一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统技术方案

技术编号:16692961 阅读:65 留言:0更新日期:2017-12-02 07:11
本实用新型专利技术公开一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统,其特征在于,包括:PLC控制器,与PLC控制器连接的原点位置传感器、第一电机、第二电机,所述第一电机用来控制检测装置的升降运动,所述第二电机用来控制检测设备的水平运动,所述原点位置传感器包括两个,分别用来测定检测装置在竖直方向和水平方向上的原点;所述检测装置安装在一升降支架上,所述升降支架活动安装在升降导轨上,所述第一电机驱动升降导轨运动,所述第二电机驱动升降支架运动。本实用新型专利技术通过设置原点传感器,在瓷砖检测时PLC自动控制检测设备回到原点再开始进行检测,检测速度快、检测准确。

【技术实现步骤摘要】
一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统
本技术涉及瓷砖检测
,尤其涉及一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统。
技术介绍
目前,国内的大多数中小陶瓷企业仍然采用传统的人工检测方法,企业雇佣大量的工人使用卡尺、千分尺等工具对墙地砖进行接触测量。这种测量方式导致工人每天的工作量过大,甚至可能会产生一系列问题,如读数错误、测量不规范、瓷砖磨损严重等问题,进而影响了检测精度和产品质量。虽然国内也有一部分企业采用机械检测,但现有的机械检测设备大多为接触测量(接触测量是指将探头与陶瓷表面接触,通过机器自带的算法进行尺寸测量),接触测量虽然是代替人工测量的一种有效方式,但是接触测量也造成了瓷砖表面的磨损,降低了瓷砖质量,同时接触离线的测量方式检测效率低。意大利、德国等陶瓷装备制造强国虽早已实现墙地砖几何尺寸的在线测量。但是,国外产品售价高达每台检测设备13万欧元,每条自动分选包装线10万欧元,售价昂贵,远远超出了国内陶瓷生产企业的承受能力。由于国内的生产工艺水平与国外有较大差距,加之国内传统的平整度检测方法及定义方式与国外存在本质的差异,所以导致这些检测设备不能满足国内实际的生产要求,难以在国内得到普遍推广和普及。针对现有技术中存在的问题,本专利技术人提出检测精度高、检测速度快的适用于大幅面瓷砖的快速检测仪(参见申请号为201710037547.2的中国专利技术专利申请),包括:检测平台、升降导轨、升降支架、扫描装置安装支架、CCD相机、激光位移传感器、PLC和工控机;所述检测平台为金属平台;所述升降导轨包括安装在检测平台两侧的一对,一第一电机与两个升降导轨连接使两个升降导轨分别在检测平台两侧同步移动;所述升降支架安装在升降导轨上,一第二电机与升降支架连接使升降支架沿升降导轨上下移动;所述扫描装置安装支架为条形杆,条形杆的中部转动安装在升降支架上,一第三电机与条形杆连接使条形杆绕安装点转过±90°;所述CCD相机、激光位移传感器安装在扫描装置安装支架上;所述第一电机、第二电机、第三电机与PLC连接,所述CCD相机、激光位移传感器、PLC与工控机连接。本技术是对上述专利申请201710037547.2的进一步改善。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种检测速度快、检测准确的大幅面瓷砖检测仪用PLC控制系统。为达到以上目的,本技术采用如下技术方案。一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统,其特征在于,包括:PLC控制器,与PLC控制器连接的原点位置传感器、第一电机、第二电机,所述第一电机用来控制检测装置的升降运动,所述第二电机用来控制检测设备的水平运动,所述原点位置传感器包括两个,分别用来测定检测装置在竖直方向和水平方向上的原点;所述检测装置安装在一升降支架上,所述升降支架活动安装在升降导轨上,所述第一电机驱动升降导轨运动,所述第二电机驱动升降支架运动。作为改进地,所述PLC控制系统还包括与PLC连接的标定位置传感器,所述标定位置传感器包括两个,分别用来测定检测装置在竖直方向和水平方向上的标定点。作为改进地,在PLC上连接回原点按键。作为改进地,在PLC上连接自动运行按键。作为改进地,在PLC上连接有标定按键。作为改进地,所述PLC为三菱FX3U系列PLC。作为改进地,所述检测装置包括:条形杆,安装在条形杆上的CCD相机、激光位移传感器,所述条形杆的中部转动安装在升降支架上。作为改进地,所述CCD相机安装在条形杆的中部,所述激光位移传感器为2+N个松下HC-G030激光位移传感器;其中2个设置在条形杆的两端,用来测量瓷砖侧面的平面度和直线度,另外N个用来采集瓷砖正面的平面度、直线度、表面缺陷信息。本技术的有益效果是:一、通过设置原点传感器,在瓷砖检测时PLC自动控制检测设备回到原点再开始进行检测,检测速度快、检测准确。二、通过设置标定传感器,方便用户根据需要对各检测设备进行检修以及检查各检测传感器的示值是否归零。附图说明图1所示为本技术提供的PLC控制系统结构示意图。图2所示为大幅面瓷砖检测仪结构示意图。图3所示为大幅面瓷砖检测仪在另一个视角上的结构示意图。附图标记说明:1:检测平台,2:升降导轨,3:升降支架,4:扫描装置安装支架,5:CCD相机,6:激光位移传感器,7:PLC,8:回原点按键,9:自动运行按键,10:标定按键,11:第一电机,12:第二电机。具体实施方式在本技术的描述中,需要说明的是,对于方位词,如有术语“中心”,“横向”、“纵向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示方位和位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于叙述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定方位构造和操作,不能理解为限制本技术的具体保护范围。此外,如有术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”特征可以明示或者隐含包括一个或者多个该特征,在本技术描述中,“至少”的含义是一个或一个以上,除非另有明确具体的限定。在本技术中,除另有明确规定和限定,如有术语“组装”、“相连”、“连接”术语应作广义去理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;也可以是机械连接;可以是直接相连,也可以是通过中间媒介相连,可以是两个元件内部相连通。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述的术语在本技术中的具体含义。在技术中,除非另有规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“之下”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅是表示第一特征水平高度高于第二特征的高度。第一特征在第二特征“之上”、“之下”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。下面结合说明书的附图,通过对本技术的具体实施方式作进一步的描述,使本技术的技术方案及其有益效果更加清楚、明确。下面通过参考附图描述实施例是示例性的,旨在解释本技术,而不能理解为对本技术的限制。如图1-图3所示,一种大幅面瓷砖快速检测仪,适用于600×600mm以上规格的大幅面瓷砖检测,包括:检测平台1、升降导轨2、升降支架3、扫描装置安装支架4、CCD相机5、激光位移传感器6、PLC7和工控机。其中,所述检测平台1为平面度小于0.1mm的金属板。金属板具备耐腐蚀、耐磨损和长久使用的特性,安装更换容易。所述升降导轨2包括安装在检测平台1两侧的一对,一第一电机11与两个升降导轨2连接使两个升降导轨2分别在检测平台两侧同步移动,以便实现扫描装置的水平移动。所述升降支架3安装在升降导轨2上,一第二电机12与升降支架3连接使升降支架3沿升降导轨2上下移动,以便实现扫描装置的上下移动。所述扫描装置安装支架4为条形杆,条形杆的中部转动安装在升降支架3上。所述CCD相机5、激光位移传感器6都转动本文档来自技高网
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一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统

