The invention relates to an analytical system, which can be transferred on-line to analyze samples and rapidly obtain analytical results. In addition, also provides a system for analysis, analysis of the samples supplied from the scene of more than two, formed in the transfer path analysis of the sample does not use the pump or valve has the failure to form part of the body, at the same time by the analysis of a device to analyze. The present invention relates to an analysis system, with more than two kinds of samples were transferred to equipment, goods and samples were transferred to the device transfer path, plasma torch common analysis device composed and analysis device by inductively coupled plasma or microwave plasma of the connection; every sample transfer path, with the mainstream Road, supplement the gas supply flow path and discharge flow path; sample introduction analysis of samples of plasma torch is introduced in roughly at the center of the atomizing tube; and the inner diameter of the plasma torch discharge flow path of the sample into the entrance of the tube diameter is equal to or more than.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】在线移送的分析样品的分析系统
本专利技术涉及用以在线移送两个以上的分析样品并借由一台分析装置进行分析的系统。尤其,本专利技术涉及适合于借由感应耦合等离子体或微波等离子体的分析系统。
技术介绍
半导体制造步骤中,各种处理液、化学药品等的工厂中的质量管理或排液管理中,存在着欲分析溶液中的微量金属的浓度等的需求。此外,河川的水质管理、土壤污染等的环境分析中,微量元素的分析也是必要的。该微量元素的分析中,分析装置可使用感应耦合等离子体质谱分析装置或感应耦合等离子体发光分光分析装置等利用感应耦合等离子体(ICP:InductivelyCoupledPlasma)的分析装置(以下,视情况记载为ICP分析装置),或是利用微波等离子体(MP:MicrowavePlasma)的分析装置(以下记载为MP分析装置)。此等ICP分析装置或MP分析装置,多设置在研究所或实验室等的分析设施,一般是将工厂等现场所采集的分析样品送入至研究所等来分析微量元素等。此等借由ICP分析装置等的元素分析,由于通常不在现场直接进行,而是介由人力来进行分析样品的送入,所以至得到分析结果为止,会产生时间差。因此,即使从分析结果检测出异常时,对制造产线等现场的对应也产生延迟,而有无法完全排除在其间制造出不良品等缺失的产生的问题。此外,由于分析样品的采集是由人力来进行,除了可分析次数存在着限制外,并且因制造产线所使用的酸、碱、有机溶剂等种类的不同,作业者的安全性也可能产生问题。在该背景下,期待一种可从现场至ICP分析装置或MP分析装置为止,在线移送分析样品的分析系统。此点,虽然装置的种类与ICP分析装置等有 ...
【技术保护点】
一种分析系统,其具备:由将分析样品雾化的雾化器、借由粒径来选别雾化的分析样品的喷雾室、以及从该喷雾室至等离子体炬为止对分析样品进行在线移送的样品移送路径所构成的样品分别移送装置;以及由将在线移送的分析样品送入至等离子体焰中的该等离子体炬、以及应用感应耦合等离子体或微波等离子体的分析装置所构成的共通分析装置;其中,该分析系统具备两个以上的该样品分别移送装置,并且该样品分别移送装置的各样品移送路径与该共通分析装置的该等离子体炬连接;各样品移送路径中,具有:从该喷雾室至该等离子体炬为止移送分析样品的主流路、将补充气体供给至该主流路的补充气体供给流路、以及设置在该补充气体供给流路与该喷雾室之间而将该补充气体和/或分析样品从该主流路排出的排放流路;该主流路为在分析样品的移送路径上不具有泵及阀的构成;该等离子体炬具有导入雾化的分析样品的样品导入管;该排放流路的内径(Dd)与该等离子体炬的样品导入管的等离子体导入侧附近的内径(Dt)相同(Dd=Dt),或是比Dt大(Dd>Dt)。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.08.21 JP 2015-1637511.一种分析系统,其具备:由将分析样品雾化的雾化器、借由粒径来选别雾化的分析样品的喷雾室、以及从该喷雾室至等离子体炬为止对分析样品进行在线移送的样品移送路径所构成的样品分别移送装置;以及由将在线移送的分析样品送入至等离子体焰中的该等离子体炬、以及应用感应耦合等离子体或微波等离子体的分析装置所构成的共通分析装置;其中,该分析系统具备两个以上的该样品分别移送装置,并且该样品分别移送装置的各样品移送路径与该共通分析装置的该等离子体炬连接;各样品移送路径中,具有:从该喷雾室至该等离子体炬为止移送分析样品的主流路、将补充气体供给至该主流路的补充气体供给流路、以及设置在该补充气体供给流路与该喷雾室之间而将该补充气体和/或分析样品从该主流路排出的排放流路;该主流路为在分析样品的移送路径上不具有泵及阀的构成;该等离子体炬具有导入雾化的分析样品的样品导入管;该排放流路的内径(Dd)与该等离子体炬的样品导入管的等离子体导入侧附近的内径(Dt)相同(Dd=Dt),或是比Dt大(Dd>Dt)。2.根据权利要求1所述的分析系统,其中,一个以上的样品移送路径的该排放流路,具有缩小流路空间的缩紧部。3.根据权利要求1或2所述的分析系统,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:川端克彦,一之濑达也,池内满政,
申请(专利权)人:埃耶士株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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