具有法拉第罩的测试块制造技术

技术编号:16753208 阅读:93 留言:0更新日期:2017-12-09 00:49
本发明专利技术描述了一种用于植入在连接待测试设备和给待测试设备供电的电源的电路中的测试块,所述待测试设备诸如是电量计或保护继电器,所述电源诸如是强度传感器和/或电压传感器,该测试块包括具有多个内部电路的基座(10),该内部电路能够允许将信息从电源传输至待测试设备;以及保护罩(11),其用于与基座(10)可移除地组装以形成其中容纳内部电路的封闭外罩。基座(10)和保护罩(11)配置成使得保护罩(11)的移除准许进入由基座(10)限定的接收区(12),并且能够通过插入来接收独立于测试块并且电连接至测试设备、特别是是电压计和/或安培计和/或虚设电流源的测试插头(13)。该基座(10)和该保护罩(11)包括导电元件,该导电元件彼此连接并且配置成确保连续性且磁性屏蔽封闭件使得由基座(10)和保护罩(11)限定的外罩是保护内部电路免受由基座(10)和保护罩(11)限定的外罩外部的磁场的法拉第罩。

A test block with a Faraday mask

The invention discloses a test block circuit for power supply connecting to be implanted in the test equipment and test equipment to the power supply of the device to be tested, such as electricity meter or protection relay, the power supply such as intensity sensor and / or voltage sensor, the test piece includes a base having a plurality of internal circuit the (10), the internal circuit allows information from power transmission to the device to be tested; and the protective cover (11), (10) and the base for removably assembled to form a closed housing which accommodates the internal circuit. The base (10) and a protective cover (11) is configured so that the protective cover (11) to remove the admission by the base (10) receiving area Limited (12), and can be inserted through the receiving independent test block and is electrically connected to test equipment, especially test plug and / or ammeter and voltmeter the dummy / or current source (13). The base (10) and the cover (11) includes a conductive element, the conductive element connected to each other and configured to ensure continuity and magnetic shielding enclosure made by the base (10) and a protective cover (11) Limited housing is to protect the internal circuit from the base (10) and a protective cover (11). The external magnetic field defined by Faraday hood.

【技术实现步骤摘要】
具有法拉第罩的测试块
本专利技术涉及一种用于植入在连接待测试设备和电源的电路中的测试块,该待测试设备特别是电量计或保护继电器,该电源特别是给待测试设备供电的强度传感器和/或电压传感器,一方面,该测试块包括具有多个内部电路的基座,该内部电路能够允许将信息从电源传输至待测试设备,另一方面,该测试块包括保护罩,该保护罩用于与该基座可拆卸地组装,以形成容纳内部电路的封闭外壳,该基座和该保护罩配置成使得该保护罩的移除允许接近由基座界定的接收区并且能够通过插入来接收独立于测试块的测试插头并且电连接至测试设备,该测试设备特别是电压计和/或安培计和/或虚设电流源。
技术介绍
几十年来,已知在将待测试设备连接至给待测试设备供电的电源电路中植入称为《测试块》或《测试连接器》的电气设备。作为示例,申请人以商标名《Essailec》商业化这种性质的测试块。通常,电源可包括与电气网络的确定相位相关联的电压传感器和/或强度传感器,而待测试设备可为用于控制至少一个断路器的电量计或保护继电器,其可能在由电源和保护继电器检测到过电压和/或过电流的情况下作用于所述相位的。常规地,该测试块包括基座和保护罩,该保护罩可移除本文档来自技高网...
具有法拉第罩的测试块

【技术保护点】
一种用于植入在连接待测试设备和给所述待测试设备供电的电源的电路中的测试块,所述待测试设备诸如是电量计或保护继电器,所述电源诸如是强度传感器和/或电压传感器,所述测试块包括:‑具有多个内部电路的基座(10),所述内部电路能够允许将信息从所述电源传输至所述待测试设备,‑保护罩(11),其用于与所述基座(10)可移除地组装以形成其中容纳所述内部电路的封闭外罩,‑所述基座(10)和所述保护罩(11)配置成使得所述保护罩(11)的移除准许进入由所述基座(10)限定的接收区(12),并且能够通过插入来接收独立于所述测试块并且电连接至测试设备,特别是电压计和/或安培计和/或虚设电流源的测试插头(13),所述...

【技术特征摘要】
2016.04.08 EP 16164356.41.一种用于植入在连接待测试设备和给所述待测试设备供电的电源的电路中的测试块,所述待测试设备诸如是电量计或保护继电器,所述电源诸如是强度传感器和/或电压传感器,所述测试块包括:-具有多个内部电路的基座(10),所述内部电路能够允许将信息从所述电源传输至所述待测试设备,-保护罩(11),其用于与所述基座(10)可移除地组装以形成其中容纳所述内部电路的封闭外罩,-所述基座(10)和所述保护罩(11)配置成使得所述保护罩(11)的移除准许进入由所述基座(10)限定的接收区(12),并且能够通过插入来接收独立于所述测试块并且电连接至测试设备,特别是电压计和/或安培计和/或虚设电流源的测试插头(13),所述测试块特征在于所述基座(10)和所述保护罩(11)包括导电元件,所述导电元件彼此连接并且配置成确保连续性且磁性屏蔽封闭件使得由所述基座(10)和所述保护罩(11)限定的所述外罩是保护所述内部电路免受由所述基座(10)和所述保护罩(11)限定的所述外罩外部的磁场的法拉第罩。2.根据权利要求1所述的测试块,其特征在于在所述基座(10)的所述外壁的全部或部分表面上,所述外壁内部和/或外部覆盖或由铝板构成。3.根据权利要求1或2中任一项所述的测试块,其特征在于在所述保护罩(11)的所述外壁的全部或部分表面上,所述外壁内部和/或外部覆盖或由铝板构成。4.根据权利要求1至3中任一项所述的测试块,其特征在于所述基座(10)包括至少一个多触头型输入插座(17),其可从所述外罩外侧进入并且具有触头,所述触头分别电连接至所述内部电路使得所述输入插座(17)同时连接至全部所述内部电路,所述输入插座(17)配置成使得其可连接至独立于所述测试块并且具有特别地经由多芯电缆电连接至所述电源的触头的第一多触头型连接器。5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试块,其特征在于所述基座(10)包括至少一个多触头型输出插座(18),其可从所述外罩外侧进入并且具有触头,所述触头分别电连接至所述内部电路使得所述输出插座(18)同时连接至全部所述内部电路,所述输出插座(18)配置成使得其可连接至独立于所述测试块并且具有特别地经由多芯电缆电连接至所述待测试设备的触头的第二多触头型连接器。6.根据权利要求4或5中任一项所述的测试块,其特征在于所述输入插座(17)和/或所述输出插座(18)各自是由包括具有8个触头位置的管脚的RJ45型公连接器或母连接器形成,每个所述管脚对应于所述相关插座(17、18)的触头。7.根据权利要求1至6中任一项所述的测试块,其特征在于所述基座(10)包括可移除盖(20),所述可移除盖相对于所述基座(10)的剩余部分的移除准许进入所述内部电路且所述可移除盖的性质和/或形状适用于所述输入和输出插座的性质,且所述可移除盖(20)包括构成所述法拉第罩的...

【专利技术属性】
技术研发人员:菲利普·弗朗斯亚历山大·夏耶
申请(专利权)人:ABB瑞士有限公司
类型:发明
国别省市:瑞士,CH

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