基于Labview的表面光电压测量系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了基于Labview的表面光电压测量系统和方法，属于材料研究领域。本发明专利技术利用Labview软件编程，以快速响应的光电压信号为触发信号，程序生成与调制光频率相同，相互正交的两正弦信号为参考信号，使待测信号与参考信号实现同步，减小参考信号与待测信号传输路径不同所引起的相位差问题，并且采用小波变换改善信号的实时性。本发明专利技术能够保证相位角的测量精度、去噪效果好、数据可比性强、光电压信号的实时变化误差小。

【技术实现步骤摘要】
基于Labview的表面光电压测量系统和方法
本专利技术属于材料研究领域领域，具体涉及基于Labview的表面光电压测量系统和方法。
技术介绍
表面光电压谱（SPV）在半导体及现代许多高科技领域里是一种很重要的研究手段。半导体与金属接触处产生表面势垒，当光照射在样品与金属的接触界面上时，在光照面和非光照面之间建立起电位差，记录这个电位差和入射光波长的关系得到表面光电压谱。表面光电压谱反应材料的光吸收性质、电子的带-带跃迁等，同时受到光生载流子寿命的影响。SPV多用于测量非平衡少数载流子的寿命，多采用的稳态测量法。它利用稳定的光照，使半导体中非平衡少子的分布达到稳定，从而精确、快速地推算出少子寿命。表面光电压(SPV)谱是研究固体表面性质的最灵敏的方法之一。其灵敏度高于XPS和Auger电子能谱几个数量级，操作简单，再现性好，测试中不破坏样品，不改变样品的形貌。光电压指的是光照引起的表面电势的变化。表面光电压谱(SSP)可用于非破坏性研究半导体材料的特性参数，如深能级和表面能级位置，禁带宽度等。现有表面光电谱测量系统的基本组成为：光源、单色仪、斩波器、样品池、锁相放大、计算机。市场上的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于Labview的表面光电压测量系统，其特征在于，包括光源、单色仪、斩波器、样品池、放大器、采样模块和上位机，光源的出光口正对单色仪，斩波器对单色仪的光信号进行调制，样品池用于放置样品，样品池的信号输出端连接放大器的信号输入端，上位机通过串口与单色仪的通信端口连接，上位机通过串口和斩波器的端口连接。

【技术特征摘要】
1.一种基于Labview的表面光电压测量系统，其特征在于，包括光源、单色仪、斩波器、样品池、放大器、采样模块和上位机，光源的出光口正对单色仪，斩波器对单色仪的光信号进行调制，样品池用于放置样品，样品池的信号输出端连接放大器的信号输入端，上位机通过串口与单色仪的通信端口连接，上位机通过串口和斩波器的端口连接。2.如权利要求1所述的一种基于Labview的表面光电压测量系统，其特征在于，采用Labview系统对单色仪步进参数和斩波器的旋转频率进行控制。3.如权利要求1所述的一种基于Labview的表面光电压测量系统，其特征在于，应用光电压信号作为触发信号，光电信号触发产生两个同步正交正弦信号作参考信号。4.一种基于Labview的表面光电压测量方法，其特征在于，应用权利要求1-3任一项所述的基于Labview的表面光电压测量系统，包括步骤：（1）、设备初始化以及参数设置；（2）、产生表面光电压，应用所述表面光电压触发两同步正交正弦信号；（3）、应用采样模块采样；（4）、进行鉴相、鉴幅运算，显示并存储光电...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭书霞，冯物源，
申请(专利权)人：焦作师范高等专科学校，
类型：发明
国别省市：河南,41