检测系统技术方案

技术编号:17057236 阅读:36 留言:0更新日期:2018-01-17 20:34
一种检测系统,用以检测薄膜,其包含线扫描相机、光源装置、遮光单元及载运装置。光源装置对应位于线扫描相机的下方,光源装置包含有出光面。遮光单元设置于光源装置的出光面上,光源装置的光束仅能通过遮光单元的狭缝射出于遮光单元。载运装置位于线扫描相机及光源装置之间,载运装置能载运待测薄膜。由狭缝射出的光束能通过待测薄膜而进入线扫描相机中。线扫描相机的镜头尺寸为W,线扫描相机使用的光圈值为F,待测薄膜与光源装置的垂直距离为L1,线扫描相机与待测薄膜的垂直距离为L2,狭缝宽度为D,则在D≥L1/L2×W/F的情况下,能提升检测的效果。

detecting system

A detection system used to detect the film, which includes a line scanning camera, a light source device, a light shading unit and a carrier. The light source device is located at the bottom of the line scanning camera, and the light source device contains a light surface. The light shading unit is set on the light out surface of the light source device, and the light beam of the light source device can only be shot out of the shading unit through the slit of the light shading unit. The carrier is located between the line scanning camera and the light source device, and the carrier can carry the film to be measured. A beam emitted from a slit can enter a line scanning camera by the film to be measured. Line scan camera lens size W, using the line scan camera aperture value is F, when the vertical distance measuring film and light source device for L1 line scan camera and the film to be measured the vertical distance is L2, the slit width D, D = L1/L2 * W/F in the circumstances, can improve the detection of effect.

