缺陷检查方法及其设备技术

本发明专利技术涉及缺陷检查方法及其设备。缺陷检查设备(10)包括第一细长光源(14)以及其中形成有通孔(30)的机器底座(12)。在通孔(30)内设置有第二细长光源(16)和半反射镜(38)。来自第一细长光源(14)的第一细长光(L1)直接入射到待拍摄对象(20)(例如，汽车车身)上。另一方面，来自第二细长光源(16)的第二细长光(L2)在与第一细长光(L1)的前进方向垂直的方向上前进，此后被半反射镜(38)折射，从通孔(30)导出，并且入射到待拍摄对象(20)上。

Defect inspection method and its equipment

The invention relates to a defect inspection method and its equipment. The defect inspection device (10) includes a first slender light source (14) and a machine base (12) having a through hole (30). A second slender light source (16) and a semi reflector (38) are provided in the through hole (30). From the first elongate light source (14) the first fine wavelength (L1) incident to the subject (20) (e.g., auto body). On the other hand, from the second light source (16) of the second slender thin light (L2) with the first fine wavelength (L1) along the direction perpendicular to the direction of, then is the half mirror (38) refraction from the through holes (30) are derived, and the incident to the subject (20).

【技术实现步骤摘要】
缺陷检查方法及其设备
本专利技术涉及缺陷检查方法及其设备，该缺陷检查方法及其设备用于通过用条纹照明照射待拍摄对象来检查所述待拍摄对象上是否存在缺陷。
技术介绍
在制造汽车车身的制造过程中，对汽车车身执行喷漆。因此，设置涂覆膜。在这种情形下，在涂覆膜中会形成大约数十微米的突起或者换句话讲喷漆缺陷。如果形成这样的喷漆缺陷并且这些缺陷原样保留下来，则有损汽车车身的美观外观。为此原因，在形成涂覆膜之后，执行检查，以确定是否存在这样的喷漆缺陷。作为用于执行这种缺陷检查的缺陷检查设备，可存在用于检查突起的存在的引用装置，如日本特许专利公开2000-111490和日本特许专利公开2004-226316中公开的。更具体地，在日本特许专利公开2000-1111490中，公开了一种缺陷检查设备，在该缺陷检查设备中，共轴落射照明装置被构造成包括细长照明源和半反射镜，并且相机通过半反射镜来拍摄形成亮暗图案的照射位置。虽然在日本特许专利公开2000-111490中没有具体描述，但细长照明源和半反射镜被容纳在壳体中(参照日本特许专利公开2000-111490的图2)。在壳体中形成通孔。条纹照明被壳体内部中的半反本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种缺陷检查方法，所述缺陷检查方法通过相对于待拍摄对象(20)照射条纹照明并且基于从所述待拍摄对象(20)得到的图像来检查在所述待拍摄对象(20)上是否存在缺陷，所述缺陷检查方法包括以下步骤：从设置在机器底座(12)中的第一条纹照明照射单元(14)将第一条纹照明(L1)直接照射在所述待拍摄对象(20)上，同时由半反射镜(38)折射来自第二条纹照明照射单元(16)的第二条纹照明(L2)，并且将所述第二条纹照明(L2)穿过通孔(30)照射到所述待拍摄对象(20)上；以及由图像获取单元(40)透过所述半反射镜(38)来拍摄用所述第一条纹照明(L1)和所述第二条纹照明(L2)照射的所述待拍摄对象(20...

【技术特征摘要】
2016.06.09 JP 2016-1156411.一种缺陷检查方法，所述缺陷检查方法通过相对于待拍摄对象(20)照射条纹照明并且基于从所述待拍摄对象(20)得到的图像来检查在所述待拍摄对象(20)上是否存在缺陷，所述缺陷检查方法包括以下步骤：从设置在机器底座(12)中的第一条纹照明照射单元(14)将第一条纹照明(L1)直接照射在所述待拍摄对象(20)上，同时由半反射镜(38)折射来自第二条纹照明照射单元(16)的第二条纹照明(L2)，并且将所述第二条纹照明(L2)穿过通孔(30)照射到所述待拍摄对象(20)上；以及由图像获取单元(40)透过所述半反射镜(38)来拍摄用所述第一条纹照明(L1)和所述第二条纹照明(L2)照射的所述待拍摄对象(20)；其中，在通过移位装置使所述机器底座(12)、所述第二条纹照明照射单元(16)、所述半反射镜(38)和所述图像获取单元(40)移位的同时，连续地执行照射和拍摄。2.根据权利要求1所述的缺陷检查方法，其中：所述第二条纹照明照射单元(16)设置在形成在所述机器底座(12)中的所述通孔(30)中，并且所述第二条纹照明(L2)在相对于所述第一条纹照明(L1)的前进方向交叉的方向上前进；并且所述半反射镜(38)设置在所述通孔(30)中，并且所述第二条纹照明(L2)被向着所述待拍摄对象(20)折射。3.根据权利要求2所述的缺陷检查方法，其中：所述通孔(30)形成为矩形形状，并且所述第二条纹照明照射单元(16)安装在所述通孔(30)的第一内壁上，进一步地，所述第二条纹照明(L2)按向着面向所述第一内壁的第二内壁前进这样的方式照射；并且所述半反射镜(38)按与所述第二条纹照明照射单元(16)一起闭合所述通孔(30)这样的方式设置，并且设置成使得所述第二条纹照明(L2)被所述半反射镜(38)折射。4.根据权利要求1所述的缺陷检查方法，其中：所述第二条纹照明照射单元(16)设置在形成在所述机器底座(12)中的所述通孔(30)的上部开口附近，并且所述第二条纹照明(L2)在相对于所述第一条纹照明(L1)的前进方向交叉的方向上前进；并且所述半反射镜(38)设置在所述通孔(30)上方，并且所述第二条纹照明(L2)被向着所述待拍摄对象(20)折射。5.一种缺...

【专利技术属性】
技术研发人员：松本淳一，
申请(专利权)人：本田技研工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP