一种透射电子显微镜双倾样品台和铍样品台通用样品固定夹制造技术
A universal sample holder for transmission electron microscope double tilting sample and beryllium sample table
The utility model relates to a transmission electron microscope double tilt specimen holder and beryllium sample table universal sample clamp, which is characterized in that the sample of cable dome structure is adopted between the fixing clamp of the fixed screw holes and sample pressure ring (F), to replace the existing double tilt specimen holder sample clamp flat design (E), to solve the beryllium sample table bearing sample area surrounding bulge (G) caused by the existing double tilt specimen holder sample clamp can not be fixed on the table in the samples of beryllium samples, the samples were fixed in the clip two general table sample (H). In addition, the use of molybdenum, nickel and other non copper material of the utility model sample clamp, sample clamp and can replace the original sample stage using beryllium beryllium ring design, in the two sample table can be realized on the determination of copper containing samples.
【技术实现步骤摘要】
一种透射电子显微镜双倾样品台和铍样品台通用样品固定夹
本技术涉及一种透射电子显微镜双倾样品台和铍样品台通用的样品固定夹。
技术介绍
近年来，透射电子显微镜在材料、生物、考古、侦查等科学领域发挥着越来越重要的作用。在透射电子显微镜使用过程中，样品的固定是观察和拍摄图片的基础。目前，大多数透射电子显微镜用户一般都配备有双倾样品台、铍样品台，这两种样品台的机械和电子工作原理相同，所不同的是二者的样品固定夹不同，其中，双倾样品台的样品固定夹在固定螺丝和样品压环之间采用平直设计，样品压环向下弯折，在固定夹被固定时，压环被紧固压平而压住样品；而铍样品台样品的固定靠两个压片压住铍压环完成的，其专门用于测试含铜元素的样品。综合来看，如果有合适的样品固定夹，铍样品台完全可以代替双倾样品台，但当把双倾样品台的样品固定夹组装到铍样品台上时，由于铍样品台装载样品区的周边区域0.15mm凸起部分较多（铍压环承载区，G），并且承载压环的压槽较窄，约1.50mm，双倾样品台的样品固定夹在此无法实现样品的固定。鉴于此，本技术设计制造了一种透射电子显微镜双倾样品台和铍样品台可通用的样品固定夹，可以...
【技术保护点】
一种透射电子显微镜双倾样品台和铍样品台通用样品固定夹，其特征在于：在固定螺丝孔平面和样品压环平面之间是索穹顶结构（ F）。
【技术特征摘要】
1.一种透射电子显微镜双倾样品台和铍样品台通用样品固定夹，其特征在于：在固定螺丝孔平面和样品压环平面之间是索穹顶结构（F）。2.根据权利要求1所述的通用样品固定夹，其特征在于：索穹顶结构（F）是圆弧形拱顶、椭圆弧形拱顶、梯形拱顶、长方形拱顶、单孔桥形拱顶、波纹形拱顶中的一种。3.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡鹏飞，胡舒钰，寇春合，甄强，公国栋，
申请(专利权)人：上海大学，
类型：新型
国别省市：上海,31
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