带RJ45型输入和输出插座的测试块制造技术

本发明专利技术涉及一种用于植入于连接待测试装置与给所述待测试装置供电的电源的电路中的测试块，所述待测试装置诸如是电量计或保护继电器，所述电源诸如是强度传感器和/或电压传感器。所述测试块包含：基座(10)，其包括多个内部电路，所述多个内部电路能够允许将信息从所述电源传输到所述待测试装置；以及保护罩(11)，其用于以可拆卸方式与所述基座(10)组装，以便形成容纳所述内部电路的封闭外罩。所述基座(10)和所述保护罩(11)被配置成使得所述保护罩(11)的移除允许进入由所述基座(10)限定并且能够通过插入而接收独立于所述测试块的测试插头(13)并且电连接到特别是电压计和/或电流计和/或虚设电流源的测试设备的接收区(12)。还描述一种测试器具。

Test block with RJ45 type input and output socket

The invention relates to a test block for embedding in a circuit connecting a test device to a power supply for the test device to be supplied. The test device is an electric meter or a protective relay, and the power source is an intensity sensor and / or a voltage sensor. The test piece comprises a base (10), which comprises a plurality of internal circuits of the plurality of internal circuit allows information from the power transmission to the device to be tested; and the protective cover (11), which is used for detachably with the base assembly (10), in order to form the closed cover accommodate the internal circuits. The base (10) and the cover (11) is configured so that the protective cover (11) removed allowed by the base (10) and can be inserted through the limited receiving independently of the test plug block test (13) and is electrically connected to the particular receiving area test the device voltage meter and / or galvanometer and / or nominal current source (12). A test instrument is also described.

