识别装置及识别方法制造方法及图纸

对于保持于吸嘴(66)的引线元件(100)，以激光照明(116)照射的状态下的拍摄、反射照明(114)照射的状态下的拍摄、侧射照明(112)和反射照明(114)照射的状态下的拍摄这三种拍摄条件进行拍摄。并且，在通过使用了第一拍摄条件的拍摄数据的识别处理未能适当地识别出引线(104)的位置的情况下，使用不同于该第一拍摄条件的第二拍摄条件的拍摄数据，再次进行识别处理。此外，通过使用了该第二拍摄条件的拍摄数据的识别处理未能适当地识别出引线的位置的情况下，使用不同于该第二拍摄条件的第三拍摄条件的拍摄数据，再次进行识别处理。这样，基于拍摄条件不同的三种拍摄数据来进行识别处理，从而能够适当地识别出引线的前端部。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】识别装置及识别方法
本专利技术涉及用于识别向基板安装的元件的电极位置的识别装置及识别方法。
技术介绍
为了向基板安装元件，需要适当地识别元件的电极位置。因此，在向基板安装元件的元件安装机中，对元件进行拍摄，基于拍摄数据来进行元件的电极位置的识别处理。下述专利文献记载了元件的各种拍摄手法。专利文献1：日本特开2004-294358号公报专利文献2：日本特开2006-294806号公报专利文献3：日本特开2005-315749号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题根据上述专利文献记载的技术，能够在一定程度上识别元件的电极位置。然而，希望能更良好地识别元件的电极位置。本专利技术鉴于这样的实际情况而作出，本专利技术的课题在于适当地识别元件的电极位置。用于解决课题的方案为了解决上述课题，本专利技术记载的识别装置用于识别向基板安装的元件的电极位置，上述识别装置的特征在于，该识别装置具备：多个光源，向元件照射光；拍摄装置，在从上述多个光源中的至少一个光源向元件照射光时，上述拍摄装置基于由该元件反射的光来拍摄该元件；存储装置，将与多个拍摄条件分别对应的样本图像数据按照该多个条件中的各条件分别进行存储；及数据解析装置，基于存储于上述存储装置的上述样本图像数据和由上述拍摄装置拍摄的元件的拍摄数据，来识别由上述拍摄装置拍摄的元件的电极位置，上述数据解析装置具有：数据生成部，按照与存储于上述存储装置的上述样本图像数据对应的上述多个拍摄条件中的两个以上的拍摄条件，通过上述拍摄装置拍摄上述元件，生成上述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据；第一判定部，基于由上述数据生成部生成的上述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据中的与第一拍摄条件对应的拍摄数据及存储于上述存储装置的与上述第一拍摄条件对应的样本图像数据，来判定是否能够识别出由上述拍摄装置拍摄的元件的电极位置；及第二判定部，在通过第一判定部无法识别出元件的电极位置的情况下，上述第二判定部基于由上述数据生成部生成的上述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据中的与不同于上述第一拍摄条件的第二拍摄条件对应的拍摄数据及存储于上述存储装置的与上述第二拍摄条件对应的样本图像数据，来判定是否能够识别出由上述拍摄装置拍摄的元件的电极位置。为了解决上述课题，本专利技术记载的识别方法具备：(a)多个光源，向元件照射光；(b)拍摄装置，在从上述多个光源中的至少一个光源向元件照射光时，基于由该元件反射的光来拍摄该元件；及(c)存储装置，将与多个拍摄条件分别对应的样本图像数据按照该多个条件中的各条件分别进行存储，上述识别方法用于基于存储于上述存储装置的上述样本图像数据和由上述拍摄装置拍摄的元件的拍摄数据，来识别由上述拍摄装置拍摄的元件的电极位置，上述识别方法的特征在于，该识别方法包括：数据生成工序，按照与存储于上述存储装置的上述样本图像数据对应的上述多个拍摄条件中的两个以上的拍摄条件，通过上述拍摄装置拍摄上述元件，生成上述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