光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质，属于配向膜领域。所述方法包括：获取待测光配向膜的第一表面电阻值，第一表面电阻值是待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；获取待测光配向膜的第二表面电阻值，第二表面电阻值是待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于第二线段与第一目标方向的第二夹角；当第一表面电阻值和第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定待测光配向膜的配向能力合格。本发明专利技术的配向能力的检测可以不受基板反光能力的限制，从而提高了光配向膜配向能力检测的适用范围。

【技术实现步骤摘要】
光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质
本专利技术涉及配向膜领域，特别涉及一种光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质。
技术介绍
在液晶显示面板中，通常需要在彩膜基板和阵列基板上设置用于控制液晶分子排列方向和角度的配向膜，实际应用中，配向膜的种类较多，其中一种是光配向膜，光配向膜指的是采用光配向技术制备的配向膜。在光配向技术中，可以利用线性偏振光照射感光膜层，从而使该感光膜层具备配向能力。实际应用中通常需要对光配向膜的配向能力进行测试，以避免配向能力不合格的光配向膜对液晶显示面板的显示质量造成负面影响。相关技术中提供一种光配向膜的配向能力检测方法，在该配向能力检测方法中，可以使用测试光照射光配向膜，并接收光配向膜的不同部位反射的测试光，而后可以根据光配向膜的不同部位反射的测试光的相位差来判断光配向膜的配向能力是否合格。在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现现有技术至少存在以下问题：在采用相关技术中的方法对光配向膜的配向能力进行检测时，需要保证光配向膜所在基板不会反射测试光，因此相关技术的配向能力检测会受到基板反光能力的限制，适用范围较窄。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光配向膜的配向能力检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测光配向膜的第一表面电阻值，所述第一表面电阻值是所述待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；获取所述待测光配向膜的第二表面电阻值，所述第二表面电阻值是所述待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，所述第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于所述第二线段与所述第一目标方向的第二夹角，所述第一目标方向为在制备所述待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向；当所述第一表面电阻值和所述第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定所述待测光配向膜的配向能力合格。

【技术特征摘要】
1.一种光配向膜的配向能力检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测光配向膜的第一表面电阻值，所述第一表面电阻值是所述待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；获取所述待测光配向膜的第二表面电阻值，所述第二表面电阻值是所述待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，所述第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于所述第二线段与所述第一目标方向的第二夹角，所述第一目标方向为在制备所述待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向；当所述第一表面电阻值和所述第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定所述待测光配向膜的配向能力合格。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一线段与所述第二线段垂直。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一线段与所述第一目标方向的第一夹角为0。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一线段的长度等于所述第二线段的长度。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取待测光配向膜的第一表面电阻值之前，所述方法还包括：获取预设的合格的光配向膜的第一理想表面电阻值，所述第一理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第三线段的两个端点之间的电阻值；获取所述合格的光配向膜的第二理想表面电阻值，所述第二理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第四线段的两个端点之间的电阻值；根据所述第一理想表面电阻值和所述第二理想表面电阻值计算所述预设差距阈值；其中，所述第一线段、所述第二线段和所述第一目标方向所在直线组成第一图形，所述第三线段、所述第四线段和第二目标方向所在直线组成第二图形，所述第一图形与所述第二图形全等，所述第二目标方向为在制备所述合格的光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。6.一种光配向膜的配向能力检测装置，其特征在于，所述装置包括：第一获取模块，用于获取待测光配向膜的第一表面电阻值，所述第一表面电阻值是所述待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；...

【专利技术属性】
技术研发人员：张军，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11