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本发明公开了一种光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质，属于配向膜领域。所述方法包括：获取待测光配向膜的第一表面电阻值，第一表面电阻值是待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；获取待测光配向膜的第二表面电阻值，第二表面电阻值是待...该专利属于京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司授权不得商用。