的一第二扫描分辨率、针对该第二扫描区的一第二扫描频率以及针对该第二扫描区的一第二扫描线图样至少其一。4.如权利要求3所述的三维量测方法，其中当该第二结构光扫描被执行，针对该第一扫描区的该第一扫描分辨率大于针对该第二扫描区的该第二扫描分辨率。5.如权利要求3所述的三维量测方法，其中当该第二结构光扫描被执行，且针对该第一扫描区的该第一扫描分辨率等于针对该第二扫描区的该第二扫描分辨率，该三维量测方法还包括：对该第一扫描区执行该第一结构光扫描以取得一第一扫描数据；对该第二扫描区执行该第二结构光扫描以取得一第二扫描数据；以及只采用该第一扫描数据作深度估测处理，而不采用该第二扫描数据，以取得一物体三维形貌信息。6.如权利要求3所述的三维量测方法，其中当该第二结构光扫描被执行，且针对该第一扫描区的该第一扫描分辨率等于针对该第二扫描区的该第二扫描分辨率，该三维量测方法还包括：对该第一扫描区执行该第一结构光扫描以取得一第一扫描数据；对该第二扫描区执行该第二结构光扫描以取得一第二扫描数据；以及对该第一扫描数据以及该第二扫描数据作深度估测处理，以取得一物体三维形貌信息，其中该第一扫描数据相较于该第二扫描数据优先被该运算控制单元处理。7.如权利要求1所述的三维量测方法，其中该扫描检测单元具有一预设扫描分辨率，该三维量测方法还包括：自该视线关注区中辨识一或多个被注视物体；以及依据该一或多个被注视物体的位置及轮廓信息，增加该预设扫描分辨率，以作为针对该第一扫描区的该第一扫描分辨率。8.如权利要求1所述的三维量测方法，还包括：自该视线关注区中辨识一或多个被注视物体；以及依据该一或多个被注视物体的位置及轮廓信息，调整该第一扫描区，使该第一扫描区的范围至少包括该一或多个被注视物体。9.如权利要求1所述的三维量测方法，还包括：检测该使用者的一眼球注视时间；判断该眼球注视时间是否大于一时间阀值；当该眼球注视时间大于该时间阀值，进入一追踪模式，以增加针对该第一扫描区的一第一扫描分辨率；以及当该眼球注视时间小于该时间阀值，进入一省电模式，以降低针对该第一扫描区的该第一扫描分辨率。10.一种三维量测装置，该...

【专利技术属性】
技术研发人员：张耀宗，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71