一种芯片测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试仪，包括测试仪盒体，其特征在于：在测试仪盒体上部设有一操作面板，内部设有一控制单元，前侧设有一接线孔及孔帽；其中，测试仪盒体由上、下两盒体及连接上、下两盒体的合页构成；操作面板由液晶显示屏、多个指示灯及多个操作键组成；控制单元由分别通过螺丝固定在上盒体内壁上的第一电路基板单元以及下盒体内壁上的第二电路基板单元组成，第一电路基板单元与第二电路基板单元之间通过排线电性连接；在第一电路基板单元上设置有多个用于执行测试命令的芯片单元；在第二电路基板单元上设置有用于安装被测芯片的安装基座单元；该新型芯片测试仪具有结构简单、操作快捷简便、携带方便、工作效率高及通用性强等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试仪
本技术涉及一种检测仪器，具体的说涉及一种应用于75LBC184、AD623、TLC2543芯片及与其管脚兼容的芯片测试仪，属电子电气控制

技术介绍
目前，75LBC184、AD623及TLC2543芯片被广泛应用于超载限制器及力矩限制器中，但是对于被选用的75LBC184、AD623及TLC2543芯片是否满足使用方的需求时，通常事先需要做相应的检测，目前采取的手段主要委托第三方来实现，虽然能够实现品质控制，但成本高、周期长，手续也较繁琐。因此作为使用方来说，迫切需要一种成本低，在本地就能够实现品质控制的检测方式。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种快捷、操作简便、成本低廉及安全可靠的应用于75LBC184、AD623、TLC2543芯片及与其管脚兼容的芯片测试仪，用以克服
技术介绍
中的缺陷。为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种芯片测试仪，包括测试仪盒体，在所述测试仪盒体的上部设置有用于人工发出测试指令的操作面板，在所述测试仪盒体的内部设置有用于执行测试指令的控制单元，在所述测试仪盒体的前侧设置有用于穿设外电源线的接线孔及孔帽；其中，所述测试仪盒体由上、下本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片测试仪，包括测试仪盒体，其特征在于：在所述测试仪盒体的上部设置有用于人工发出测试指令的操作面板，在所述测试仪盒体的内部设置有用于执行测试指令的控制单元，在所述测试仪盒体的前侧设置有用于穿设外电源线的接线孔及孔帽；其中，所述测试仪盒体由上、下两盒体以及设置在两盒体侧边上用于连接上、下两盒体的合页构成；所述操作面板由一液晶显示屏、位于液晶显示屏下方的多个指示灯及位于液晶显示屏右侧的多个操作键组成；所述控制单元由通过螺丝固定在测试仪上盒体内壁上的第一电路基板单元以及通过螺丝固定在测试仪下盒体内壁上的第二电路基板单元组成，第一电路基板单元与第二电路基板单元之间通过排线电性连接；在所述第一电路基...

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试仪，包括测试仪盒体，其特征在于：在所述测试仪盒体的上部设置有用于人工发出测试指令的操作面板，在所述测试仪盒体的内部设置有用于执行测试指令的控制单元，在所述测试仪盒体的前侧设置有用于穿设外电源线的接线孔及孔帽；其中，所述测试仪盒体由上、下两盒体以及设置在两盒体侧边上用于连接上、下两盒体的合页构成；所述操作面板由一液晶显示屏、位于液晶显示屏下方的多个指示灯及位于液晶显示屏右侧的多个操作键组成；所述控制单元由通过螺丝固定在测试仪上盒体内壁上的第一电路基板单元以及通过螺丝固定在测试仪下盒体内壁上的第二电路基板单元组成，第一电路基板单元与第二电路基板单元之间通过排线电性连接；在所述第一电路基板单元上还设置有一个单片机芯片、一个时钟芯片、一个外部存储芯片、一个FLASH芯片、一个USB芯片、一个液晶显示屏排线接口、一个TLC2543仪表芯片及一个D/A转换芯片；在所述第二电路基板单元上还设置有一个用于为控制单元供电的开关电源、多个用于安装被测AD623芯片的安装基座、一个75LBC184仪表芯片、多个用于安装被测75LBC184芯片的安装基座及多个用于安装被测TLC2543芯片的安装基座。2.根据权利要求1所述的芯片测试仪，其特征在于：所述测试仪上、下两盒体均为铝合金材质。3.根据权利要求1所述的芯片测试仪，其特征在于：所述接线孔及孔帽位于下盒体的前侧壁上。4.根据权利要求1所述的芯片测试仪，...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡金桥，高钰敏，张艳波，谢邦天，蔡小雨，
申请(专利权)人：宜昌中邦起重机智能控制有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北,42