【技术实现步骤摘要】
检测系统
本技术涉及一种检测系统,特别是一种用于检测薄膜的检测系统。
技术介绍
对于各式薄膜应用的厂商而言,为了有效控管薄膜加工后生产出的产品质量,各厂商多会利用各式机台设备,对薄膜进行检测,以避免薄膜所存在的瑕疵,造成加工后的产品发生问题。因此,对于各个薄膜应用的厂商来说,如何对薄膜有效地进行瑕疵检测是最重要的问题之一。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种检测系统,用以解决现有薄膜检测装置无法有效地检测出薄膜的瑕疵的问题。为了实现上述目的,本技术提供了一种检测系统,该检测系统用以检测一待测薄膜,检测系统包含:一线扫描相机;一光源装置,对应位于线扫描相机的下方,光源装置包含有一出光面,出光面是面向线扫描相机的方向设置的;一遮光单元,设置于光源装置的出光面上,遮光单元包含有一狭缝,光源装置的光束仅能通过狭缝射出于遮光单元;以及一载运装置,位于线扫描相机及光源装置之间,载运装置能载运待测薄膜;其中,由狭缝射出的光束能通过待测薄膜而进入线扫描相机中。其中,线扫描相机的镜头的尺寸定义为W,线扫描相机使用的光圈值定义为F,待测薄膜与光源装置彼此间的垂直距离定义为L1,线扫描相机与待测薄膜彼此间的垂直距离定义为L2,狭缝的宽度定义为D,则D≥L1/L2×W/F。根据本技术的实施方式,遮光单元可拆卸地固定设置于光源装置上。根据本技术的实施方式,遮光单元包含有两个遮光件,两个遮光件可拆卸地固定设置于光源装置,且当两个遮光件固定设置于光源装置时,两个遮光件对应于出光面的位置形成有狭缝。根据本技术的实施方式,各遮光件位于出光面的部分上且对应遮蔽部分的出光面,而由出光面射出的部分光束被两个遮光件所遮蔽。根据本技术的实施方式,形成狭缝的两个遮光件的侧壁彼此相互平行。根据本技术的实施方式,遮光单元为涂布于出光面的不透光层。根据本技术的实施方式,遮光单元包含有一遮蔽部及至少两个固定部,遮蔽部彼此相对的两侧分别与两个固定部相连接,遮蔽部具有狭缝,遮光单元固定于光源装置时,遮蔽部对应位于出光面。根据本技术的实施方式,各固定部可拆卸地固定设置于光源装置上。本技术还提供了一种检测系统,该检测系统用以检测一待测薄膜,检测系统包含:一线扫描相机;一光源装置,对应位于线扫描相机的下方,光源装置包含有一出光面,出光面是面向线扫描相机的方向设置的;以及一载运装置,位于线扫描相机及光源装置之间,载运装置能载运待测薄膜。其中,线扫描相机的镜头的尺寸定义为W,线扫描相机使用的光圈值定义为F,待测薄膜与光源装置彼此间的垂直距离定义为L1,线扫描相机与待测薄膜彼此间的垂直距离定义为L2,出光面的宽度定义为D,则D≥L1/L2×W/F。根据本技术的实施方式,出光面为矩形。本技术的有益效果可以在于:可以有效地提升检测系统的检测效果。为使能更进一步了解本技术的特征及
技术实现思路
,请参阅以下有关本技术的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本技术加以限制者。附图说明图1为本技术的检测系统的示意图。图2为本技术的检测系统的光源装置及遮光单元的局部分解示意图。图3为本技术的检测系统的光源装置及遮光单元的组合示意图。图4为本技术的检测系统的光源装置及遮光单元的另一实施例的示意图。图5为本技术的检测系统的光源装置与遮光单元的又一实施例的示意图。图6为本技术的检测系统所输出的灰阶图。图7为现有的检测系统在与图6相同条件下输出的灰阶图。具体实施方式请一并参阅图1至图3,其为本技术的检测系统第一实施例的示意图。如图所示,检测系统1包含有一线扫描相机10、一光源装置20、一遮光单元30及一载运装置40。光源装置20对应位于该线扫描相机10的下方,且光源装置20包含有一出光面201,该出光面201则是面对线扫描相机10的方向设置,也就是说,光源装置20能由出光面201发出光束,以作为线扫描相机10撷取影像的光源。在实际应用中,所述光源装置20可以是利用多个发光二极管作为光束的来源;光源装置20于出光面201可以是对应设置有导光板、扩散片等相关构件,以使出光面201各位置具有均匀的出光亮度;光源装置20的外型及其出光面201的外型,皆可根据需求加以变化,于此不加以限制。遮光单元30可以是包含有两个遮光件31,各遮光件31的外型可以是对应于光源装置20的外型而设计,例如,本实施例图中,光源装置20大致呈现为长方体型,两个遮光件31则可以对应为L字型的构件。两个遮光件31可拆卸地固定设置于光源装置20;在实际应用中,各遮光件31可以是利用多个锁固件A(例如螺丝)与光源装置20相互固定,但不以此为限;在不同的应用中,光源装置20及两个遮光件31可以是分别具有相对应的卡合结构,而两个遮光件31则可透过该些卡合结构可拆卸地与光源装置20相互固定。在不同的实施例中,各遮光件31也可以是呈现为平板状,而各遮光件31可以是利用多个锁固件(例如螺丝),直接固定于出光面201的周缘,或是直接固定于出光面201。根据实际需求,所述遮光单元30也可以是直接黏合、胶合于光源装置20,不局限于可拆卸地与光源装置20相互固定。固定于光源装置20的两个遮光件31分别遮蔽光源装置20的部分出光面201,而两个遮光件31于面对光源装置20的位置形成有一狭缝S,由此,光源装置20所发出的光束,仅能通过该狭缝S而射出。优选地,两个遮光件31彼此相对的侧壁(对应形成狭缝S的两个彼此相对的侧壁)是相互平行地设置,且各遮光件31彼此相对的侧壁,是平行于该光源装置20的长度方向(即图中狭缝S的长度方向);换句话说,两个遮光件31及光源装置20(的出光面201)共同形成一个长方体的容槽,即为所述狭缝S。在本实施例中,当使用者需要使用不同宽度的狭缝S时,可以是仅置换一个遮光件31,即可改变两个遮光件31彼此间所形成的狭缝S的宽度。载运装置40设置于线扫描相机10及光源装置20之间,载运装置40用以载运待测薄膜F,而载运装置40能使待测薄膜F以预定的速度,向特定的方向移动。光源装置20通过狭缝S所射出的部分光束,能通过待测薄膜F进入线扫描相机10中。线扫描相机10及光源装置20能与载运装置40相互配合,而对待测薄膜F进行扫描,据以检测待测薄膜F是否存在有缺陷(例如:破孔、油污等)。如图4所示,在不同的实施例中,遮光单元30’可以是包含有一遮蔽部301及至少两个固定部302,遮蔽部301彼此相对的两侧分别与两个固定部302相连接,遮蔽部301具有前述狭缝S,遮光单元30’固定于光源装置20时,遮蔽部301能对应位于出光面201的上方。具体来说,所述遮蔽部301及两个固定部302可以是一体成型的构件,且两个固定部302可以是透过多个锁固件A(例如螺丝),可拆卸地固定于位于出光面201两侧的侧壁上。与前述实施例不同的是,相关使用者根据不同的狭缝S宽度的需求,可以直接置换整个遮光单元30。如图5所示,在另一实施例中,遮光单元30”可以是涂布于出光面201(请参考图2所示)的不透光层,而未被不透光层遮蔽的区域,即对应形成为所述狭缝S,如此透过涂布的方式,可以更有效地控制狭缝S各区段的宽度。当然,所述不透光层的材料必需为耐高本文档来自技高网
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检测系统

