一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法技术

本发明专利技术涉及一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法，包括：将含铀化合物的溶液中的铀负载到α圆片上得到待分析样品片；将六氟化铀标准物质的溶液中的铀负载到α圆片上得到标准样品片；优化LA和ICP‑MS得到仪器的优化参数；使用仪器的优化参数对标准样品片进行测定，得到各个核素的未校正的丰度值，使用所述未校正的丰度值除以标准物质的证书值得到每个核素丰度的校正因子；使用仪器的优化参数，采用线扫描方式剥蚀待分析样品片进行测定，测定的各个核素的计数比丰度值除以每个核素丰度的校正因子校正质量歧视效应，得到各个核素的校正的丰度值。根据本发明专利技术的快速测定α圆片上铀同位素组成的方法能够准确地测定各个核素的丰度值。

A rapid method for determination of uranium isotopic composition on a single wafer

The invention relates to a method for the rapid determination of uranium isotope composition of the alpha wafer includes: load solution containing uranium compounds of uranium to alpha wafer samples obtained tablets to be analyzed; the load solution of standard material in uranium hexafluoride to obtain alpha wafer standard sample; LA and ICP MS optimization optimization of parameters of the instrument; Determination of standard sample optimal parameters using the instrument, each radionuclide uncorrected abundance abundance, not using the correction value divided by the standard material certificate worth to each nuclide abundance correction factor; parameter optimization using the instrument, the line scan mode was determined to be eroded analysis of samples, the determination of the nuclide counting than abundance correction factor for mass discrimination correction by dividing each nuclide abundance, each nuclide abundance correction Value. According to the method of rapid determination of uranium isotope composition on a single wafer, the abundance of each nuclide can be accurately determined.

【技术实现步骤摘要】
一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法
本专利技术涉及铀同位素丰度定量分析
，更具体地涉及一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法。
技术介绍
铀(U)同位素丰度的测定方法有多种，常用的有两种：第一种是使用质谱类的仪器直接测量液体溶液样品，第二种是将铀电镀到不锈钢α圆片上使用α能谱测定。对于第一种方法，例如ICP-MS(电感耦合等离子体质谱)、多接收器电感耦合等离子体质谱(MC-ICP-MS)法，其直接测定溶液样品中的U同位素丰度。但是，该种方法一般要求以酸性溶液为介质，其溶液中的氢离子的存在，会产生多原子质谱干扰影响同位素丰度的准确测定，如235U+和H+形成236(UH)+，从而影响236U的测定。对于第二种方法，其是将铀电镀到不锈钢α圆片上使用α能谱进行测定。但是，α能谱测定耗时较长，特别是对α活性较小的235U、或者含量较少的236U核素需要的累积时间会更长，一般大于1-2天，测定时间过长。而且，该种方法的电镀样品层的厚薄均匀性和待测同位素的α活性大小，都会对测定结果产生影响，活性太低或者含量太低的核素都无法测定出来。
技术实现思路
为了解决上述现有技术存在的测量不准确或测定本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法，其特征在于，包括步骤：S1，将含铀化合物的溶液通过电镀或滴样制样法使铀负载到α圆片上，得到待分析样品片；S2，将六氟化铀标准物质的溶液通过电镀或滴样制样法使铀负载到α圆片上，得到标准样品片；S3，优化激光剥蚀固体进样系统和电感耦合等离子体质谱仪，得到仪器的优化参数，使得仪器达到最佳工作状态的同时，使高丰度

【技术特征摘要】
1.一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法，其特征在于，包括步骤：S1，将含铀化合物的溶液通过电镀或滴样制样法使铀负载到α圆片上，得到待分析样品片；S2，将六氟化铀标准物质的溶液通过电镀或滴样制样法使铀负载到α圆片上，得到标准样品片；S3，优化激光剥蚀固体进样系统和电感耦合等离子体质谱仪，得到仪器的优化参数，使得仪器达到最佳工作状态的同时，使高丰度238U核素的计数达到最大；S4，使用仪器的优化参数对标准样品片进行测定，得到234U、235U、236U、238U的计数，分别使用每个核素的计数除以所有核素的计数之和，得到各个核素的未校正的丰度值，使用所述未校正的丰度值除以标准物质的证书值得到每个核素丰度的校正因子；S5，使用仪器的优化参数，采用线扫描方式剥蚀待分析样品片进行测定，得到234U、235U、236U、238U的测定值，并分别使用每个核素的测定值除以所有核素的测定值之和，再除以每个核素丰度的校正因子校正质量歧视效应，得到各个核素的校正的丰度值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S1中的含铀化合物选自二氧化铀、四氟化铀、六氟化铀和硝酸铀酰中的至少一种。3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔荣荣，刘艳成，周伟，张岚，胡伟青，丛海霞，罗艳，
申请(专利权)人：中国科学院上海应用物理研究所，
类型：发明
国别省市：上海,31