一种全自动飞针式FAI首件检测装置制造方法及图纸

技术编号:16378500 阅读:69 留言:0更新日期:2017-10-15 10:47
本发明专利技术公开了一种全自动飞针式FAI首件检测装置,包括下机架和上机架;所述上机架安装在下机架上,下机架上表面为工作台,工作台上安装有X轴移动机构、Z轴移动机构、旋转机构、夹持电缸、测试头和Y轴移动机构,测试头固定安装在夹持气缸末端,夹持气缸安装在旋转机构上,旋转机构安装在Z轴移动机构上,Z轴移动机构安装在X轴移动机构上,Y轴移动机构安装在工作台上,Y轴移动机构上安装有用于固定基板的测试平台;所述上机架上还设置有电控箱,电控箱控制连接至X轴移动机构、Z轴移动机构、旋转机构、夹持电缸和Y轴移动机构。本发明专利技术可以节约大量的试产成本及时间,精减部分人员,降低人力物力成本,帮助企业提升竞争力。

A fully automatic flying needle type FAI first piece detection device

The invention discloses an automatic flying needle type FAI first detection device, which comprises a lower machine frame and the upper frame; the upper frame is arranged on the lower surface of the frame, under the frame for the table, table is installed on the Z axis X axis moving mechanism and a moving mechanism, a rotating mechanism, clamping electric cylinder and the test head and the Y axis moving mechanism, the test head is fixed to the cylinder end of the clamp, clamping cylinder arranged on the rotating mechanism, the rotating mechanism is installed on the Z axis moving mechanism, Z axis moving mechanism is arranged on the X axis moving mechanism, Y axis moving mechanism is arranged on the workbench, Y axis movement mechanism is installed on the testing platform for the fixed base plate; the upper frame is also provided with a control box, electric control box is connected to the X axis, Z axis moving mechanism moving mechanism, a rotating mechanism, clamping electric cylinder and the Y axis moving mechanism. The invention can save production cost and reduce a lot time, part of the staff, reduce the manpower cost, help to enhance the competitiveness of enterprises.

