一种光学相干层析成像系统技术方案

本申请属于光学结构技术领域，提供了一种光学相干层析成像系统，其中，所述光学相干层析成像系统包括：光源、耦合器、参考臂、样品臂、用于放置待测物品的导轨、信号采集设备以及信号处理设备；所述参考臂包括准直透镜以及n个参考反射镜；所述样品臂包括n个样品反射镜组；可以解决目前的光学相干层析成像系统无法实现同时从不同方向对待测物品进行检测的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种光学相干层析成像系统
本申请属于光学结构
，尤其涉及一种光学相干层析成像系统。
技术介绍
光学相干层析成像技术(OpticalCoherenceTomography,OCT)是近十年迅速发展起来的一种成像技术，主要包括时域光学相干层析成像和频域光学相干层析成像。时域光学相干层析成像是第一代OCT，其探测光谱的方式是通过移动参考臂的反射镜的同时检测光强的方式得到样品的深度信息。而频域光学相干层析成像则是利用高速光谱仪间接探测样品反射光与参考光的干涉光谱，经傅立叶变换得到样品的深度信息。频域光学相干层析成像在采集速度及信噪比上都优于时域光学相干层析成像，是目前光学相干层析成像中的主流，具有高速、高分辨率、无创、非接触式测量等优点。然而，目前的光学相干层析成像系统均只能从一个方向对待测物品进行检测，而无法实现同时从不同方向对待测物品进行检测，具有一定的局限性。
技术实现思路
本申请实施例提供一种光学相干层析成像系统，可以解决目前的光学相干层析成像系统无法实现同时从不同方向对待测物品进行检测的问题。本申请实施例第一方面提供一种光学相干层析成像系统，包括：光源、耦合器、参考臂、样品臂、用于放置待测物品的导轨、信号采集设备以及信号处理设备；所述参考臂包括一个第一准直透镜以及n个参考反射镜；所述样品臂包括n个样品反射镜组；所述导轨中的待测物品延导轨的第一位置依次移动到导轨的第n位置；所述n个样品反射镜组分别位于所述导轨的不同方向；其中，n为大于或等于2的整数；所述光源，用于发射宽带光；所述耦合器用于将所述宽带光分束，得到参考光和样品光；所述参考光经所述第一准直透镜准直后，经所述n个参考反射镜分别进行反射得到n个参考反射光，并且所述n个参考反射光依次射入所述耦合器；所述样品光经所述n个样品反射镜分别准直并聚焦后，依次射向位于所述导轨的第一位置到第n位置的待测物品，得到n个样品反射光，所述n个样品反射光经所述n个样品反射镜组射入所述耦合器，并分别与所述耦合器中的n个参考反射光干涉，得到n路包含同一待测物品不同方向的光谱信息的干涉光；所述信号采集设备用于探测所述干涉光，得到干涉信号，并将所述干涉信号传输给信号处理设备；所述信号处理设备用于对所述干涉信号进行处理，得到所述待测物品不同方向的结构图像。本申请实施例中，通过对传统的光学相干层析成像系统的参考臂和样品臂的结构进行改进，使得改进后的光学相干层析成像系统能够实现同时从n个方向对待测物品进行检测，解决了目前的光学相干层析成像系统无法实现同时从不同方向对待测物品进行检测的问题，提高了物品的检测效率。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本申请实施例提供的现有技术中的光学相干层析成像系统的结构示意图；图2是本申请实施例提供的光学相干层析成像系统的第一结构示意图；图3是本申请实施例提供的光学相干层析成像系统的第二结构示意图；图4是本申请实施例提供的可以透射的反射镜的结构示意图；图5是本申请实施例提供的光学相干层析成像系统的第三结构示意图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。如图1所示，为本申请实施例提供的目前的频域OCT成像系统的结构示意图，该频域OCT成像系统可以包括光源110、耦合器120、样品臂130、参考臂140、信号采集设备(例如，光谱仪)160、信号处理设备(例如，计算机)170和样品台180。耦合器120用于将光源110发射的初始光分束，得到参考光和样品光。样品光经过样品臂130入射至放置于样品台180上的待测物品200，并由待测物品200反射，得到样品反射光。参考光由参考准直透镜141将发散的参考光准直为平行光。平行光传输至参考平面镜142，并被参考平面镜142反射形成参考反射光。参考反射光沿着参考光的光路返回至耦合器120，并与样品反射光在耦合器120中发生干涉，得到干涉光。信号采集设备160用于探测该干涉光，得到干涉信号，并将干涉信号传输给信号处理设备170进行处理，从而得到待测物品200的结构图像。由此可以看出，上述频域OCT成像系统只能得到一路干涉光，因此，只能从一个方向对待测物品进行检测，而无法实现同时从不同方向对待测物品进行检测，具有一定的局限性。基于此，本申请实施例提供一种光学相干层析成像系统，可以解决目前的光学相干层析成像系统无法实现同时从不同方向对待测物品进行检测的问题。如图2示出了本申请实施例提供的改进后的光学相干层析成像系统的结构示意图，该光学相干层析成像系统可以包括：光源21、耦合器22、参考臂23、样品臂24、用于放置待测物品的导轨25、信号采集设备26以及信号处理设备27；所述参考臂23包括一个准直透镜231以及n个参考反射镜232；所述样品臂24包括n个样品反射镜组。所述导轨中的待测物品延导轨的第一位置依次移动到导轨的第n位置；所述n个样品反射镜组分别位于所述导轨的不同方向；其中，n为大于或等于2的整数。所述光源21，用于发射宽带光；并且该光源可以为低相干光源。所述耦合器22用于将所述宽带光分束，得到参考光和样品光。所述参考光经所述第一准直透镜231准直后，经所述n个参考反射镜232分别进行反射得到n个参考反射光，并且所述n个参考反射光依次射入所述耦合器22；所述样品光经所述n个样品反射镜组(作为示例，图中仅示出了4个样品反射镜组，分别为样品反射镜组241、样品反射镜组242、样品反射镜组243、样品反射镜组244)分别准直并聚焦后，依次射向位于所述导轨的第一位置到第n位置的待测物品，得到n个样品反射光，所述n个样品反射光经所述n个样品反射镜组射入所述耦合器，并分别与所述耦合器中的n个参考反射光干涉，得到n路包含同一待测物品不同方向的光谱信息的干涉光；具体的，在本申请的一些实施方式中，如图3所示，所述参考光经所述第一准直透镜准直231后，由第一个参考反射镜2321反射得到第一参考反射光，并且，由所述第一个参考反射镜2321透射出的参考光经所述第二个参考反射镜2322反射得到第二参考反射光，由所述第二个参考反射镜2322透射出的参考光经所述第三个参考反射镜2323反射得到第三参考反射光，……，由所述第n-1个参考反射镜透射出的参考光经所述第n个参考反射镜反射得到第n参考反射光。根据光路可逆原理，所述第一参考反射光、第二参考反射光、第三参本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学相干层析成像系统，其特征在于，所述光学相干层析成像系统包括：光源、耦合器、参考臂、样品臂、用于放置待测物品的导轨、信号采集设备以及信号处理设备；所述参考臂包括一个第一准直透镜以及n个参考反射镜；所述样品臂包括n个样品反射镜组；所述导轨中的待测物品延导轨的第一位置依次移动到导轨的第n位置；所述n个样品反射镜组分别位于所述导轨的不同方向；其中，n为大于或等于2的整数；/n所述光源，用于发射宽带光；/n所述耦合器用于将所述宽带光分束，得到参考光和样品光；/n所述参考光经所述第一准直透镜准直后，经所述n个参考反射镜分别进行反射得到n个参考反射光，并且所述n个参考反射光依次射入所述耦合器；/n所述样品光经所述n个样品反射镜组分别准直并聚焦后，依次射向位于所述导轨的第一位置到第n位置的待测物品，得到n个样品反射光，所述n个样品反射光经所述n个样品反射镜组射入所述耦合器，并分别与所述耦合器中的n个参考反射光干涉，得到n路包含同一待测物品不同方向的光谱信息的干涉光；/n所述信号采集设备用于探测所述干涉光，得到干涉信号，并将所述干涉信号传输给信号处理设备；/n所述信号处理设备用于对所述干涉信号进行处理，得到所述待测物品不同方向的结构图像。/n...