【技术实现步骤摘要】
带RJ45型输入和输出插座的测试块
本专利技术涉及一种用于植入在连接待测试装置与电源的电路中的测试块，该待测试装置特别是电量计或保护继电器，该电源特别是给待测试装置供电的强度传感器和/或电压传感器，一方面，所述测试块包括具有多个内部电路的基座，所述内部电路能够允许将信息从所述电源传输到所述待测试装置，另一方面，测试块包括保护罩，所述保护罩用于与所述基座可拆卸地组装，以形成容纳所述内部电路的封闭外壳，所述基座和所述保护罩被配置成使得所述保护罩的移除允许接近由所述基座限定的接收区并且能够通过插入来接收独立于所述测试块的测试插头并且电连接连接至测试设备，所述测试设备特别是电压计和/或电流计和/或虚设电流源。
技术介绍
几十年来，已知在将待测试装置连接到给待测试装置供电的电源的电路中植入称为《测试块》或《测试连接器》的电气设备。作为实例，申请人以商品名《Essailec》商业化这种性质的测试块。通常，电源可以包含与电气网络的确定相位相关联的电压传感器和/或强度传感器，而待测试装置可以是用于控制至少一个断路器的电量计或保护继电器，其可能在由电源和保护继电器检测到过电压和/或过电流的情况下作用于所述相位。常规上，测试块包含基座和保护罩，所述保护罩可移除地组装在基座上，以便当罩紧固在基座上时根据标准IP40限定闭合且密封的外壳。外壳封闭并且保护多个彼此独立的内部电路。在基座的背面和/或侧面上，测试块包含允许将内部电路连接连接到电源的多个输入插座：每个输入插座连接连接到单个确定的内部电路，并且每个内部电路连接连接到单个输入插座。(译者注：inked应为linked，译文已修改，请确认)需要在输入插座中连接多个连接器，并且所述连接器自身通过包含多个独立导体股线的电缆连接到电源。测试块还包含多个布置在基座的背面和/或侧面的输出插座。这些输出插座允许根据其中每个输出插座连接到单个内部电路并且每个内部电路连接到单个输出插座的布置将内部电路连接到待测试装置。需要在输出插座中连接多个连接器，并且所述连接器自身通过包含多个独立导体股线的电缆连接到待测试装置。在基座的正面的侧面上移除保护罩允许接近由基座限定的接收区并且能够通过插入而接收独立于测试块的测试插头并且电连接到测试设备。通常，测试设备可包含电压计和/或安培计和/或虚设电流源。测试插头的插入具有直接取决于测试插头的设计而以预定方式临时地作用于所有或部分内部电路的状态和/或配置的效果，从而允许经由测试设备执行测量和/或相对于待测试装置的校准操作。测试插头包含致动元件，所述致动元件为此目的而被配置成能够取决于待执行的操作而适当地作用于全部或部分内部电路。即使当前实施的解决方案在效率和稳健性方面令人满意，但是它们不能完全令人满意。首先，需要将每个输入插座连接到电源并且将每个输出插座连接到待测试装置。这些操作在实践中并不理想，并且可能是错误的来源。此外，多个输入和输出插座之间的连接构件和许多相关联的连接器的倍增使得组装在技术上是复杂的且在成本方面是可以改善的。这还导致可能的故障因素或直接由于所使用的零件数目的错误接触的增加。
技术实现思路
本专利技术旨在解决以上列出的所有或部分缺点。在这一背景下，需要提供一种简单、稳健、容易且方便使用并且具成本效益的测试块。为此目的，提出一种用于植入于连接待测试装置与给所述待测试装置供电的电源的电路中的测试块，所述待测试设备诸如是电量计或保护继电器，所述电源诸如是强度传感器和/或电压传感器，所述测试块包含：-包括多个内部电路的基座，所述多个内部电路能够允许将信息从所述电源传输到所述待测试装置，-保护罩，用于以可拆卸方式与所述基座组装，以形成容纳所述内部电路的封闭外罩，-所述基座和所述保护罩被配置成使得所述保护罩的移除允许进入由所述基座限定的接收区。并且所述接收区能够通过插入而接收独立于所述测试块的测试插头并且电连接到测试设备(特别是电压计和/或电流计和/或虚设电流源)，所述基座包含：-至少一个多触点型输入插座，其可从外罩的外部进入，并且其触点分别电连接到所述内部电路，使得所述输入插座同时连接到所有内部电路，所述输入插座被配置成能够连接到独立于所述测试块并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到电源的第一多触点型连接器，-以及至少一个多触点型输出插座，其可从外罩的外部进入，并且其触点分别电连接到所述内部电路，使得所述输出插座同时连接到所有内部电路，所述输出插座被配置成能够连接到独立于所述测试块并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到所述待测试装置的第二多触点型连接器。根据特定实施例，所述基座和所述保护罩包含连接在一起并且被配置成确保连续性的导电元件，以及磁性屏蔽封闭件，诸如由所述基座限定的外罩，并且所述保护罩是相对于由所述基座和所述保护罩限定的所述外罩外部的磁场保护所述内部电路的法拉第笼。所述基座优选地包含可移除盖，其相对于所述基座的其余部分的移除允许进入所述内部电路，并且其性质和/或形状适合于所述输入和输出插座的性质。还提出了一种包含这种测试块和测试插头的测试器具，所述测试插头能够在移除保护罩之后插入由基座限定的接收区中，所述测试块的内部电路和测试插头被配置成使得只要测试插头被插入，测试插头的插入就会造成临时动作于测试块的所有或部分内部电路，所述临时作用使得其允许由于测试设备而关于待测试装置执行测量和/或校准操作。根据特定实施例，所述测试器具包含独立于测试块和测试插头的第一多触点型连接器，其与测试块的输入插座互补以便能够连接到测试块的输入插座，且其触点特别是经由多芯电缆电连接到电源，并且测试块的输入插座和第一连接器被配置成使得测试块的内部电路与电源之间的电连接是源于将所述第一连接器与所述测试块的所述输入插座连接的作用。所述测试器具优选地包含独立于测试块和测试插头的第二多触点型连接器，其与测试块的输出插座互补以便能够连接到测试块的输出插座，且其触点特别是经由多芯电缆电连接到待测试装置，并且测试块的输出插座和第二连接器被配置成使得所述内部电路与所述待测试装置之间的电连接是源于将所述第二连接器与所述测试块的所述输出插座连接的作用。优选地，测试插头一方面包含多个致动元件和多个电导体，所述多个电导体被配置成只要测试插头被插入到由基座限定的接收区中就以引起所述临时作用的方式作用于基座的内部电路，且另一方面包含多触点型输出插座，其触点分别连接到测试插头的全部或部分电导体，所述测试插头的输出插座被配置成使得能够连接到独立于测试块和测试插头并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到测试设备的第三多触点型连接器。所述测试器具可以被配置成使得当测试插头插入到由基座限定的接收区中时，连接到测试插头的输出插座的触点的电导体经由所有或部分内部电路电连接到测试块的基座的输出插座的全部或部分触点。所述测试插头的输出插座特别是由RJ45类型的公或母连接器形成，其包含具有8个触点位置的管脚，每个管脚对应于测试插头的输出插座的触点。根据特定实施例，所述测试器具包含独立于测试块和测试插头的第三多触点型连接器，其与测试插头的输出插座互补以便能够连接到测试插头的输出插座，且其触点特别是经由多芯电缆电连接到测试设备，并且测试插头的输出插座和第三连接器被配置成使得测试插头的电导体到测试设备的电连接是源于将所述第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于植入于连接待测试装置与给所述待测试装置供电的电源的电路中的测试块，所述待测试设备诸如是电量计或保护继电器，所述电源诸如是强度传感器和/或电压传感器所述测试块包含：‑包括多个内部电路的基座(10)，所述多个内部电路能够允许将信息从所述电源传输到所述待测试装置，‑保护罩(11)，其用于以可拆卸方式与所述基座(10)组装，以形成容纳所述内部电路的封闭外罩，‑所述基座(10)和所述保护罩(11)被配置成使得所述保护罩(11)的移除允许进入由所述基座(10)限定并且能够通过插入而接收独立于所述测试块的测试插头(13)并且电连接到特别是电压计和/或电流计和/或虚设电流源的测试设备的接收区(12)，所述测试块特征在于所述基座(10)包含：‑至少一个多触点型输入插座(17)，其可从所述外罩的外部进入，并且其触点分别电连接到所述内部电路，使得所述输入插座(17)同时连接到所有内部电路，所述输入插座(17)被配置成能够连接到独立于所述测试块并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到所述电源的第一多触点型连接器，‑至少一个多触点型输出插座(18)，其可从所述外罩的外部进入，并且其触点分别电连接到所述内部电路，使得所述输出插座(18)同时连接到所有内部电路，所述输出插座(18)被配置成能够连接到独立于所述测试块并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到所述待测试装置的第二多触点型连接器。...