据；第一判定工序，基于由上述数据生成工序生成的上述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据中的与第一拍摄条件对应的拍摄数据及存储于上述存储装置的与上述第一拍摄条件对应的样本图像数据，来判定是否能够识别出由上述拍摄装置拍摄的元件的电极位置；及第二判定工序，在通过第一判定工序无法识别出元件的电极位置的情况下，基于由上述数据生成工序生成的上述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据中的与不同于上述第一拍摄条件的第二拍摄条件对应的拍摄数据及存储于上述存储装置的与上述第二拍摄条件对应的样本图像数据，来判定是否能够识别出由上述拍摄装置拍摄的元件的电极位置。专利技术效果在本专利技术记载的识别装置及识别方法中，在通过使用了第一拍摄条件的拍摄数据的识别处理无法适当地识别电极位置的情况下，使用不同于该第一拍摄条件的第二拍摄条件的拍摄数据，再次进行识别处理。这样，基于拍摄条件不同的两种拍摄数据进行识别处理，由此，能够基于在各种条件下拍摄到的拍摄数据，适当地识别电极位置。附图说明图1是表示元件安装机的立体图。图2是表示元件安装机的元件装配装置的立体图。图3是表示元件安装机具备的控制装置的框图。图4是表示引线元件的立体图。图5是表示零件相机的概略图。图6是表示反射照射拍摄时的图像的图。图7是表示激光照射拍摄时的图像的图。具体实施方式以下，作为用于实施本专利技术的方式，参照附图而详细说明本专利技术的实施例。<元件安装机的结构>图1示出元件安装机10。元件安装机10是用于执行元件对于电路基材12的安装作业的装置。元件安装机10具备装置主体20、基材输送保持装置22、元件装配装置24、标记相机26、零件相机28、元件供给装置30、散装元件供给装置32、控制装置(参照图3)34。另外，作为电路基材12，可列举电路基板、三维构造的基材等，作为电路基板，可列举印刷配线板、印刷电路板等。装置主体20由框架部40和架设于该框架部40的梁部42构成。基材输送保持装置22配置在框架部40的前后方向的中央，具有输送装置50和夹紧装置52。输送装置50是对电路基材12进行输送的装置，夹紧装置52是保持电路基材12的装置。由此，基材输送保持装置22输送电路基材12，并在规定位置固定地保持电路基材12。另外，在以下的说明中，将电路基材12的输送方向称为X方向，将与该方向垂直的水平的方向称为Y方向，将铅垂方向称为Z方向。即，元件安装机10的宽度方向是X方向，前后方向是Y方向。元件装配装置24配置于梁部42，具有两台作业头60、62及作业头移动装置64。如图2所示，在各作业头60、62的下端面设有吸嘴66，通过该吸嘴66吸附保持元件。而且，作业头移动装置64具有X方向移动装置68、Y方向移动装置70、Z方向移动装置72。并且，通过X方向移动装置68和Y方向移动装置70而两台作业头60、62一体地向框架部40上的任意位置移动。而且，各作业头60、62以可拆装的方式装配于滑动件74、76，Z方向移动装置72使滑动件74、76单独地沿上下方向移动。即，作业头60、62通过Z方向移动装置72而单独地沿上下方向移动。标记相机26以朝向下方的状态安装于滑动件74，并与作业头60一起沿X方向、Y方向及Z方向移动。由此，标记相机26拍摄框架部40上的任意位置。如图1所示，零件相机28以朝上的状态配置在框架部40上的基材输送保持装置22与元件供给装置30之间。由此，零件相机28拍摄作业头60、62的吸嘴66把持的元件。元件供给装置30配置在框架部40的前后方向上的一侧的端部。元件供给装置30具有托盘型元件供给装置78和供料器型元件供给装置(参照图3)80。托盘型元件供给装置78是供给载置在托盘上的状态的元件的装置。供料器型元件供给装置80是通过带式供料器、棒式供料器(省略图示)供给元件的装置。散装元件供给装置32配置在框架部40的前后方向上的另一侧的端部。散装元件供给装置32是使零散地散布的状态的多个元件整齐排列而以整齐排列的状态供给元件的装置。即，是使任意的姿势的多个元件整齐排列成规定姿势，并供给规定姿势的元件的装置。