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本发明公开了基于Labview的表面光电压测量系统和方法，属于材料研究领域。本发明利用Labview软件编程，以快速响应的光电压信号为触发信号，程序生成与调制光频率相同，相互正交的两正弦信号为参考信号，使待测信号与参考信号实现同步，减小参考...
该专利属于焦作师范高等专科学校所有，仅供学习研究参考，未经过焦作师范高等专科学校授权不得商用。

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