一种全闪系统的健康巡检方法、系统及计算机设备技术方案

技术编号:17195877 阅读:37 留言:0更新日期:2018-02-03 22:39
本发明专利技术提供一种全闪系统的健康巡检方法、系统及计算机设备,该方法包括:当全闪系统距离上次进行健康巡检的时间,大于第一预设时间、小于第二预设时间时,判断所述全闪系统当前I/O带宽是否小于预设带宽;如果是,则对所述全闪系统的备电电路进行健康检测;如果否,则当所述全闪系统距离上次进行健康巡检的时间超过所述第二预设时间时,对所述全闪系统的备电电路进行健康检测。本发明专利技术提供的健康巡检方法,与现有技术相比,本方法能够明显降低对用户使用全闪系统的影响,实现SSD在全闪存阵列系统中进行健康巡检的同时,保证减少对用户体验的影响,确保系统的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种全闪系统的健康巡检方法、系统及计算机设备
本专利技术涉及计算机存储
,特别涉及一种全闪系统的健康巡检方法、系统及计算机设备。
技术介绍
全闪存阵列,顾名思义,在存储系统中用固态硬盘(SSD)或其他闪存介质代替传统硬盘(HDD)。全闪存阵列相对于传统存储的最大优势在于,在单位体积的情况下,系统能够提供更大的数据存储容量、更高的IOPS、更低的延时响应;目前市面上企业级SSD在进行设计时,一般均会包含掉电保护功能;即SSD在系统异常掉电时,迅速切换到备电模块,使DRAM(DynamicRandomAccessMemory,即动态随机存取存储器)中的Cache(缓存)刷新到NAND(NANDflashmemory,计算机闪存设备)中;任何电子元器件都一定的生命周期,不论企业级SSD备电电路是如何设计的,其所使用的备电器件的寿命均会温度、纹波电流、额定电压等影响,为了保证系统的可靠性,需要定期对备电器件的存储电量做健康巡检。通常在做SSD设计的过程中,其最小系统会包括控制器,DRAM和NANDFlash。由于DRAM是易失性存储介质,所以掉电后存放在DRAM中的数据就会消失,为了保本文档来自技高网...
一种全闪系统的健康巡检方法、系统及计算机设备

【技术保护点】
一种全闪系统的健康巡检方法,其特征在于,包括:当全闪系统距离上次进行健康巡检的时间,大于第一预设时间、小于第二预设时间时,判断所述全闪系统当前I/O带宽是否小于预设带宽;如果是,则对所述全闪系统的备电电路进行健康检测;如果否,则当所述全闪系统距离上次进行健康巡检的时间超过所述第二预设时间时,对所述全闪系统的备电电路进行健康检测。

【技术特征摘要】
1.一种全闪系统的健康巡检方法,其特征在于,包括:当全闪系统距离上次进行健康巡检的时间,大于第一预设时间、小于第二预设时间时,判断所述全闪系统当前I/O带宽是否小于预设带宽;如果是,则对所述全闪系统的备电电路进行健康检测;如果否,则当所述全闪系统距离上次进行健康巡检的时间超过所述第二预设时间时,对所述全闪系统的备电电路进行健康检测。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设带宽为所述全闪系统的10%带宽。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:记录本次健康巡检时间,以供下次健康巡检使用。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述对所述全闪系统的备电电路进行健康检测,包括:逐一对所述全闪系统的备电电路进行健康检测,直到所有备电电路被检测。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述逐一对所述全闪系统的备电电路进行健康监测的过程中,任意两个备电电路进行健康检测的间隔时间不小于任一备电电路的健康检测时间。6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述健康检测时间由以下公式求得:其中,所述t为健康检测时间,所述C为备电电路等效电容值,所述U1为备电电路充满电的电压值,所述U2为备电电路放电后的电压值,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:李鹏郑志林
申请(专利权)人:郑州云海信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:河南,41

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