【技术实现步骤摘要】
一种微波成像系统的幅相校正方法及系统
本专利技术实施例属于微波成像
,尤其涉及一种微波成像系统的幅相校正方法及系统。
技术介绍
微波成像技术采用主动发射微波波段电磁波的方式对物体进行扫描成像,因其能够穿透物体表面而检测藏匿于物体内部的金属或非金属违禁品,且由于其具有辐射剂量小、属于非电离辐射等特点,可广泛应用于安检仪等微波成像系统,用于执行人体安全检查任务。目前较为流行的微波成像技术,通常要通过线性阵列天线得到所有等效天线采集位置处的回波信号组成回波信号集,再将回波信号集发送至安检系统的信号处理设备进行统一成像处理,得到目标物体的图像。在实际应用中,线性阵列天线的各通道之间的方向图、微波能量和初始相位均存在差异,需要对线性阵列天线各通道所采集的回波信号进行幅相校正,才能使各通道的回波信号相干,实现正常成像。然而,目前常用的幅相校正方法通常是利用线性阵列天线各通道所采集的回波信号中的直达波信号进行校正,只能实现对幅度在0度附近的回波信号的校正,无法补偿各通道之间的方向图差异,并且当直达波信号较弱时,校正效果不理想。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种微波成像系 ...
【技术保护点】
一种微波成像系统的幅相校正方法,其特征在于,所述幅相校正方法包括:根据第一预设算法,对线性阵列天线获取的目标物体反射的回波信号在距离向进行数据处理,得到距离向压缩信号;提取所述距离向压缩信号在距离向的最大幅值所对应的距离值;根据所述距离值对所述回波信号进行时延补偿,得到时延补偿信号;根据第二预设算法,对所述时延补偿信号进行数据处理,得到幅相信号;根据所述时延补偿信号和所述幅相信号对所述回波信号进行幅相校正,得到校正回波信号。
【技术特征摘要】
1.一种微波成像系统的幅相校正方法,其特征在于,所述幅相校正方法包括:根据第一预设算法,对线性阵列天线获取的目标物体反射的回波信号在距离向进行数据处理,得到距离向压缩信号;提取所述距离向压缩信号在距离向的最大幅值所对应的距离值;根据所述距离值对所述回波信号进行时延补偿,得到时延补偿信号;根据第二预设算法,对所述时延补偿信号进行数据处理,得到幅相信号;根据所述时延补偿信号和所述幅相信号对所述回波信号进行幅相校正,得到校正回波信号。2.如权利要求1所述的微波成像系统的幅相校正方法,其特征在于,所述第一预设算法包括补0和傅里叶逆变换;所述根据第一预设算法对线性阵列天线获取的回波信号在距离向进行数据处理,得到距离向压缩信号,包括:对所述回波信号的距离向数据的末端进行M倍补0操作,其中,M为正整数;对补0后的所述回波信号的距离向数据作距离向傅里叶逆变换,得到距离向压缩信号。3.如权利要求1所述的微波成像系统的幅相校正方法,其特征在于,所述第二预设算法包括傅里叶逆变换和信号提取;所述根据第二预设算法对所述时延补偿信号进行数据处理,得到幅相信号,包括:对所述时延补偿信号作距离向傅里叶逆变换,得到时延补偿距离向压缩数据;提取所述时延补偿距离向压缩数据中的起始点信号,得到幅相信号。4.如权利要求1所述的微波成像系统的幅相校正方法,其特征在于,所述根据所述时延补偿信号和所述幅相信号对所述回波信号进行幅相校正,得到校正回波信号,包括:根据公式Ec(θ,k,z)=E(θ,k,z)·exp{jk·(d(z)-r0)}·s*(z)/|s(z)|2,计算得到校正回波信号;其中,Ec(θ,k,z)为校正回波信号,E(θ,k,z)为回波信号,exp{jk·(d(z)-r0)}为时延补偿信号,s(z)为幅相信号,*代表共轭。5.如权利要求1所述的微波成像系统的幅相校正方法,其特征在于,所述根据第一预设算法,对线性阵列天线获取的目标物体的回波信号在距离向进行数据处理,得到距离向压缩信号之前,包括:控制线性阵列天线绕预设转轴旋转,以获取目标物体反射的回波信号,所述线性阵列天线与所述目标物体之间...
【专利技术属性】
技术研发人员:祁春超,吴光胜,赵术开,肖千,王爱先,
申请(专利权)人:深圳市太赫兹科技创新研究院,深圳市无牙太赫兹科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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