光谱学测定同位素气体的仪器制造技术

技术编号:2595871 阅读:146 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种光谱学测定同位素气体的仪器,它适合于通过将气体试样导入样品池,然后于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的强度,并且处理光强度数据来测定气体试样中各气体成分的浓度,其特征是气体注射装置,其吸入气体试样,然后以恒定速度用机械方式推动气体试样将气体试样注入样品池。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光谱学测定同位素气体的仪器,它适合于通过将气体试样导入样品池,然后于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的强度,并且处理光强度数据来测定气体试样中各气体成分的浓度,其特征是气体注射装置,其吸入气体试样,然后以恒定速度用机械方式推动气体试样将气体试样注入样品池。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:久保康弘森泽且广座主靖池上英司筒井和典浜尾保森正昭丸山孝
申请(专利权)人:大塚制药株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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