混合力测量制造技术

混合力感测包括获取至少一个框架侧电极的绝对电容的绝对电容测量值，获得所述至少一个框架侧电极和至少一个显示器侧电极之间的互电容的互电容测量值。混合力感测还包括从绝对电容测量值确定绝对电容导出力，从互电容测量值确定互电容导出力，以及组合所述绝对电容导出力和所述互电容导出力以获得组合力。混合力感测还包括基于所述组合力执行动作。

【技术实现步骤摘要】
混合力测量
本专利技术总体上涉及电子设备。
技术介绍
包括接近传感器设备（通常也称为触摸板或触摸传感器设备）的输入设备被广泛地用在多种电子系统中。接近传感器设备典型地包括常常通过表面来区分的感测区，在其中接近传感器设备确定一个或多个输入对象的存在、位置和/或运动。接近传感器设备可以用于为电子系统提供界面。例如，接近传感器设备常常被用作用于较大计算系统的输入设备（诸如集成在笔记本或台式计算机中或者在其外围的不透明触摸板）。接近传感器设备也常常被用在较小计算系统中（诸如集成在蜂窝电话中的触摸屏）。
技术实现思路
总体上，在一个方面，一个或多个实施例涉及用于混合力感测的方法，包括获取至少一个框架侧电极的绝对电容的绝对电容测量值，获取所述至少一个框架侧电极和至少一个显示器侧电极之间的互电容的互电容测量值。该方法还包括从绝对电容测量值确定绝对电容导出力，从互电容测量值确定互电容导出力，以及组合绝对电容导出力和互电容导出力以获得组合力。该方法还包括基于组合力来执行动作。总体上，在一个方面，一个或多个实施例涉及包括至少一个框架侧电极、至少一个显示器侧电极和处理系统的输入设备。处理系统被配置为获取至少一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于混合力感测的方法，包括：获取至少一个框架侧电极的绝对电容的多个绝对电容测量值；获取所述至少一个框架侧电极与至少一个显示器侧电极之间的互电容的多个互电容测量值；从所述多个绝对电容测量值确定绝对电容导出力；从所述多个互电容测量值确定互电容导出力；组合绝对电容导出力和互电容导出力以获得组合力；以及基于组合力执行动作。

【技术特征摘要】
2016.06.30 US 15/1997771.一种用于混合力感测的方法，包括：获取至少一个框架侧电极的绝对电容的多个绝对电容测量值；获取所述至少一个框架侧电极与至少一个显示器侧电极之间的互电容的多个互电容测量值；从所述多个绝对电容测量值确定绝对电容导出力；从所述多个互电容测量值确定互电容导出力；组合绝对电容导出力和互电容导出力以获得组合力；以及基于组合力执行动作。2.根据权利要求1所述的方法，其中组合所述绝对电容导出力和所述互电容导出力包括将所述绝对电容导出力和所述互电容导出力相加。3.根据权利要求1所述的方法，其中获取多个互电容测量值包括使用所述至少一个框架侧电极作为发射器电极和至少一个显示器侧电极作为接收器电极，其中所述发射器电极发送感测信号，并且所述接收器电极接收基于感测信号的作为结果的信号。4.根据权利要求1所述的方法，其中获取多个互电容测量值包括使用所述至少一个框架侧电极作为接收器电极和至少一个显示器侧电极作为发射器电极，其中所述发射器电极发送感测信号，并且所述接收器电极接收基于感测信号的作为结果的信号。5.根据权利要求1所述的方法，其中获取多个绝对电容测量值包括用参考电压调制所述至少一个框架侧电极并测量所述至少一个框架侧电极的绝对电容，其中所述绝对电容基于所述至少一个框架侧电极到输入装置的导电框架的距离。6.一种输入装置，包括：至少一个框架侧电极；至少一个显示器侧电极；和处理系统，其被配置为：获取至少一个框架侧电极的绝对电容的多个绝对电容测量值；获取所述至少一个框架侧电极和至少一个显示器侧电极之间的互电容的多个互电容测量值；从所述多个绝对电容测量值确定绝对电容导出力；从所述多个互电容测量值确定互电容导出力；组合所述绝对电容导出力和所述互电容导出力来获得组合力；和基于所述组合力执行动作。7.根据权利要求6所述的输入装置，还包括：显示器；第一可压缩层，其中所述至少一个显示器侧电极插入在所述显示器和所述第一可压缩层之间。8.根据权利要求7所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：D索尔文，
申请(专利权)人：辛纳普蒂克斯公司，
类型：发明
国别省市：美国,US