另外，作为由元件供给装置30及散装元件供给装置32供给的元件，可列举电子电路元件、太阳能电池的构本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种识别装置，用于识别向基板安装的元件的电极位置，所述识别装置的特征在于，该识别装置具备：多个光源，向元件照射光；拍摄装置，在从所述多个光源中的至少一个光源向元件照射光时，所述拍摄装置基于由该元件反射的光来拍摄该元件；存储装置，将与多个拍摄条件分别对应的样本图像数据按照该多个条件中的各条件分别进行存储；及数据解析装置，基于存储于所述存储装置的所述样本图像数据和由所述拍摄装置拍摄的元件的拍摄数据，来识别由所述拍摄装置拍摄的元件的电极位置，所述数据解析装置具有：数据生成部，按照与存储于所述存储装置的所述样本图像数据对应的所述多个拍摄条件中的两个以上的拍摄条件，通过所述拍摄装置拍摄所述元件，生成所述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据；第一判定部，基于由所述数据生成部生成的所述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据中的与第一拍摄条件对应的拍摄数据及存储于所述存储装置的与所述第一拍摄条件对应的样本图像数据，来判定是否能够识别出由所述拍摄装置拍摄的元件的电极位置；及第二判定部，在通过第一判定部无法识别出元件的电极位置的情况下，所述第二判定部基于由所述数据生成部生成的所述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据中的与不同于所述第一拍摄条件的第二拍摄条件对应的拍摄数据及存储于所述存储装置的与所述第二拍摄条件对应的样本图像数据，来判定是否能够识别出由所述拍摄装置拍摄的元件的电极位置。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种识别装置，用于识别向基板安装的元件的电极位置，所述识别装置的特征在于，该识别装置具备：多个光源，向元件照射光；拍摄装置，在从所述多个光源中的至少一个光源向元件照射光时，所述拍摄装置基于由该元件反射的光来拍摄该元件；存储装置，将与多个拍摄条件分别对应的样本图像数据按照该多个条件中的各条件分别进行存储；及数据解析装置，基于存储于所述存储装置的所述样本图像数据和由所述拍摄装置拍摄的元件的拍摄数据，来识别由所述拍摄装置拍摄的元件的电极位置，所述数据解析装置具有：数据生成部，按照与存储于所述存储装置的所述样本图像数据对应的所述多个拍摄条件中的两个以上的拍摄条件，通过所述拍摄装置拍摄所述元件，生成所述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据；第一判定部，基于由所述数据生成部生成的所述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据中的与第一拍摄条件对应的拍摄数据及存储于所述存储装置的与所述第一拍摄条件对应的样本图像数据，来判定是否能够识别出由所述拍摄装置拍摄的元件的电极位置；及第二判定部，在通过第一判定部无法识别出元件的电极位置的情况下，所述第二判定部基于由所述数据生成部生成的所述两个以上的拍摄条件的各拍摄条件下的拍摄数据中的与不同于所述第一拍摄条件的第二拍摄条件对应的拍摄数据及存储于所述存储装置的与所述第二拍摄条件对应的样本图像数据，来判定是否能够识别出由所述拍摄装置拍摄的元件的电极位置。2.根据权利要求1所述的识别装置，其特征在于，所述多个拍摄条件是向由所述拍摄装置拍摄的元件照射光的光源的组合不同的拍摄条件、所述拍摄装置的拍摄时间不同的拍摄条件、由所述拍摄装置拍摄的元件与所述拍摄装置之间的距离不同的拍摄条件中的至少一个。3.根据权利要求1或2所述的识别装置，其特征在于，所述数据解析装置具有：存储部，在通过所述第一判定部和...

【专利技术属性】
技术研发人员：野泽辰次，
申请(专利权)人：富士机械制造株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP