X荧光光谱法检测组件制造技术
X fluorescence spectroscopy for detection of components
The utility model relates to a X fluorescence spectrum detecting component. A detection component of X fluorescence spectrometry including support layer, adsorption layer and protective layer sequentially; the support layer and the edge of the protective layer are connected and sealed to form a containing cavity, and the adsorption layer is coated in the accommodating cavity; the adsorption layer can adsorb the test sample. The detection component of X fluorescence spectrometry, support layer and protection layer are connected to form a holding cavity closed, and the adsorption layer is coated on the accommodating cavity, can be adsorbed and isolated from the outside world, so as to prevent the detection of sample pollution outside; form a closed structure and protective layer through the supporting layer, can also prevent samples in the test drop also can cause damage to the instrument.
【技术实现步骤摘要】
X荧光光谱法检测组件
本技术涉及检测组件
，特别是涉及X荧光光谱法检测组件。
技术介绍
X射线荧光光谱分析是一种现代仪器分析方法，它具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠等优点，因此被广泛用于各种材料的的主量测试。目前，薄膜吸附制样法是比较常用的X射线荧光光谱分析的制样方法，该方法是将样品定量滴加在可吸附样品的基材上，干燥得到检测样品。然而该方法容易造成检测样品的污染，且检测样品在测试中掉落也会对仪器造成损坏。
技术实现思路
基于此，有必要针对X射线荧光光谱分析检测样品易污染和易对仪器造成损坏的问题，提供一种X荧光光谱法检测组件。一种X荧光光谱法检测组件，包括依次层叠的支撑层、吸附层和保护层；所述支撑层与所述保护层的边缘密封连接形成容置腔，并将所述吸附层包覆在所述容置腔中；所述吸附层能够吸附测试样品。在其中一个实施方式中，所述保护层及所述吸附层均为片状，所述吸附层在所述保护层的正投影落入所述保护层。在其中一个实施方式中，所述保护层及所述吸附层均为圆形片状，所述保护层的直径为30mm～32mm；所述吸附层的直径为20mm～25mm。在其中一个实施方式中，所述支撑层为...
【技术保护点】
一种X荧光光谱法检测组件，其特征在于，包括依次层叠的支撑层、吸附层和保护层；所述支撑层与所述保护层的边缘密封连接形成容置腔，并将所述吸附层包覆在所述容置腔中；所述吸附层能够吸附测试样品。
【技术特征摘要】
1.一种X荧光光谱法检测组件，其特征在于，包括依次层叠的支撑层、吸附层和保护层；所述支撑层与所述保护层的边缘密封连接形成容置腔，并将所述吸附层包覆在所述容置腔中；所述吸附层能够吸附测试样品。2.根据权利要求1所述的X荧光光谱法检测组件，其特征在于，所述保护层及所述吸附层均为片状，所述吸附层在所述保护层的正投影落入所述保护层。3.根据权利要求2所述的X荧光光谱法检测组件，其特征在于，所述保护层及所述吸附层均为圆形片状，所述保护层的直径为30mm～32mm；所述吸附层的直径为20mm～25mm。4.根据权利要求3所述的X荧光光谱法检测组件，其特征在于，所述支撑层为矩形片状，且所述支撑层的短边的长度大于所述保护层的直径。5.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄嘉庆，仝晓玲，胡春元，钟原，
申请(专利权)人：广东风华高新科技股份有限公司，广东亿华检测技术发展有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44
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