【技术特征摘要】
2016.04.08 EP 16164352.31.一种用于植入于连接待测试装置与给所述待测试装置供电的电源的电路中的测试块，所述待测试设备诸如是电量计或保护继电器，所述电源诸如是强度传感器和/或电压传感器所述测试块包含：-包括多个内部电路的基座(10)，所述多个内部电路能够允许将信息从所述电源传输到所述待测试装置，-保护罩(11)，其用于以可拆卸方式与所述基座(10)组装，以形成容纳所述内部电路的封闭外罩，-所述基座(10)和所述保护罩(11)被配置成使得所述保护罩(11)的移除允许进入由所述基座(10)限定并且能够通过插入而接收独立于所述测试块的测试插头(13)并且电连接到特别是电压计和/或电流计和/或虚设电流源的测试设备的接收区(12)，所述测试块特征在于所述基座(10)包含：-至少一个多触点型输入插座(17)，其可从所述外罩的外部进入，并且其触点分别电连接到所述内部电路，使得所述输入插座(17)同时连接到所有内部电路，所述输入插座(17)被配置成能够连接到独立于所述测试块并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到所述电源的第一多触点型连接器，-至少一个多触点型输出插座(18)，其可从所述外罩的外部进入，并且其触点分别电连接到所述内部电路，使得所述输出插座(18)同时连接到所有内部电路，所述输出插座(18)被配置成能够连接到独立于所述测试块并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到所述待测试装置的第二多触点型连接器。2.根据权利要求1所述的测试块，其特征在于，所述基座(10)和所述保护罩(11)包含连接在一起并且被配置成确保连续性的导电元件，以及磁性屏蔽封闭件，诸如由所述基座(10)限定的外罩，并且所述保护罩(11)是相对于由所述基座(10)和所述保护罩(11)限定的所述外罩外部的磁场保护所述内部电路的法拉第笼。3.根据权利要求1或2所述的测试块，其特征在于，所述基座(10)包含可移除盖(20)，其相对于所述基座(10)的其余部分的移除允许进入所述内部电路，并且其性质和/或形状适合于所述输入插座(17)和所述输出插座(18)的性质。4.一种包含根据权利要求1到3中任一项所述的测试块和测试插头(13)的测试器具，所述测试插头能够在移除所述保护罩(11)之后插入由所述基座(10)限定的所述接收区(12)中，所述测试块的所述内部电路和所述测试插头(13)被配置成使得只要所述测试插头(13)被插入，所述测试插头(13)的插入就会对所述测试块的所有或部分所述内部电路造成临时作用，所述临时作用使得其允许由于所述测试设备而关于所述待测试装置执行测量和/或校准操作。5.根据权利要求4所述的测试器具，其特征在于，所述测试器具包含独立于所述测试块和所述测试插头(13)的第一多触点型连接器，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：菲利普·弗朗斯，亚历山大·夏耶，
申请(专利权)人：ABB瑞士有限公司，
类型：发明
国别省市：瑞士,CH