【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路设计
,尤其涉及一种电压探测电路以及上电复位电路。
技术介绍
随着CMOS集成电路(CMOS-IC)的发展,片上集成系统(SoC)的集成度越来越高,功能越来越复杂,模拟系统和数字系统通常集成在同一块芯片上,并且采用统一的电源供电。当电源上电的时候,需要一个复位信号来初始化数字电路中的存储单元(如数字寄存器,以及模拟电路中积分器件等等),以确保整个芯片进入正常的工作状态。此外,芯片工作过程中电源线电压过低时,也需要该复位信号来防止芯片工作在不正常状态。因此上电复位电路(PoweronReset,POR)是SoC中不可缺少的组成部分。当电源线电压在逐渐上升的过程中,当电源线电压高于一个第一特征电压Vtd时,POR电路会输出逻辑“1”信号,使得电源线电压上电的过程中,初始化数字电路中的存储单元,当电源线电压在逐渐下降的过程中,电源线电压低于另外的一第二特定电压Vtdr,POR电路会输出逻辑“0”信号。第一特征电压Vtd和第二特定电压Vtdr之间的电压差为Vhys,与常规的电压检测电路相比,POR电路不需要外接参考电压。POR电路的电源线电压 ...
【技术保护点】
一种电压探测电路,其特征在于,包括:第一PMOS晶体管,所述第一PMOS晶体管的栅极连接第一节点,源极连接电源线,漏极连接第二节点;第一NMOS晶体管,所述第一NMOS晶体管的栅极连接一参考电压,源极接地,漏极连接所述第二节点;第二PMOS晶体管,所述第二PMOS晶体管的栅极和源极连接所述电源线,漏极连接所述第一节点;第二NMOS晶体管,所述第二NMOS晶体管的栅极连接第三节点,源极接地,漏极连接所述第一节点;第三PMOS晶体管,所述第三PMOS晶体管的栅极和漏极连接所述第三节点,源极连接所述电源线;以及输出端,所述输出端连接所述第二节点。
【技术特征摘要】
1.一种电压探测电路,其特征在于,包括:第一PMOS晶体管,所述第一PMOS晶体管的栅极连接第一节点,源极连接电源线,漏极连接第二节点;第一NMOS晶体管,所述第一NMOS晶体管的栅极连接一参考电压,源极接地,漏极连接所述第二节点;第二PMOS晶体管,所述第二PMOS晶体管的栅极和源极连接所述电源线,漏极连接所述第一节点;第二NMOS晶体管,所述第二NMOS晶体管的栅极连接第三节点,源极接地,漏极连接所述第一节点;第三PMOS晶体管,所述第三PMOS晶体管的栅极和漏极连接所述第三节点,源极连接所述电源线;以及输出端,所述输出端连接所述第二节点。2.如权利要求1所述的电压探测电路,其特征在于,所述电源线的电压的变化范围为0V~3.3V。3.如权利要求2所述的电压探测电路,其特征在于,所述电源线的电压上升的过程中,所述参考电压先迅速上升,后缓慢上升。4.如权利要求2所述的电压探测电路,其特征在于,当所述电源线的电压为上升到第一特征电压时,所述第二节点处的电压产生跳变。5.如权利要求1所述的电压探测电路,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:李炳云,杨嘉栋,
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司,中芯国际集成电路制造北京有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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