【技术实现步骤摘要】
一种全自动飞针式FAI首件检测装置
本专利技术涉及电路板检测设备
,具体是一种全自动飞针式FAI首件检测装置。
技术介绍
首件检验是对每个班次刚开始时或过程发生改变(如人员的变动、换料及换工装、机床的调整、工装刀具的调换修磨等)后加工的第一或前几件产品进行的检验。一般要检验连续生产的3-5件产品,合格后方可继续加工后续产品。在设备或制造工序发生任何变化,以及每个工作班次开始加工前,都要严格进行首件检验。首件检验主要是防止产品出现成批超差、返修、报废,它是预先控制产品生产过程的一种手段,是产品工序质量控制的一种重要方法,是企业确保产品质量,提高经济效益的一种行之有效、必不可少的方法。现有的首件检测装置一般基于视觉软件,并需要依靠人员进行检测,效率低,容易出错,且容易造成检测人员的视觉疲劳。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种全自动飞针式FAI首件检测装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种全自动飞针式FAI首件检测装置,包括下机架和上机架;所述上机架安装在下机架上,下机架上表面为工作台,工作台上安装有X轴移动机构、Z轴移动机构、旋转机构、夹持电缸、测试头和Y轴移动机构,所述测试头为飞针测试头,所述测试头固定安装在夹持气缸末端,且夹持气缸驱动测试头张合,所述夹持气缸安装在旋转机构上,旋转机构带动夹持气缸转动;所述旋转机构安装在Z轴移动机构上,Z轴移动机构带动旋转机构在竖直方向上移动,所述Z轴移动机构安装在X轴移动机构上,且X轴移动机构带动Z轴移动机构在左右方向上移动;所述Y轴移动机构安装在工作台上,Y轴移动机构上安装有用于固定基板的测试平台,且Y轴移动机构带动测试平台在工作台的前后方向上移动,测试平台位于测试头的下方;所述上机架上还设置有电控箱,电控箱控制连接至X轴移动机构、Z轴移动机构、旋转机构、夹持电缸和Y轴移动机构;所述上机架上还设置有电桥箱,测试头通过电桥箱通讯连接至电控箱内的处理器。作为本专利技术进一步的方案:所述测试平台外端还设置有平台门。作为本专利技术再进一步的方案:所述上机架上还设置显示器,显示器通讯连接至电控箱内的处理器。作为本专利技术再进一步的方案:所述工作台上还设置有键盘。作为本专利技术再进一步的方案:还包括摄像机,摄像机固定在夹持电缸的壳体上。作为本专利技术再进一步的方案:所述下机架和上机架侧面均设置有散热风扇。与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:本专利技术将先进的图像整合、智能BOM解析、BOM/坐标/PCBA三项内容巧妙结合,利用自动检测系统与机器视觉,具有节省人力、可靠度高、报告输出方便等优点,不仅能够提高制造质量,改善成本,而且还可以节约大量的试产成本及时间,精减部分人员,降低人力物力成本,使企业的制造工程能力也将迈上一个新台阶,帮助企业提升竞争力。附图说明图1为全自动飞针式FAI首件检测装置的结构示意图。图2为全自动飞针式FAI首件检测装置移除上机架后的结构示意图。图3为全自动飞针式FAI首件检测装置移除上机架、显示器、测试平台和键盘后的结构示意图。图中:1-下机架、2-散热风扇、3-上机架、4-电控箱、5-电桥箱、6-X轴移动机构、7-Z轴移动机构、8-显示器、9-旋转机构、10-夹持电缸、11-测试头、12-测试平台、13-Y轴移动机构、14-平台门、15-键盘、16-摄像机。具体实施方式下面结合具体实施方式对本专利技术的技术方案作进一步详细地说明。请参阅图1-3,一种全自动飞针式FAI首件检测装置,包括下机架1和上机架3;所述上机架3安装在下机架1上,下机架1上表面为工作台,工作台上安装有X轴移动机构6、Z轴移动机构7、旋转机构9、夹持电缸10、测试头11和Y轴移动机构13,所述测试头11为飞针测试头,所述测试头11固定安装在夹持气缸10末端,且夹持气缸10驱动测试头11张合,通过夹持气缸10调整测试头11的开合程度,以对不同宽度的电子元器件进行测试,所述夹持气缸10安装在旋转机构9上,旋转机构9带动夹持气缸10转动,进而带动测试头11转动,从而控制测试头11上的测试针的方向,以便测试不同方向的电子元器件;所述旋转机构9安装在Z轴移动机构7上,Z轴移动机构7带动旋转机构9在竖直方向上移动,进而带动测试头11在竖直方向上移动,实现测试头11的升降,所述Z轴移动机构7安装在X轴移动机构6上,且X轴移动机构6带动Z轴移动机构7在左右方向上移动,进而带动测试头11在工作台的左右方向上移动;所述Y轴移动机构13安装在工作台上,Y轴移动机构13上安装有用于固定基板的测试平台12,且Y轴移动机构13带动测试平台12在工作台的前后方向上移动,测试平台12位于测试头11的下方,测试平台12外端还设置有平台门14,在进行首件检测时,将基板固定在测试平台12上,通过Y轴移动机构13带动测试平台12前后移动,以将测试平台12移动至所需位置,通过测试头11对基板上的电子元器件进行检测;所述上机架3上还设置有电控箱4,电控箱4控制连接至X轴移动机构6、Z轴移动机构7、旋转机构9、夹持电缸10和Y轴移动机构13,用于控制各个部件的运行;所述上机架3上还设置有电桥箱5,测试头11通过电桥箱5通讯连接至电控箱4内的处理器,测试头11所获得的检测数据通过电桥箱5发送至电控箱4内的处理器,处理器通过相应的检测软件对检测数据进行处理,另外,处理器通过检测软件发出控制指令,以控制各个部件的运行;所述上机架3上还设置显示器8,显示器8通讯连接至电控箱4内的处理器,处理器将获得的处理结果通过显示器8进行显示,以便于工作人员直观的获取;所述工作台上还设置有键盘15,用于进行输入操作;所述全自动飞针式FAI首件检测装置,还包括摄像机16,摄像机16固定在夹持电缸10的壳体上,用于获取当前镜头下的电子元器件的图片,以用来比对电子元器件上的丝印图像;所述下机架1和上机架3侧面均设置有散热风扇2,用于对下机架1和上机架3进行散热。本专利技术的工作原理是:所述全自动飞针式FAI首件检测装置,使用时,首先将基板固定在测试平台12上,然后导入BOM和坐标,电控箱4内的处理器通过控制X轴移动机构6的运行,带动测试头11在工作台的左右方向上移动,与此同时,电控箱4内的处理器通过控制Y轴移动机构13的运行,带动测试平台12在工作台的前后方向上移动,通过协调控制X轴移动机构6和Y轴移动机构13,使测试头11位于基板上所要检测的电子元器件的正上方,电控箱4内的处理器通过夹持气缸10调整测试头11的开合程度,以适应待测电子元器件的宽度,与此同时,电控箱4内的处理器通过旋转机构9带动带动测试头11转动,从而控制测试头11上的测试针的方向,使其适应待测的电子元器件的方向,然后处理器通过控制Z轴移动机构7带动测试头11在竖直方向上移动,使测试头11与待测电子元器件的两端相接触,测试头11所获得的检测数据通过电桥箱5发送至电控箱4内的处理器,处理器通过相应的检测软件对检测数据进行处理,另外,通过摄像机16获取当前镜头下的电子元器件的图片,以用来比对电子元器件上的Mark和丝印图像,最终,处理器通过比对实测值及Mark判断每个电子元器件是否贴对,并生成详细的测试报告,通过显示器8能够显示所生成的测试报告以及摄像机16所获取本文档来自技高网...
一种全自动飞针式FAI首件检测装置

