半导体装置、光源控制装置以及光源控制系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及半导体装置、光源控制装置以及光源控制系统。本发明专利技术提供能够诊断通信网络质量的半导体装置。所公开的是耦接到光源的半导体装置，该半导体装置包括信号处理单元和劣化检测器，其中信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小光源的照明强度，劣化检测器基于表示接口模块所接收的指令信号的数据的信号的变化定时是否落入预定区间内来检测接口模块的劣化。

Semiconductor device, light source control device, and light source control system

The invention relates to a semiconductor device, a light source control device, and a light source control system. The present invention provides a semiconductor device capable of diagnosing the quality of a communication network. Disclosed is a semiconductor device coupled to the light source, the semiconductor device comprises a signal processing unit and the deterioration of the illumination intensity detector, wherein the signal processing unit is coupled to the interface module and transmitting and receiving a command signal to increase or decrease of the light source, change signal command signal degradation detector based on said interface module of the received data. The timing is falling into the deterioration detection module within a predetermined interval.

【技术实现步骤摘要】
半导体装置、光源控制装置以及光源控制系统相关申请的交叉引用2016年3月4日提交的日本专利申请No.2016-042488的公开的全部内容(包括说明书、附图和摘要)通过引用并入本文中。
本公开涉及调整照明设备的光照的装置。
技术介绍
一方面，近来，主要在欧洲，开发了通过发送遵循数字可寻址照明接口(DALI)标准的信号作为调光指令信号来控制照明设备的系统(照明控制系统)作为照明控制系统。在这方面，日本未经审查的专利申请公开No.2013-4484中提出了遵循DALI标准的照明控制系统。在这个公开中，还提出了估算照明设备的寿命的方法。[相关领域文献][专利文献][专利文献1]日本未经审查的专利申请公开No.2013-4484
技术实现思路
另一方面，用于照明控制系统的通信网络的质量也是重要的。已开发了本公开来解决以上问题，并且本公开意图提供能够诊断通信网络质量的半导体装置、光源控制装置和光源控制系统。其它问题和新颖的特征将根据本说明书中的描述和附图而变得清楚。根据一个实施例，本专利技术属于耦接到光源的半导体装置。半导体装置包括信号处理单元和劣化检测器。信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小光源的照明强度。劣化检测器基于表示通过接口模块接收的指令信号的数据的信号的变化定时是否落入预定区间内来检测接口模块的劣化。根据一个实施例，由于劣化检测器检测接口模块劣化的事实，可以检查并且诊断通信网络质量。还可以延长通信网络的寿命。附图说明图1是说明根据第一实施例的光源控制系统1的配置的图。图2是说明根据第一实施例的控制器10及其外围电路的配置的图。图3是说明根据第一实施例的DALI通信接口模块4的配置的图。图4A和4B是说明根据第一实施例的1比特数据波形的图。图5A和5B是说明根据第一实施例的判断1比特数据波形是否劣化的方法的图。图6A和6B是说明根据第一实施例的判断1比特数据波形是否劣化的另一个方法的图。图7是根据第一实施例执行数据是否劣化的判断的流程图。图8是说明根据第二实施例的用在光源控制系统1中的得分表的一个示例的图。图9A到9D是说明根据第二实施例的得分表的转变的图。图10是说明基于第二实施例的得分表来诊断劣化程度的方法的图。图11A到11C是说明基于作为第二实施例的第一修改示例的得分表来诊断劣化程度的方法的图。图12A和12B是说明根据第二实施例的第二修改示例的判断数据波形是否劣化的方法的图。图13是说明根据第三实施例的控制器10A的图。图14A和14B是说明根据第三实施例调整要从发送器16发送的数据信号的波形的图。图15是说明根据第三实施例的波形调整处理的流程图。图16是说明根据第三实施例的通过服务器2处理的流程图。图17是说明根据第三实施例的修改示例的控制器10B的图。图18A和18B是说明根据第三实施例的修改示例来调整通过接收器17接收的数据信号的波形的图。图19A和19B是说明根据第三实施例的修改示例来调整通过接收器17接收的数据信号的波形的图。图20A、20B和20C是说明根据第三实施例的修改示例的波形调整的具体示例的图。图21A和21B是说明根据第四实施例的判断1比特数据波形是否劣化的另一个方法的图。图22是说明根据第五实施例的判断数据波形是否劣化的方法的图。图23是说明根据第六实施例的一段时间内的得分牌的图。图24是说明根据第六实施例的一段时间内的得分牌的另一示例的图。图25是说明根据第七实施例的光源控制系统的一部分的图。具体实施方式参考附图详细地描述了实施例。为附图中相同或等同的元件分配了相同的附图标记，并且不重复相同或等同的元件的描述。第一实施例<A.总体配置><a1.光源控制系统1的配置>图1是说明根据第一实施例的光源控制系统1的配置的图。参考图1，光源控制系统1包括多个光源块100和服务器2。服务器2经由总线BS2耦接到多个光源块100。通过经由总线BS1发送和接收遵循DALI标准的信号来控制每个光源块100。每个光源块100都包括多个光源3和多个控制器10，多个控制器10中的每个都设置为控制相应的光源3。另外，每个光源块100进一步包括分别地为每个控制器10设置的多个通信接口模块5以及多个DALI通信模块4，其中每个通信接口模块5都设置在总线BS2和该模块所耦接到的控制器10之间，每个DALI通信接口模块4都设置在总线BS1和该模块所耦接到的控制器10之间。现在，没必要将通信接口模块5一对一地分派到控制器10。假设总线BS1和总线BS2遵循不同的通信标准。设置DALI通信接口模块4以使得它们能够经由总线BS2向另一个DALI通信接口模块发出数据或从另一个DALI通信接口模块接收数据。每个控制器10都基于用于打开或关闭光源3的指令信号来控制光源3，其中指令信号经由DALI通信接口模块4中的一个接收。另外，每个控制器10都将信息经由通信接口模块5中的一个发送到耦接到总线BS2的服务器2。此外，设置服务器2以使得服务器2可以经由总线BS2与每个控制器10通信。在本示例中，通过示例的方式例示了设置有N+1个光源3的实例。例如，作为表示第0个到第N个光源3的方式，例如第0个光源3表示为光源3-0。这种方式也适用于其它元件：控制器10、DALI通信接口模块4以及通信接口模块5。<a2.控制器10的配置>图2是说明根据第一实施例的控制器10及其外围电路的配置的图。参考图2，控制器10耦接到光源3、DALI通信接口模块4和通信接口模块5，其中控制器10是半导体装置。设置DALI通信接口模块4以使得能够经由总线BS1通过遵循DALI通信标准的信号与另一个控制器10通信，其中另一个控制器10是另一个半导体装置。设置通信接口模块5以使得能够经由总线BS2使用与DALI通信标准不同的通信标准(例如以太网(注册商标))来与服务器2通信。现在，也可以采用无线耦接方法，不限于有线耦接。控制器10包括驱动电路块11、信号处理单元12和劣化检测器13。在一些情况下，驱动电路块11可以位于控制器10外部。驱动电路块11驱动光源3。信号处理单元12处理经由DALI通信接口模块4接收的信号并且向驱动电路块11给出指令。驱动电路块11根据来自信号处理单元12的指令执行调光控制，诸如打开或关闭光源3。劣化检测器13耦接到信号处理单元12并且检测经由DALI通信接口模块4接收的信号的状况。信号处理单元12耦接到通信接口模块5，并且按需将数据发送到服务器2。现在，未耦接到通信接口模块5的控制器10一旦将数据发送到耦接到通信接口模块5的控制器10，随后数据就经由总线BS2被转送到服务器2。<a3.DALI通信接口模块4的配置>图3是说明根据第一实施例的DALI通信接口模块4的配置的图。参考图3，DALI通信接口模块4包括：二极管桥20，光耦合器21、22，电阻器23、24、25、28、29、31，电容器26，二极管27，齐纳二极管30以及双极型晶体管32。二极管桥20耦接到包括两条线路的总线BS1以及节点N0和N2。控制器10的发送引脚TP经由电阻器23耦接到光耦合器21。光耦合器21包括发光二极管和光晶体管。发光二极管设置在电源电压和电阻器23之间。光晶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种耦接到光源的半导体装置，所述半导体装置包括：信号处理单元，所述信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小所述光源的照明强度；以及劣化检测器，所述劣化检测器基于表示通过所述接口模块接收的指令信号的数据的信号的变化定时是否落入预定区间内，来检测所述接口模块的劣化。

