压力测量方法以及压力测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术是公开一种压力测量方法，使用在一压力测量装置上。其特征在于压力测量方法包含：于一测试模式下测量压力测量装置对应一第一压力的一第一压力感测值；于测试模式下测量压力测量装置对应一第二压力的一第二压力感测值；根据第一压力、第二压力、第一压力感测值以及第二压力感测值建立一第一对应函数；于一普通模式下，使压力测量装置感测一第三压力感测值；以及以第一对应函数根据第三压力感测值产生一第三压力；其中压力测量装置操作于一第一扫瞄频率。亦可以产生校正值的方式来校正压力感测值。藉此方法可以校正因扫瞄频率不同而产生的误差。

Pressure measuring method and pressure measuring device

The invention discloses a pressure measuring method, which is used on a pressure measuring device. The pressure measuring method is characterized by comprising: a first pressure measuring pressure measuring device in a test mode corresponding to a first pressure sensor; a pressure measuring device for pressure measurement in the test mode corresponding to a secondary pressure sensing value; secondly, according to the first pressure pressure, the first pressure sensing value and the pressure sensing value corresponding to a first function; a common mode, so that the pressure measuring device for sensing a third pressure sensing value; and the first to corresponding function according to the pressure sensing value to generate a third pressure; the pressure measuring device is operated on a first scan frequency. Correction values can also be used to correct pressure sensing values. This method can correct the errors caused by different scanning frequencies.

【技术实现步骤摘要】
压力测量方法以及压力测量装置
本专利技术有关于压力测量方法以及压力测量装置，特别有关于可校正因扫瞄频率而产生的压力测量误差的压力测量方法以及压力测量装置。
技术介绍
为了感测使用者按压的动作，电子装置通常会包含一压力测量装置，置于电子装置的控制界面下(例如触控荧幕或触控板)，以藉由压力测量装置来判断使用者是否有按压的动作。电子装置除了根据单纯的按压动作来执行功能外，更可以将此类按压动作运用到其他控制方法上。举例来说，近代电子装置通常可以手势来控制其动作，以往的手势往往局限于平面的手势，例如以手指滑动的动作来缩放图片或是解锁电子装置。然而，随着电子装置的功能越来越强大，平面的手势已无法满足使用者的需求，因此会加入按压的动作来形成立体的手势。然而，电子装置对压力测量装置的扫瞄频率需要因应不同杂讯环境来调整，藉此达到较佳的讯噪比(Singla-NoiseRatio)，其会影响压力测量装置所产生的压力感测值而使压力感测值产生误差，使得压力测量结果变得不精确。
技术实现思路
因此，本专利技术之一目的在于提供一种电容式的压力测量装置。本专利技术另一目的为提供一种可校正压力测量误差的压力测量方法。本专本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种压力测量方法，使用在一压力测量装置上，其特征在于，该压力测量方法包含：于一测试模式下测量该压力测量装置对应一第一压力的一第一压力感测值；于该测试模式下测量该压力测量装置对应一第二压力的一第二压力感测值；根据该第一压力、该第二压力、该第一压力感测值以及该第二压力感测值建立一第一对应函数；于一普通模式下，使该压力测量装置感测一第三压力感测值；以及以该第一对应函数根据该第三压力感测值产生一第三压力；其中该压力测量装置操作于一第一扫瞄频率。

【技术特征摘要】
2016.04.12 TW 1051114021.一种压力测量方法，使用在一压力测量装置上，其特征在于，该压力测量方法包含：于一测试模式下测量该压力测量装置对应一第一压力的一第一压力感测值；于该测试模式下测量该压力测量装置对应一第二压力的一第二压力感测值；根据该第一压力、该第二压力、该第一压力感测值以及该第二压力感测值建立一第一对应函数；于一普通模式下，使该压力测量装置感测一第三压力感测值；以及以该第一对应函数根据该第三压力感测值产生一第三压力；其中该压力测量装置操作于一第一扫瞄频率。2.如权利要求1所述的压力测量方法，其特征在于，其中该压力测量装置为一电容式压力测量装置，该第一压力感测值、该第二压力感测值、以及该第三压力感测值均为电容值。3.如权利要求1所述的压力测量方法，其特征在于，更包含：使该压力测量装置操作于一第二扫瞄频率；于该压力测量装置操作于该第二扫瞄频率时，于该测试模式下测量该压力测量装置对应一第四压力的一第四压力感测值；于该压力测量装置操作于该第二扫瞄频率时，于该测试模式下测量该压力测量装置对应一第五压力的一第五压力感测值；根据该第四压力感测值以及该第五压力感测值建立一第二对应函数；于该压力测量装置操作于该第二扫瞄频率时，于该普通模式下，使该压力测量装置感测一第六压力感测值；以及以该第二对应函数根据该第六压力感测值产生一第六压力。4.如权利要求3所述的压力测量方法，其特征在于，其中该压力测量装置为一电容式压力测量装置，该第四压力感测值、该第五压力感测值、以及该该第六压力感测值均为电容值。5.一种压力测量装置，其特征在于，包含：一压力感测模块，操作于一第一扫瞄频率；以及一校正模块，储存一第一对应函数；其中该压力感测模块于一普通模式下感测一第三压力感测值，且该校正模块以该第一对应函数根据该第三压力感测值产生一第三压力；其中该第一对应函数以下列步骤产生：该压力感测模块于一测试模式下产生对应一第一压力的一第一压力感测值；该压力感测模块于该测试模式下产生对应一第二压力的一第二压力感测值；该校正模块根据该第一压力、该第二压力、该第一压力感测值以及该第二压力感测值建立一第一对应函数。6.如权利要求5所述的压力测量装置，其特征在于，其中该压力测量装置为一电容式压力测量装置，该第一压力感测值、该第二压力感测值、以及该该第三压力感测值均为电容值。7.如权利要求5所述的压力测量装置，其特征在于，其中该压力感测模块操作于一第二扫瞄频率且该校正模块更储存一第二对应函数；其中该压力感测模块于一普通模式下产生对应感测一第六压力感测值，且该校正模块以该第二对应函数根据该第六压力感测值产生一第六压力；其中该第二对应函数以下列步骤产生：该压力感测模块该测试模式下产生对应一第四压力的一第四压力感测值；该压力感测模块于该测试模式下产生对应一第五压力的一第五压力感测值；该校正模块根据该第四压力、该第五压力、该第四压力感测值以及该第五压力感测值建立一第二对应函数。8.如权利要求7所述的压力测量装置，其特征在于，其中该压力测量装置为一电容式压力测量装置，该第四压力感测值、该第五压力感测值、以及该该第六压力感测值均为电容值。9.一种压力测量方法，使用在一压力测量装置上，其特征在于，该压力测量方法包含：于一测试模式下测量该压力测量装置运作于一第一扫瞄频率时的一第一实际压力感测值，且测量该压力测量装置运作于该第一扫瞄频率且压力为零的压力感测值以计算出一第一校正值；于一普通模式下，若压力测量装置运作于第一扫瞄频率，则以该第一校正值校正一第一实际压力感测值来产生一第一校正压力感测值；以及根据该第一校正压力感测值产生一第一校正压力。10.如权利要求9所述的压力测量方法，其特征在于，更包含：于该测试模式下测量该压力测量装置运作于一第二扫瞄频率且压力为零的压力感测值...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈昱翰，黄智炜，廖祈杰，王维中，
申请(专利权)人：原相科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71