【技术保护点】
一种检测系统,其特征在于,该检测系统用以检测一待测薄膜,该检测系统包含:一线扫描相机;一光源装置,对应位于该线扫描相机的下方,该光源装置包含有一出光面,该出光面是面向该线扫描相机的方向设置的;一遮光单元,设置于该光源装置的该出光面上,该遮光单元包含有一狭缝,该光源装置的光束仅能通过该狭缝射出于该遮光单元;以及一载运装置,位于该线扫描相机及该光源装置之间,该载运装置能载运该待测薄膜;其中,由该狭缝射出的光束能通过该待测薄膜而进入该线扫描相机中;其中,该线扫描相机的镜头的尺寸定义为W,该线扫描相机使用的光圈值定义为F,该待测薄膜与该光源装置彼此间的垂直距离定义为L1,该线扫描相机与该待测薄膜彼此间的垂直距离定义为L2,该狭缝的宽度定义为D,则D≥L1/L2×W/F。

【技术特征摘要】
1.一种检测系统,其特征在于,该检测系统用以检测一待测薄膜,该检测系统包含:一线扫描相机;一光源装置,对应位于该线扫描相机的下方,该光源装置包含有一出光面,该出光面是面向该线扫描相机的方向设置的;一遮光单元,设置于该光源装置的该出光面上,该遮光单元包含有一狭缝,该光源装置的光束仅能通过该狭缝射出于该遮光单元;以及一载运装置,位于该线扫描相机及该光源装置之间,该载运装置能载运该待测薄膜;其中,由该狭缝射出的光束能通过该待测薄膜而进入该线扫描相机中;其中,该线扫描相机的镜头的尺寸定义为W,该线扫描相机使用的光圈值定义为F,该待测薄膜与该光源装置彼此间的垂直距离定义为L1,该线扫描相机与该待测薄膜彼此间的垂直距离定义为L2,该狭缝的宽度定义为D,则D≥L1/L2×W/F。2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,该遮光单元可拆卸地固定设置于该光源装置上。3.根据权利要求2所述的检测系统,其特征在于,该遮光单元包含有两个遮光件,两个该遮光件可拆卸地固定设置于该光源装置,且当两个该遮光件固定设置于该光源装置时,两个该遮光件对应于该出光面的位置形成有该狭缝。4.根据权利要求3所述的检测系统,其特征在于,各该遮光件位于该出光面的部分上且对应遮蔽部分的该出光面,而由该出光...

【专利技术属性】
技术研发人员:许轩兢
申请(专利权)人:香港商微觉视检测技术股份有限公司
类型:新型
国别省市:中国台湾,71

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