【技术保护点】
一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统,其特征在于,包括:PLC控制器,与PLC控制器连接的原点位置传感器、第一电机、第二电机,所述第一电机用来控制检测装置的升降运动,所述第二电机用来控制检测设备的水平运动,所述原点位置传感器包括两个,分别用来测定检测装置在竖直方向和水平方向上的原点;所述检测装置安装在一升降支架上,所述升降支架活动安装在升降导轨上,所述第一电机驱动升降导轨运动,所述第二电机驱动升降支架运动。

【技术特征摘要】
1.一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统,其特征在于,包括:PLC控制器,与PLC控制器连接的原点位置传感器、第一电机、第二电机,所述第一电机用来控制检测装置的升降运动,所述第二电机用来控制检测设备的水平运动,所述原点位置传感器包括两个,分别用来测定检测装置在竖直方向和水平方向上的原点;所述检测装置安装在一升降支架上,所述升降支架活动安装在升降导轨上,所述第一电机驱动升降导轨运动,所述第二电机驱动升降支架运动。2.根据权利要求1所述的一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统,其特征在于,它还包括与PLC连接的标定位置传感器,所述标定位置传感器包括两个,分别用来测定检测装置在竖直方向和水平方向上的标定点。3.根据权利要求1所述的一种大幅面瓷砖检测仪的PLC控制系统,其特征在于,在PLC上连接回原点按键。4.根据权利要求1所述的一种大幅面瓷砖...

【专利技术属性】
技术研发人员:张涛川段春梅杨伟李大成彭国亮徐华冠
申请(专利权)人:佛山职业技术学院
类型:新型
国别省市:广东,44

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