【技术特征摘要】
2016.03.04 JP 2016-0424881.一种耦接到光源的半导体装置，所述半导体装置包括：信号处理单元，所述信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小所述光源的照明强度；以及劣化检测器，所述劣化检测器基于表示通过所述接口模块接收的指令信号的数据的信号的变化定时是否落入预定区间内，来检测所述接口模块的劣化。2.根据权利要求1所述的半导体装置，进一步包括驱动单元，所述驱动单元基于所述信号处理单元所接收的指令信号来控制所述光源的照明强度。3.根据权利要求1所述的半导体装置，其中表示所述指令信号的数据的信号的电位电平根据数据从“H”电平变化到“L”电平或从“L”电平变化到“H”电平。4.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述预定区间的长度是能够根据调整水平来调整的。5.根据权利要求1所述的半导体装置，进一步包括调整器，所述调整器基于所述劣化检测器所检测的结果，来调整表示通过所述接口模块发送和接收的指令信号的数据的信号的变化定时。6.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述劣化检测器基于表示通过所述接口模块接收的指令信号的数据的信号的变化定时以及表示比特边界的信号的变化定时是否落入预定区间内，来检测所述接口模块的劣化。7.一种光源控制装置，包括：信号处理单元，所述信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小光源的照明强度；驱动单元，所述驱动单元基于所述信号处理单元所接收的指令信号来控制所述光源的照明强度；以及劣化检测器，所述劣化检测器基于表示通过接口模块接收的指令信号的数据的信号的变化定时是否落入预定区间内，来检测所述接口模块的劣化。8....

【专利技术属性】
技术研发人员：金子智，家永隆，石井和美，藤井谦雄，郡司高久，
申请(专利权)人：瑞萨电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP