晶闸管电流波形测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种晶闸管电流波形测试装置及方法，其中装置包括：连接有示波器的电流探头、第一开关、第一可调直流电源和第一电阻器，其中，第一开关、第一可调直流电源和第一电阻器依次连接组成第一串联电路，电流探头设置在第一串联电路上；还包括依次连接的第二开关、第二电阻器和第二可调直流电源。本发明专利技术提供的晶闸管电流波形测试装置及方法，通过测量低电压条件下晶闸管开通关断动态电流波形，并通过示波器显示，使检测人员能直观分辨出晶闸管电流波形是否存在电流波形跳变现象，从而筛选出那些低电压条件下门极特性不佳的器件，提高晶闸管工作可靠性。

Test device and method for current waveform of thyristor

The invention provides a thyristor current waveform test device and method, wherein the apparatus includes a current probe and oscilloscope connected to the first switch, the first adjustable DC power supply and a first resistor, a first switch, a first adjustable DC power supply and the first resistor is connected with a first series circuit, current probe is arranged in the first series the circuit includes second switches; also, connecting the second resistor and second adjustable DC power supply. The current waveform of the thyristor test device and method provided by the invention, on-off dynamic current waveform through low voltage measuring thyristor, and through the oscilloscope display, the detection personnel can directly distinguish the thyristor current waveform is current waveform jump phenomenon, so as to filter out those low voltage under the condition of the door extremely poor device characteristics, improve the working reliability of thyristor.

【技术实现步骤摘要】
晶闸管电流波形测试装置及方法
本专利技术涉及元器件领域，尤其涉及一种晶闸管电流波形测试装置及方法。
技术介绍
晶闸管实际工作时，尤其在主电路电压较低的工况下，若出现电流跳变，则会影响器件在低电压运行工况下的使用，晶闸管电流跳变可造成电路负载端的不稳定。在低电压大电流工况下若电流波形发生跳变，附加在元件上的di/dt很大，如晶闸管长期处于该运行工况下，会对晶闸管器件造成损伤；为确保晶闸管长期稳定工作，必须保证晶闸管在低电压条件下具备良好的开通关断动态电流特性及门极触发特性。低电压条件下，理想的晶闸管开通关断动态电流波形应该是平滑连续的，若电流波形发生异常跳变，说明晶闸管在低电压条件下门极特性不佳。c探究低电压条件下晶闸管器件发生跳变的原因，可从器件本身的内部物理结构分析。晶闸管内部是PNPN四层半导体结构，由三个PN结构成，如图1所示，晶闸管开通时，器件AK两端承受正向电压，内部三个PN结中有两个结处于正向偏置状态，而晶闸管关断过程，器件AK两端承受反向电压，内部有两个PN结处于反向偏置状态。由于PN结本身具有势垒电容，且由于载流子运动存在扩散电容，势垒电容和扩散电容合称为器件结电容。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶闸管电流波形测试装置，其特征在于，包括：连接有示波器的电流探头、第一开关、第一可调直流电源和第一电阻器，其中，第一开关、第一可调直流电源和第一电阻器依次连接组成第一串联电路，第一开关一端与第一可调直流电源的正极相连，另一端与晶闸管的阳极相连，第一电阻器与晶闸管的阴极相连，电流探头设置在第一串联电路上；还包括依次连接的第二开关、第二电阻器和第二可调直流电源，其中，第二开关与晶闸管的门极相连，第二可调直流电源的负极与晶闸管的阴极相连。

【技术特征摘要】
1.一种晶闸管电流波形测试装置，其特征在于，包括：连接有示波器的电流探头、第一开关、第一可调直流电源和第一电阻器，其中，第一开关、第一可调直流电源和第一电阻器依次连接组成第一串联电路，第一开关一端与第一可调直流电源的正极相连，另一端与晶闸管的阳极相连，第一电阻器与晶闸管的阴极相连，电流探头设置在第一串联电路上；还包括依次连接的第二开关、第二电阻器和第二可调直流电源，其中，第二开关与晶闸管的门极相连，第二可调直流电源的负极与晶闸管的阴极相连。2.根据权利要求1所述的晶闸管电流波形测试装置，其特征在于，第一可调直流电源的电压调节范围为0～60V，电流调节范围为0～3A。3.根据权利要求1所述的晶闸管电流波形测试装置，其特征在于，第二可调直流电源的电压调节范围为0～60V，电流调节范围为0～3A。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：彭军华，王真，刘栋，赵耿，高超，窦金龙，邹平，银登杰，焦莎莎，王飞，
申请(专利权)人：株洲中车时代电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43