The present invention provides a method and system for detecting pesticide residues in vegetables, the method comprises: obtaining a first reflection spectrum data to be measured according to the index of vegetables; pesticide residues in vegetable pesticide residue pre established index model and the first reflection spectrum data to calculate the tested vegetables; according to the pesticide pesticide residue index and presupposition the threshold to be detected is determined by the degree of vegetable residues. Method and system for detecting pesticide residues in vegetables provided by the invention, through reflection spectral information to be measured and the vegetable pesticide residue index model and the preset threshold to determine the degree of pesticide residues in vegetables, real-time detection, nondestructive testing, safety process is convenient and quick, accurate detection results.
【技术实现步骤摘要】
一种蔬菜农药残留检测方法及系统
本专利技术涉及光谱分析
,具体涉及一种蔬菜农药残留检测方法及系统。
技术介绍
近年来,由于菜农在防治蔬菜病虫害过程中超剂量使用化学农药,导致蔬菜中的农药残留量越来越高,直接危害了蔬菜出口和百姓健康。而且,蔬菜中各类农药残留过高引发的食物中毒事件屡见报道。因此,如何检测市场上蔬菜农药残留是否过量问题是当前蔬菜生产中亟待解决的问题。当前世界各国政府也不断加强农药残留的检测工作,对农药残留检测灵敏度和效率的要求逐步提高,对快速检测分析新技术的开发也日益重视。目前,常规的农药残留检测方法主要有液相色谱法(HighPerformanceLiquidChromatography,简称:HPLC)、气相色谱法(GasChromatography,简称:GC)、质谱法(MassSpectrometry,简称:MS)等。HPLC检测法对蔬菜样品进行切碎液化并脱液,加入流动相中制成待分离溶液,利用该溶液在固定相和流动相之间分配系数的差异实现分离,从而计算农药残留量。例如,液相色谱法测定西红柿中克线磷残留量,采用HPLC实现了对克线磷检测。GC是检 ...
【技术保护点】
一种蔬菜农药残留检测方法,其特征在于,包括:获取待测蔬菜的第一反射光谱数据;根据预先建立的蔬菜农药残留指数模型和所述第一反射光谱数据计算所述待测蔬菜的农药残留指数;根据所述农药残留指数与预设阈值确定所述待测蔬菜的农药残留程度。
【技术特征摘要】
1.一种蔬菜农药残留检测方法,其特征在于,包括:获取待测蔬菜的第一反射光谱数据;根据预先建立的蔬菜农药残留指数模型和所述第一反射光谱数据计算所述待测蔬菜的农药残留指数;根据所述农药残留指数与预设阈值确定所述待测蔬菜的农药残留程度。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一反射光谱数据为:所述待测蔬菜反射模拟太阳光的光谱数据。3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述蔬菜农药残留指数模型采用如下步骤建立:采集样本集中不同农药浓度的蔬菜样本的第二反射光谱数据;对所述第二反射光谱数据进行预处理,得到预处理后的第三反射光谱数据;根据所述第三反射光谱数据确定第一特征波段和第二特征波段;根据下述公式确定所述农药残留指数模型:其中,NSI为农药残留指数,B1为所述第一特征波段对应的反射光谱数据,B2为所述第二特征波段对应的反射光谱数据。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预设阈值通过下述方法获得:计算所述样本集中不同农药浓度的蔬菜样本的农药残留指数;采用化学方法检测所述样本集中不同农药浓度的蔬菜样本的农药残留量;构建所述农药残留指数与所述农药残留量的函数关系;根据所述函数关系计...
【专利技术属性】
技术研发人员:张立福,杨杭,张霞,
申请(专利权)人:中科谱光科技北京有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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