【技术特征摘要】
1.一种光学相干层析成像系统，其特征在于，所述光学相干层析成像系统包括：光源、耦合器、参考臂、样品臂、用于放置待测物品的导轨、信号采集设备以及信号处理设备；所述参考臂包括一个第一准直透镜以及n个参考反射镜；所述样品臂包括n个样品反射镜组；所述导轨中的待测物品延导轨的第一位置依次移动到导轨的第n位置；所述n个样品反射镜组分别位于所述导轨的不同方向；其中，n为大于或等于2的整数；
所述光源，用于发射宽带光；
所述耦合器用于将所述宽带光分束，得到参考光和样品光；
所述参考光经所述第一准直透镜准直后，经所述n个参考反射镜分别进行反射得到n个参考反射光，并且所述n个参考反射光依次射入所述耦合器；
所述样品光经所述n个样品反射镜组分别准直并聚焦后，依次射向位于所述导轨的第一位置到第n位置的待测物品，得到n个样品反射光，所述n个样品反射光经所述n个样品反射镜组射入所述耦合器，并分别与所述耦合器中的n个参考反射光干涉，得到n路包含同一待测物品不同方向的光谱信息的干涉光；
所述信号采集设备用于探测所述干涉光，得到干涉信号，并将所述干涉信号传输给信号处理设备；
所述信号处理设备用于对所述干涉信号进行处理，得到所述待测物品不同方向的结构图像。


2.如权利要求1所述的光学相干层析成像系统，其特征在于，所述参考光经所述第一准直透镜准直后，由第一个参考反射镜反射得到第一参考反射光，并且，由所述第一个参考反射镜透射出的参考光经所述第二个参考反射镜反射得到第二参考反射光，由所述第二个参考反射镜透射出的参考光经所述第三个参考反射镜反射得到第三参考反射光，……，由所述第n-1个参考反射镜透射出的参考光经所述第n个参考反射镜反射得到第n参考反射光；所述第一参考反射光、第二参考反射光、第三参考反射光、……、第n参考反射光射入所述耦合器。


3.如权利要求1或2所述的光学相干层析成像系统，其特征在于，所述n个参考反射镜包括：n-1个可以透射的反射镜和一个平面反射镜。


4.如权利要求3所述的光学相干层析成像系统，其特征在于，所述可以透射的反射镜的出射面渡有增透膜。


5.如权利要求2所述的光学相干层析成像系统，其特征在于，当所述导轨中与第一个样品反射镜组对应的第一位置放置有所述待测物品时，所述样品光经所述第一个样品反射镜组准直并聚焦后，射向所述第一位置放置的待测物品，并...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏胜飞，
申请(专利权)人：深圳市太赫兹科技创新研究院，深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44