【技术保护点】
一种全自动飞针式FAI首件检测装置,其特征在于,包括下机架(1)和上机架(3);所述上机架(3)安装在下机架(1)上,下机架(1)上表面为工作台,工作台上安装有X轴移动机构(6)、Z轴移动机构(7)、旋转机构(9)、夹持电缸(10)、测试头(11)和Y轴移动机构(13),所述测试头(11)为飞针测试头,所述测试头(11)固定安装在夹持气缸(10)末端,且夹持气缸(10)驱动测试头(11)张合,所述夹持气缸(10)安装在旋转机构(9)上,旋转机构(9)带动夹持气缸(10)转动;所述旋转机构(9)安装在Z轴移动机构(7)上,Z轴移动机构(7)带动旋转机构(9)在竖直方向上移动,所述Z轴移动机构(7)安装在X轴移动机构(6)上,且X轴移动机构(6)带动Z轴移动机构(7)在左右方向上移动;所述Y轴移动机构(13)安装在工作台上,Y轴移动机构(13)上安装有用于固定基板的测试平台(12),且Y轴移动机构(13)带动测试平台(12)在工作台的前后方向上移动,测试平台(12)位于测试头(11)的下方;所述上机架(3)上还设置有电控箱(4),电控箱(4)控制连接至X轴移动机构(6)、Z轴移动机构(7)、旋转机构(9)、夹持电缸(10)和Y轴移动机构(13);所述上机架(3)上还设置有电桥箱(5),测试头(11)通过电桥箱(5)通讯连接至电控箱(4)内的处理器。...

【技术特征摘要】
1.一种全自动飞针式FAI首件检测装置,其特征在于,包括下机架(1)和上机架(3);所述上机架(3)安装在下机架(1)上,下机架(1)上表面为工作台,工作台上安装有X轴移动机构(6)、Z轴移动机构(7)、旋转机构(9)、夹持电缸(10)、测试头(11)和Y轴移动机构(13),所述测试头(11)为飞针测试头,所述测试头(11)固定安装在夹持气缸(10)末端,且夹持气缸(10)驱动测试头(11)张合,所述夹持气缸(10)安装在旋转机构(9)上,旋转机构(9)带动夹持气缸(10)转动;所述旋转机构(9)安装在Z轴移动机构(7)上,Z轴移动机构(7)带动旋转机构(9)在竖直方向上移动,所述Z轴移动机构(7)安装在X轴移动机构(6)上,且X轴移动机构(6)带动Z轴移动机构(7)在左右方向上移动;所述Y轴移动机构(13)安装在工作台上,Y轴移动机构(13)上安装有用于固定基板的测试平台(12),且Y轴移动机构(13)带动测试平台(12)在工作台的前后方向上移动,测试平台(12)位于测试头(11)的下方;...

【专利技术属性】
技术研发人员:何杰民
申请(专利权)人:深圳市精鼎电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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